Flash存储器的内建自测试设计

内建自测试是一种有效的测试存储器的方法.分析了NOR型flash存储器的故障模型和测试存储器的测试算法,在此基础上,设计了flash存储器的内建自测试控制器.控制器采用了一种23位的指令,并且通过JATG接口来控制,结果通过扫描链输出.验证结果表明,设计的内建自测试结构对固定故障、转换故障、桥接故障、耦合故障、栅极干扰、漏极干扰、过渡擦除和读干扰均有100%的故障覆盖率.     

嵌入式微处理器的可测性设计技术研究

文章介绍了一个嵌入式微处理器的可测性设计技术。根据嵌入式微处理器各个组成部件逻辑功能的特点,分别采用了内置自测试(BIST)、部分扫描(PartialScan)、边界扫描(BoundaryScan)等方法完成各个部件的可测性设计,并将符合IEEE1149.1的TAP控制器作为整个微处理器的测试控制器,达到了较优的可测性设计结果。     

基于确定性测试图形的BIST构建方法

为降低内建自测试(Build-in Self Test,BIST)的测试功耗,提出了一种基于确定性测试图形的内建自测试构建方法:首先采用D算法生成测试所需的测试图形,然后使用粒子群算法对其进行优化,使内建自测试的功耗大幅度降低;文中最后以ISCAS'85Benchmark中的部分电路作为实验对象,并给出了测试图形优化前后的功耗数;实验结果证明该方法能够有效降低内建自测试的测试功耗,并且具有方法简单、无需额外硬件开销的特点.     

面向存储器核的内建自测试

存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径。它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成“片上BIST测试结构999作为E-RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责控制功能,实现片上E-RAM的自动测试。根据一个实际项目,本文介绍了MBIST的整体设计过程,并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论。     

基于软件内建自测试模板内容的研究*

受到硬件测试中BIST(内建自测试)技术和可测试性设计的启发,在国家自然科学基金项目“软件内建自测试”中提出了软件内建自测试的思想。给出了模板的程序流程中有效语句的定义、流程的存储格式以及独立路径的计算,此外还对程序变量跟踪链表进行了研究。     

用内建自测试(BIST)方法测试IP核

近几年基于预定制模块IP(Intellectua lProperty)核的SoC(片上系统)技术得到快速发展，各种功能的IP核可以集成在一块芯片上．从而使得SoC的测试、IP核的验证以及IP核相关性的测试变得非常困难，传统的测试和验证方法难以胜任。本文通过曼彻斯特编码译码器IP核的设计、测试，介绍了广泛应用于IP核测试的方法一内建自测试fBuilt—In SeIf Test)方法，强调了面向IP测试的IP核设计有关方法。     

程序插装技术在软件内建自测试中的应用

软件内建自测试(Build-In-Self-TestforSoftware)思想来自于硬件内建自测试。其中测试点设置是软件内建自测试系统的核心模块之一,主要借助程序插装技术收集动态测试信息和控制程序流程。该文具体讨论了插装库的设计、实现以及测试点植入被测程序的过程。     

基于内建自测试的测试向量生成方法

内建自测试(BIST)方法是目前可测性设计(DFT)中最具应用前景的一种方法。BIST能显著提高电路的可测性,而测试向量的生成是关系BIST性能好坏的重要方面。测试生成的目的在于,生成可能少的测试向量并用以获得足够高的故障覆盖率,同时使得用于测试的硬件电路面积开销尽可能低,测试时间尽可能短。本文对几种内建自测试中测试向量生成方法进行了简单的介绍和对比研究,分析各自的优缺点,并在此基础上探讨了BIST面临的主要问题和发展方向。     

一种嵌入式存储器内建自测试电路设计

随着存储器在芯片中变得越来越重要和半导体工艺到了深亚微米(deep-sub-micron,DSM)时代,对存储器的故障测试变得非常重要,存储器内建自测试(memory built—in self—test,MBIST)是一种有效测试嵌入式存储器的方法;给出了一种基于LFSR的存储器内建自测试电路设计,采用LFSR设计的地址生成器的面积开销相当小,从而大大降低了整个测试电路的硬件开销;16×32b SRAM内建自测试电路设计实验验证了此方法的可行性,与传统的方法相比,它具有面积开销小、工作速度快和故障覆盖率高等优点。     

软件内建自测试中模板内容的研究和实现

软件内建自测试是软件测试和可测性设计研究领域中的一个新概念,其思想来源于硬件内建自测试BIST(BuildinSelfTest)。软件内建自测试为程序员提供一套预先设计好的模板,由模板对所编写的程序植入测试信息,实现软件内建自测试以解决软件测试难的问题。模板是软件内建自测试系统的基石,其内容关系到整个系统的性能和效果。具体讨论了模板的实现,根据软件故障模型对代码进行改装,从而减少程序出错的概率,同时为软件内建自测试系统中测试用例的生成提供了更丰富的信息。     

一种基于内置合约检查和可配置接口的软构件测试技术*

从构件使用者和开发者的角度分析构件及构件化软件的测试,利用B. Meyer的合约化软件设计思想作为构件测试的理论基础,并在其上面进行了扩展与改进,提出了一种基于内置合约检查和可配置接口的构件测试技术。该方法的优点是：当构件被部署到新的系统环境中时,能够自动测试其服务端是否遵守彼此之间合约,并验证自身在运行阶段履行其所声明的义务的能力;利用可配置接口,可以根据所部署环境和特定系统的需求,动态地选择测试强度;当构件集成出现问题时,能够从抛出的异常信息定位到出错的位置。     

基于CANopen协议多通道温度测量模块的研发

CAN总线广泛应用于工业现场,开发基于CANopen协议温度测量模块具有一定的现实意义。采用内嵌CAN控制器的微处理器设计方案,开发以单片机为核心、基于CANopen协议的多通道温度测量模块,阐述了模块的硬件结构、关键电路和嵌入式软件组成。最后,给出模块通过测试验证的CANopen从节点通讯功能。     

A Model-Based Controller for Interactive Delayed Haptic Feedback Virtual Environments

This paper addresses the stability of time-delayed force-reflecting displays used in virtual reality interactive systems. A novel predictive-like approach is proposed. The developed solution is stable and robust. Neither time delay estimation nor time delay behavior's knowledge are required. The controller applies to constant or time-varying delays without any adaptation. In this research, efforts are devoted towards making results easy to implement in commercial haptic libraries and interface build-in controllers. Moreover, although this study focuses on virtual environments haptics, it can easily spread to force feedback teleoperators.     

