电磁继电器使用方的寿命试验

文章介绍了通用规范所规定的电磁继电器的寿命试验要求。主要阐述使用方如何确定综合寿命试验方案,以保证其可靠性水平,达到降低其失效率的目的。     

WZC—1型继电器机械寿命可靠性试验装置

随着电力系统规模的不断扩大和自动化程度的逐步提高,对保护继电器及装置的可靠性要求越来越高,这样,传统的继电器试验装置已不能有效而准确的考核产品的性能。例如目前国内广泛用于考核继电器机械寿命所采用的链式电路,不能有效、准确地检测触点信号,同时自动化程度又低。本文设计的利用微机进行控制与检测的WZC-1型继电器机械寿命可靠性试验装置(以下简称装置),克服了以上缺点。试验结果表明:该装置工作稳定,抗干扰能力强,功能较全;同时该装置造价低,操作方便,易于普及推广,对继电器可靠性指标的考核工作有较大的应用价值。装置的主要技术性能如下: 1.能检测32台继电器,每个继电器可检测4个触     

GaAs器件寿命试验及其方法比较

本文介绍了加速寿命试验方法的理论基础,并针对GaAs器件慨述了几种常用的寿命试验方法及其数据处理模型,在阐述了加速寿命试验的实施过程后,对几种寿命试验方法进行了比较,并明确其各自的优缺点,指出研究既快速又准确的加速寿命测方法对于GaAs PHEMT器件的可靠性保证具有非常重要的意义.     

寿命试验可靠性数据

一个器件可靠性的定义是:在设计规定条件下,在规定的时间内,完成其功能的概率。如今对集成电路的可靠性水平要求高,使得在使用应力条件下测定器件的可靠性,花费时间长且费用高,因而实际上难以实现。 能够解决这些矛盾关系的实用方法是采用加速寿命试验,也就是让器件所工作的应力水平,比它们在典型应用中正常经历到的高。 寿命试验一般是在提高温度和最大推荐的工作电压下进行的,目的是加速那些涉及到温度和电应力条件的,与时间有关的失效机理,寿命试验是预测器实际现场应用失效率的主要方法。     

铝电解电容器的耐久性试验和寿命试验

主要讨论了铝电解电容器在工作状态下的耐久性能，以及其期望寿命和贮存寿命。分析结果是基于长期试验而得来的。     

基于超程时间减小速率建模的 电磁继电器可靠性寿命分析方法的研究􀀂

电磁继电器触点的磨损和老化是影响继电器可靠性的重要因素之一。超程时间的减小是电磁继电器触点磨损和老化的主要表现形式。本文提出以超程时间减小速率为随机变量，建立了电磁继电器可靠性寿命分析数学模型，给出了寿命可靠度计算方法。实例计算结果表明，该模型是有效的。     

威布尔分布下VFD恒定应力加速寿命试验与统计分析

为了精确地估计真空荧光显示器(VFD)的可靠性寿命,节省试验测试时间,通过建立加速寿命试验模型开展了4组恒定应力加速寿命试验,采用威布尔函数描述VFD寿命分布,利用最小二乘法(LSM)估计威布尔参数,完成了试验数据的统计分析,并自行开发了寿命预测软件,确定了加速寿命方程,实现了VFD的寿命估计。数值结果表明,试验设计方案是正确可行的,VFD的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合线性阿伦尼斯方程,每个加速应力水平下VFD的失效机理不变,精确计算出的VFD寿命对其生产厂商和技术人员具有重要的指导意义。     

动圈扬声器损坏限制上限功率及寿命分布研究

分析了动圈扬声器的损坏机理和失效类型,通过一系列扬声器的功率试验,提出了扬声器的寿命分布模型,并讨论了扬声器损坏限制的上限功率。     

基于威布尔分布的某半导体器件贮存寿命分布规律初探

对有机电致发光二极管（Organic Light-Emitting Diode,OLED）微型显示器件进行90℃、80℃、70℃的高温贮存试验,获得产品的失效数据。基于威布尔分布模型,采用最小二乘法进行参数估计,对失效数据分析,获得OLED微型显示器件失效分布函数。应用经典可靠性理论,计算产品在90℃、80℃、70℃的特征寿命、可靠寿命及平均故障间隔时间（Mean Time Between Failure,MTBF）。采用Arrhenius模型,依据90℃、80℃、70℃的贮存特征寿命,获得常温下产品的贮存特征寿命。分析结果表明,该方法合理、简便、有效,数据结果可以进一步应用到推导产品常温贮存寿命。     

乙醇气敏传感器寿命分布研究

通过ＱＭ－Ｙ２型旁热式乙醇氧化传感器的工作寿命试验和试验数据的处理,获得了该型传感器的寿命分布和分布参数以及可靠性水平,为评价和提高该气敏传感器的可靠性水平提供了依据。     

产品寿命分布的统计推断

对产品的寿命分布做出可信赖的统计推断是可靠性工程界亟待解决的问题之一。本文在结合实际工程问题的基础上，应用数理统计和优化算法理论，对产品寿命分布的统计推断问题进行了，从而提高了一种行之有效的方法。     

基于BP神经网络的产品寿命分布类型选择

产品寿命分布类型选择问题,是可靠性工程中的一个重要问题。在分析了几种可靠性寿命分布类型识别方法的基础上,设计了一种基于BP神经网络的可靠性寿命分布类型选择方法,并进行了计算机模拟验证。结果表明,该方法原理简单,算法易以实现,便于工程应用。     

电子产品加速寿命试验研究

电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理...     

声表面波滤波器寿命分布研究

针对声表面波器件产品的失效分布、产品特性参数随时间的变化等因素,造成难以准确预测器件在特定条件下的产品可靠性的问题,该文以声表面波滤波器（SAWF）为基础,设计并搭建了器件寿命试验平台,借助该试验平台进行了两种型号SAWF的温度步进和功率步进寿命试验。通过寿命试验发现,SAWF在145 ℃附近产生频率变化的拐点,温度超过频率变化拐点时,插损严重变化;同时试验还发现中小功率信号对SAWF电性能无明显影响。     

二极管的加速寿命试验

加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。     

步进应力加速寿命试验数据处理方法研究

本文用ＤＢＡＳＥ语言编制了特征值时序处理程序，提出了用时序处理步进应力加速寿命试验数据的新方法。     

浅谈对集成电路加速寿命试验的认识

老炼、稳态寿命等加速寿命试验是衡量集成电路使用寿命的主要手段。文中简要介绍了集成电路的主要可靠性指标——FIT,呈现集成电路失效特征的"浴盆曲线",以及不同失效阶段的主要影响因素、失效率与时间相关的统计分布特征。在此基础上,文章对老炼和稳态寿命的试验目的进行了说明,并列出稳态寿命试验的等效试验条件表以及通过该试验的集成电路使用寿命的一些参考数据。