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1.
基于米氏散射及夫朗和费衍射的FAM激光测粒仪 总被引:2,自引:0,他引:2
提出了综合运用夫朗和费衍射和米氏散射,即在大粒径范围内采用夫朗和费衍射理论,而在小粒径范围内采用米氏散射理论,来改善小粒径范围内的测量精度,保证激光测粒仪在整个粒径范围内的测量精度。 相似文献
2.
选了四种不同平均粒径的B4C粉末分别用激光衍射法仪中Fraunhofer(夫朗和费)衍射和Mie(米氏)散射光学模型测量其粒度分布和平均粒度,结果表明,对于粒径界于10-15μm之间的粉末,无需知道材料对光的折射率和吸收率,其应用Fraunhofer衍射理论测理的结果与应用Mie散射理论测得的结果近似,但分布线有一定的区别,对于>15μm粉末,在两种模型下分布曲线与平均粒径皆接近;而对于<10μm的粉末,必须采用Mie散射光学模型,并需预先知道材料的光学特性。 相似文献
3.
用激光散射法测量大颗粒时使用衍射理论的误差 总被引:8,自引:0,他引:8
从实验数据,物理和几何光学的定性分析及Mie理论的严格计算等三个方面证明了即使是远远大于光波长的颗粒的散射光场,其实际光能分布与衍射理论给出的结果之间也有不可忽略的误差;表现出较大散射角上实际的央求我能远大于衍射理论光能,按照衍射理论的计算结果,这一误差等效于1μm左右的颗粒产生的光能分布,如果颗粒对光具有吸收性,则误差将显著减少。 相似文献
4.