一种基于托架的自蜕变主动防御网络框架

传统的防御技术存在静态和被动的特性,即系统以及安全机制在一段时间内相对固定,攻击方可持续对一个固定的目标进行研究和尝试,总能找到弱点进行攻击。为了提高安全防御的主动性,国际上启动了若干力图“改变游戏规则”的研究计划,MTD（moving target defense）以及拟态防御是新兴的主动防御思路的代表。然而,要达到主动防御的目的,除了需要在关键环节采用相关的单点技术外,还需要一种框架,使各层主动防御机制能够有机地协同,形成一个总体可变可控的主动防御体系,并且使得不具备内生性主动防御机制的传统信息系统也能在这种框架上运行,并得益于主动防御机制所带来的防御能力提升。本论文提出了一种可以有效整合不同层面的主流主动防御技术和机制,并兼容传统应用的框架：自蜕变主动防御网络框架,该框架可实现内生与外加式主动防御技术的有机整合,多层次、多粒度主动防御技术的整合,兼容传统的不具备内生性主动防御特性的应用,并可为将来形成新一代内生性主动防御网络体系架构提供借鉴。     

基于单片机控制的HID车灯控制器研究与设计

分析车用HID灯的启动及过渡过程,提出一种HID灯控制器控制策略,内置单片机微处理器,能自动识别冷热灯类型,并藉此做出对应的控制策略,给出控制器设计思路,分析电路图原图,讨论软件控制流程编写算法,并给出流程图.样机测试效果良好,性能稳定.     

某型机载武器信号模拟台的设计与实现

针对某新型机载武器参数测试需求的迫切性以及目前测试方法和设备不能满足试飞测试需求的问题,以HT-LX800AMD芯片工控主板为核心处理单元,采用模块化设计技术,完成了武器信号模拟台硬件和软件设计,成功解决了该型机载武器待测参数种类多、地面复现困难等难题,实现了对武器参数采集器各要求项目的自动测试功能和自检功能。该信号模拟台已成功得到应用,实践表明,模拟台能够满足该型武器参数测试系统的自检需求,具有测试精度高、运行稳定、可扩展性好等特点。     

Control of the INFANTE AUV using gain scheduled static output feedback

The paper describes the design and experimental testing of a control system for the INFANTE AUV in the horizontal plane. The methodology adopted for controller design is nonlinear gain scheduling control, whereby a set of linear finite static output feedback controllers are designed using linear matrix inequality (LMI)-based techniques and scheduled on the vehicle's forward speed. The paper summarizes the basic controller design steps, describes a technique for practical implementation of the nonlinear control system derived, and presents experimental results obtained with the AUV during tests at sea.     

LOCST: A Built-In Self-Test Technique

A built-in self-test technique utilizing on-chip pseudorandom-pattern generation, on-chip signature analysis, a ``boundary scan' feature, and an on-chip monitor test controller has been implemented on three VLSI chips by the IBM Federal Systems Division. This method (designated LSSD on-chip self-test, or LOCST) uses existing level-sensitive scan design strings to serially scan random test patterns to the chip's combinational logic and to collect test results. On-chip pseudorandom-pattern generation and signature analysis compression are provided via existing latches, which are configured into linear-feedback shift registers during the self-test operation. The LOCST technique is controlled through the on-chip monitor, IBM FSD's standard VLSI test interface/controller. Boundary scan latches are provided on all primary inputs and primary outputs to maximize self-test effectiveness and to facilitate chip I/O testing. Stuck-fault simulation using statistical fault analysis was used to evaluate test coverage effectiveness. Total test coverage values of 81.5, 85.3, and 88.6 percent were achieved for the three chips with less than 5000 random-pattern sequences. Outstanding test coverage (≫97%) was achieved for the interior logic of the chips. The advantages of this technique, namely very low hardware overhead cost (≪2%), design-independent implementation, and effective static testing, make LOCST an attractive and powerful technique.     

Defining and classifying IT interaction disability

Many people have significant difficulties while using information technology (IT) devices. This study suggests a new concept of IT interaction disability (ITID) to understand the significant difficulties that users may encounter while using IT devices. The task, interface, and context (TIC) framework for classifying the types of ITID is also developed; this framework includes three components: tasks, user interface elements, and context factors. A case study in which visually impaired people used smartphones was conducted to illustrate the types of ITID and to show the applicability of the TIC framework. The result of this study can provide insights to researchers to improve the understanding of the significant difficulties of using IT devices and to analyse these difficulties systematically.     

PCI9054本地总线控制可编程逻辑设计

PCI总线是一种高带宽、独立于CPU的高性能总线，总线接口控制器的设计是其应用的关键所在。本文在介绍PCI9054接口控制器的基础上，用可编程逻辑设计出了PCI9054本地总线接口控制，从而很容易地实现了PCI9054本地总线与本地总线设备之间通信和数据传输。