快离子导体Na2＋xZr2—xYbxSiP2O12系统的研究

以高温固相反应制备了 Na_(2 x)Zr_(2-x)Yb_xSiP_2O_(12)系统的合成物,确定了它们的相组成以及 Nasicon 单纯相的范围。计算了系统合成物的晶胞参数,测定了它们从室温至400℃的电导率。x=1.5的合成物具有最好的导电性,在300℃时其电导率为3.65×10~(-2)(Ω·cm)(-1),在200～400℃温区内其活化能为26.36 kJ/mol。     

LiH—LiF—P2O5系非晶态快离子导体的电性能与核磁共振研究

测试了LiH-LiF-P_2O_5系非晶态快离子导体材料的交流电导率;分析了样品的交流阻抗谱并确定了对应的等效电路。同时采用~7LiNMR和~1HNMR方法讨论了材料中Li~+离子的迁移行为和H~-离子的结构状态。     

用MCs^＋—SIMS技术研究Ti／Al2O3界面的组分分布

将ＭＣｓ＾＋－－ＳＩＭＳ技术应用扩展到了金属／绝缘体（Ｔ ｉ／Ａｌ２Ｏ３）界面分析。实验表明，选用ＭＣｓ＾＋进行分析时，克服了界面效应，取得了较好的组分分布的分析结果。随退火温度升高（室温，３００，６００，８５０℃）界面逐渐展宽，说明界面两边存在互扩散或发生了反应，且互扩散随退火温度升高而逐渐加强。随着退火温度升高，ＡｌＣｓ＾＋的信号逐步进入Ｔｉ层相应区域中，并形成两层平台，表明Ａｌ逐渐扩散到Ｔｉ     

佼凝胶法合成Li4.4Al0.4Si0.6O4—xLi2O及电导性能

用溶胶－凝胶法制备了Li4.4Al0.4Si0.6O4-xLi2O(x=0.00-0.50）离子导体材料,并用DTA－TG、XRD、及交流阻抗等技术对样品进行了测试,结果发现：用溶胶－凝胶法可降低Li4.4Al0.4Si0.6O4的合成温度;随Li2O的掺入可增强基质材料的致密性并提高了其离子的导电性能。     

Li2O-SiO2-V2O5-P2O5体系的锂快离子导体的研究

运用混料均匀设计方法,设计了四元体系Li2O-SiO2-V2O5-P2O5的实验配方,找出其中电导率最佳的区域以及电导率随配方的分布变化规律.试验验证点的实测值与预测值相当,得到的室温电导率达到10-5S/cm.     

CuI—Cu_2O—WO_3系统中亚铜离子传导玻璃的形成和结构

采用双辊快速急冷技术研究了 CuI-Cu_2O-WO_3系统玻璃的形成范围,发现该系统的形成区主要位于二元系统 Cu_2O-WO_3和准二元系统 CuI-Cu_2WO_4附近。差热分析(DTA)测定了玻璃的转变温度(Tg)和结晶温度(T_c),实验发现可能有某些亚稳晶相存在。红外和 Raman 光谱的结构分析表明该系统玻璃结构主要是由分离的 Cu~+,I~-,WO_4~(2-)和 W_2O_7~(2-)等离子和基团构成。     

Na-Sn掺杂Bi2O3-ZnO-Nb2O5陶瓷的性能

研究了Na+替代Bi3+、Sn4+替代Nb5+对Bi2(Zn1/3Nb2/3)2O7陶瓷烧结特性、显微结构和介电性能的影响.结果表明,替代后样品的烧结温度从1000℃降低到860℃;在-30～130℃样品出现明显的介电弛豫现象;弛豫激活能在0.3eV左右.用缺陷偶极子和晶格畸变对Na-Sn掺杂Bi2(Zn1/3Nb2/3)2O7的介电弛豫现象进行了解释.     

H2O—N2,H2O—H2O混合气体中H2O分子谱线的压力展宽系数

本文用改进的Ｂｕｃｋｉｎｇｈａｍ势模型，用ＩＯＳ方法计算了Ｈ２Ｏ－Ｎ２－Ｈ２Ｏ－Ｈ２Ｏ混合气体中Ｈ２Ｏ分子谱线在常温下的压力展半宽度，我们的计算结果与现有的实验值符合得较好。说明我们所采用的方法和势模型是比较成功的。     

La2O3—Li2O—B2O3三元系玻璃网络结构的研究

本文用闰曼及红外光谱和差热曲线研究了Ｌａ２Ｏ３－Ｌｉ２Ｏ－Ｂ２Ｏ３三元系玻璃的微观结构，着重研究了锂和镧的氧化物的引入对硼的配位数及玻璃网络结构的影响，发现Ｌｉ２Ｏ和Ｌａ２Ｏ３伯作用相似，它们的增加都会使玻璃网络的基本基团四硼酸盐基团－二硼酸盐基团－偏硼酸盐基团演变。     

Eu3+掺杂Nb2O5-La2O3-P2O5-Na2O-BaO玻璃的光谱性质

制备了χNb2O5-(10-χ)La2O3-60P2O5-10Na2O-19BaO-Eu2O3(以mol%记χ=9、7、5)的玻璃,测定了玻璃的吸收光谱、发射光谱、激发光谱、声子边带谱和差热分析曲线.从发射光谱出发获得了Eu3 光学跃迁的J-O参数Ω2、Ω4,并计算了Eu3 离子5DO→7FJ(J=1,2,4)的自发辐射跃迁几率A以及受激发射截面σp.结果显示,随着La2O3的增加和Nb2O5的减少,玻璃样品的热稳定性降低,强度参数Ω2减小,表明材料的对称性提高,共价性减弱,Eu-O键强减弱;随着La2O3的增加,电-声子偶合减弱,受激发射截面σp减小.     

Ta2O5薄膜的离子敏感特性

用磁控溅射法制备了Ｔａ２Ｏ５薄膜，再用Ｃ－Ｖ法和ＪＦＥＴ外接薄膜电极法研究其稳定性和离子响应灵敏度。实验发现，在纯氧中沉积的厚２００ｎｍＴ２Ｏ５薄膜有较高的离子响应灵敏度，实验发现，在纯氧中沉积的厚２００ｎｍＴ２Ｏ５薄膜有较高的离子响应灵敏度和良好的稳定性。     

高温下H2O—N2,H2O—H2O混合气体中H2O分子谱线的半宽度

本文用ＩＯＳ方法和我们改进的Ｂｕｃｋｉｎｇｈａｍ势计算了Ｈ２Ｏ－Ｎ２，Ｈ２Ｏ－Ｈ２Ｏ混合气体中Ｈ２Ｏ分子谱线在高温下（６００Ｋ，９００Ｋ，１２００Ｋ，１５００Ｋ）的压力加宽半宽度。分析了谱线半宽度随温度变化的规律，同时也讨论了半宽度与加宽和补加宽分子大小的关系。