直流固态继电器测试中的异常失效及解决方法

本文针对直流固态继电器测试中的易发生的异常失效现象，着重分析了测试方法对直流固态继电器的影响，指出了解决异常失效的方法，并给出了相应的测试系统例子。     

基于数字电路模型的继电器控制电路测试技术开发与应用探讨

本文主要对继电器转换为组合逻辑电路模型的原则和方法进行了研究,并使用伪穷举测试方法对转换后的继电器电路进行了测试,研究表明,这种方法能够对继电器控制电路进行有效的建模和分析,并在柴油机遥控系统中验证了模型的适用性,为继电器控制电路测试技术提供了参考。     

HH52P型电磁继电器动态特性监测方法的研究

本文基于LABVIEW开发了一套电磁继电器动态特性监测系统.电磁继电器吸合暂态过程依次为触动阶段、吸动阶段和蓄磁阶段.通过继电器线圈时间常数的动态变化特性可以实现对继电器吸合过程中触动阶段、吸动阶段和蓄磁阶段的辨识.因此,根据时间常数的物理意义,将线圈时间常数和衔铁触动时间的算法嵌入到该监测系统中,达到了对电磁继电器吸合过程动态特性监测的目的.经实际测试,该系统运行稳定,完成了对试品吸合过程动态特性的监测和特性参数的采集分析.     

继电器电磁干扰测试中驱动触发电路的设计

文章对继电器触发电路产生电磁干扰的因素进行了分析;通过试验比较得出在继电器电磁干扰测试中能够准确反映继电器本身电磁干扰的驱动触发电路,为类似无源元器件的电磁干扰测试提供了辅助手段.     

基于TMS320F28335的继电器参数采集系统设计

设计了一种基于新型浮点DSP-TMS320F28335的微型继电器测试系统,该系统通过内部A/D及外部采样电路对继电器线圈电流、触电电压和驱动电源电压的值进行实时采样,得到能反映继电器特性参数的数据。并通过这些数据进行分析处理,最后显示在液晶屏上,并且使用DSP的串口将数据传到PC端。该系统体积小便于携带,功耗低、测试精度高,具有良好的判断电磁继电器性能。     

一种基于ARM处理器的异常处理设计与实现

嵌入式系统要求对异常及中断处理器能快速响应。文中分析了ARM体系结构下异常处理特点,提出一种基于ARM处理器的高效异常处理解决方案,以LPC3250硬件平台为基础,对该方案进行了设计与实现。测试结果表明,该方案的异常处理更为高效。     

基于单片机的继电器参数测试系统设计

由于原有测试系统在参数设置上过于单一,在对继电器测试过程中需要多次进行器件连接,导致对其测试准确度下降,会造成继电器的二次损伤,基于单片机研究继电器参数测试系统的设计方法。在硬件设计上,构建二级模式集散控制框架,利用单片机进行数据采集和处理,满足实时继电器参数数据的同步控制;设计双极性反向比例输出电路,分别利用电极电阻对继电器两侧电压进行放大,实现继电器实时电压的检测。实验结果：以两组类型断电器为测试对象,分别连接示波器进行真实数据采集,在本文系统的应用下所得参数测试结果,与真实的数据相一致,具有实际应用效果。     

某移动TD-SCDMA网络ATU测试FTP掉线问题分析

本文通过对一个ATU数据业务测试的异常事件的分析,介绍了网络总体构架和系统功能,给出了适合的分析方法及具体解决方案,对以后解决类似的问题起到了一定的帮助作用。     

继电器开关矩阵在导弹测试系统中的应用研究

以继电器开关矩阵的性能指标、实现方式以及模拟总线结构,重点描述了继电器开关矩阵在多型号导弹自动测试系统中的应用。通过软件灵活设置而不改动任何硬件,实现了不同测试流程中的多路数据采集,节约了测试系统的走线．增强了系统的可扩展性。     

基于LabVIEW的继电器测试系统的研究

本文讲述了一种继电器测试系统,它基于LabVIEW设计,解决了小电流测量不准确的问题,降低了继电器测试误判率,测量数据准确,使用方便,完全智能化测试,有效地提高了工作效率。     

继电器触点电阻的动态测试

本文介绍的是继电器触点电阻和线圈电流的动态测试装置。首先介绍了触点电阻和线圈电流测试的目的和意义。然后介绍了在继电器测试标准中针对这两个参数的测试原理和方法。之后说明了测试装置的测试原理组成和主要器件的选择。最后对测试软件的设计做了简单说明。     

基于触点状态识别的继电器失效类型判断技术

针对继电器失效误判断问题,提出在继电器电寿命试验中,引入触点状态(接通、断开)识别的图像处理系统,以提高对试品失效类型判断的可靠性。介绍了触点状态识别的图像处理系统硬件组成,阐述了在YCBCR彩色空间下,进行触点以及触点状态识别的算法,并论述了该系统与传统电寿命试验设备相结合,判断继电器失效类型的方法,以达到在继电器失效时,做出辅助判断的目的。     

Kinetics of polarization current in a Pb<Subscript>3</Subscript>O<Subscript>4</Subscript> wide-gap photoconductor

The results of the study of isothermal polarization of Pb₃O₄ high-resistivity semiconductor layers in a dc electric field of various intensities with measurements without and with illumination are presented. To interpret the data obtained, the relay mechanism of charge transport over local states in the band gap is introduced. The values of the parameters describing the relaxation phenomena such as contact capacitance, width of the charge accumulation region, and effective charge mobility are obtained.     

