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IC制造工艺与光刻对准特性关系的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
针对光刻对准特性,从单项工艺和工艺集成的角度,分析了影响光刻对准的各个主要因素,包括对准标记、工艺层、隔离技术等,提出了一些改善光刻对准效果的方法。 相似文献
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日本三菱电气公司新近开发了 a-Si TFT 的新工艺,为实现高性能 TFT LCD 创造了条件。下面作一介绍。1.制作工艺(1)TFT 结构TFTs 具有反相交错结构,图1为a-Si TFT 的剖面图。TFT 的 W/L 比为12μm/12μm。TFT LCD 的象素节距是318μm(V)×106μm(H),开口率为60%。 相似文献
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TFT—LCD的基本结构和TFT制造技术1引言随着信息社会的高度发展,用于人─—机联系的显示越来越重要了。由于计算机趋向于小型化,因此,与计算机连接的显示器件也要求体积小、重量轻、耗电少。从根本上来说,就是要以新的显示器件来取代持续40多年唱主角的C... 相似文献
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半导体集成电路制造中,光刻工艺是整个制造过程中的核心技术.而光刻掩模(Reticle,Photomask)则为光刻技术中的最为关键的部件.随着半导体生产技术的不断提升,光刻掩模对静电放电敏感度也越来越高,如何防护光刻掩模避免遭受静电放电的损坏,已成为目前半导体集成电路制造中的一项挑战. 相似文献
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2003年下半年起英特尔等世界顶级IC公司陆续量产90nm芯片,比国际半导体技术蓝图ITRS2001/2003要求2004年实现90nm工艺的规划提前了一年。2005年底、2006年初世界半导体市场“霸主”英特尔量产65nm芯片,比ITRS2003要求2007年实现65nm工艺的规划整整提前了一年,两者如出一辙。光刻工艺是量产90/65nm芯片最重要、最关键的工艺之一,也是使用频率最高的工艺,如90/65nm铜互连需8层金属布线,那至少要进行15次光刻,因为金属互连层间还需绝缘层隔离。目前光刻工艺能量产的只有光学光刻技术,它是通过不断缩短曝光波长(λ)、增大数值孔径(NA)和降低工艺因子(k1)来提高其水平,从而达到不断缩小芯片的特征尺寸的目的,如从90nm——65nm。 相似文献
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Yong In Park Tae Jun Ahn Sung Ki Kim Jae Yong Park Juhn S.Yoo Chang Yeon Kim Chang Dong Kim 孙海涛 《现代显示》2003,44(6):20-23
我们提出并开发了一种先进的6步光掩模工艺,可用于制备有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)中p型沟道多晶硅薄膜晶体管(TFT)面板。通过去除电源线(Vdd)和触排(bank)光处理工艺,将8步掩模简化至6步。通过6步光掩模工艺制备的p型沟道TFT,场效应迁移率可达80cm2/Vsec,亚阈值(sub-threshold)电压波动降至0.3V/dec,阈值电压约为-2V。利用6步光掩模工艺成功地获得了采用电压驱动方式的7英寸WVGA(720×480)AMOLED面板。 相似文献
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《现代表面贴装资讯》2009,(5):36-37
水清木华日前发布了2009年全球TFT—LCD设备行业市场报告,报告中指出,从2009年1季度到2011年4季度,全球新投入的TFT—LCD生产线有三星的第二条8代线、LG的8代线、友达的一条7.5代线和一条8.5代线、奇美的一条8代线、群创的6代线、夏普的10代线、京东方的合肥6代线,IPS ALPHA的8代线。此外,京东方在8月底宣布投资280亿人民币建设8代线,昆山龙飞光电投资33亿美元建设8.5代线,昆山龙腾光电32亿美元建设8代线,夏普南京建设8代线。 相似文献
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本文叙述了一种低温制造透明电极的技术.该技术能克服高温喷二氧化锡产生变形的缺点。从而满足了彩色PDP显示器的要求。另一方面.也叙述了汇流电极的制造方法。同时.也指出了光刻技术和印刷技术在彩色PDP显示器上的重要应用。 相似文献
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随着超大规模集成电路 (VLSI)图形密度的增大 ,邻近效应已成为光学光刻的关键问题之一。通常在平整硅片上对 0 5 μm图形采用 0 5 4NA和传统的单层i线抗蚀工艺时 ,密集图形和孤立图形间的线宽差异大约为 0 0 8μm。然而 ,这一线宽差异已严重地影响了实际生产的工艺稳定性。阐述了邻近效应对图形尺寸、线条与间隙占空比、衬底膜种类、曝光过程的散焦效应、与抗蚀剂厚度变化有关的抗蚀工艺条件和显影时间的依赖性。同时 ,采用 2种不同抗蚀剂实验监测了不同潜像对比度引起的关键尺寸 (CD)偏差。为减小实际图形因抗蚀剂厚度变化引起的CD差异 ,获得最佳抗蚀剂厚度 ,进行了一种模拟研究。 相似文献