瞬时通断测量仪测量方法

详细分析了继电器抖动测试试验过程,以及在此试验过程中瞬时通断测量仪的作用。在充分讨论瞬时通断测量仪工作原理和波形采集过程的基础上,总结出继电器触点动作时采集点电压变化规律,并提出在测量瞬时通断测量仪中模拟继电器开关动作的方法;同时,通过建立起一套测量此类设备的通用测量装置,解决了此类设备的测试手段和测试方法问题。     

基于超程时间减小速率建模的 电磁继电器可靠性寿命分析方法的研究􀀂

电磁继电器触点的磨损和老化是影响继电器可靠性的重要因素之一。超程时间的减小是电磁继电器触点磨损和老化的主要表现形式。本文提出以超程时间减小速率为随机变量，建立了电磁继电器可靠性寿命分析数学模型，给出了寿命可靠度计算方法。实例计算结果表明，该模型是有效的。     

一种基于图像处理技术的继电器触点间距智能检测方法

基于图像处理技术, 采用嵌入式机器视觉处理系统, 设计了一种用于继电器触点间距的智能检测装置和方法。在硬件方面, 以Cortex-A8处理器为中心, 将控制、处理与测量于一体, 并采用红外光源作为照明系统, 抑制金属触点的光发射; 在算法方面, 以继电器触头静触片的接触点图像区域为特征图像, 并采用多分辨率金字塔分层匹配技术, 实现对检测对象的准确识别和定位, 同时根据继电器内部组件位置的对应关系, 确定继电器触点边缘检测区; 在检测区内, 先采用像素级的边缘检测算法确定两接触点边缘后, 再利用亚像素边缘检测技术, 实现边缘的精确定位, 并检测出继电器触点间的最短距离。本文所提出的方法对继电器质量检测和性能评估具有重要的意义。     

Isothermal polarization in thin-film Al-As<Subscript>2</Subscript>Se<Subscript>3</Subscript>-Al metal-dielectric-metal structures

Results of the study of the kinetics of isothermal polarization current in As₂Se₃ films are presented. In the samples under study, intense relaxation processes related to the accumulation of bulk charge in the metal-semiconductor contact area occur. The experimental results are interpreted using the model of the relay conductivity mechanism.     

基于LabVIEW的LOCOTROL模块测试装置

基于LabVIEW软件开发的LOCOTROL模块测试装置的原理,测控硬件与软件的工作流程.LOCOTROL TRIM/RIM模块综合测试装置包括了继电器触头时间测试、线圈电阻测试、触头电阻测试、逻辑电路测试四个故障诊断模块.程序对采集的数据进行处理后,在触摸显示屏上显示,实现测试参数的实时纪录.结果表明,系统具有测量与控制精度高,自动化程度高等特点.     

半导体器件内离子有效LET值测量方法研究

提出了一种基于电荷收集测试技术的离子有效LET值测量方法.首先对半导体器件内收集电荷量与入射离子有效LET值之间的关系进行了分析,根据二者之间的关系提出通过测量电荷收集量从而测量离子有效LET值的方法;然后建立了半导体器件电荷收集测试系统,利用PN结和SRAM对测量方法进行了验证;最后成功利用该方法解释了以往单粒子效应实验中出现的数据异常.     

Ruthenium and tungsten as contact materials in hermetically plastic sealed telecom- and signal-relays

Palladium is the most frequently used contact material for telecommunication and signal relays. Good contact resistance stability and material transfer characteristics make it the most often used. The strong variation of the palladium price in recent years has made it necessary to look for alternatives. The development of gas-tight plastic sealed relay housings, which keep the gas filling inside the relay for a long time, e.g., more than 10 years for nitrogen and more than 100 years for sulfur-hexafluoride, allows nonprecious metal contact materials to be used, as an inert atmosphere can be kept for the entire life of the relay. Tests were performed with gold covered tungsten and ruthenium contacts mounted in a standard telecom relay filled with N/sub 2/ or SF/sub 6/. Although the contact resistance was always measured with dry circuit conditions applied, no relevant increase was observed during all electrical endurance tests. The ruthenium as well as the tungsten layer with a thickness of only 5 /spl mu/m withstood endurance tests at maximum loads at 30 W. As only minimum contact erosion and material transfer occurred, no contact sticking or bridging was observed. Overall the switching performance of tungsten and ruthenium is similar to PdRu10. As PdRu10 has superior performance especially when operating in an SF/sub 6/ atmosphere, the properties of Ru and W in N/sub 2/ as well as in SF/sub 6/ are at least comparable with all contact materials in current use. Gas-tight plastic sealed relay housings offer the advantages of hermetically sealed housings at an affordable cost.