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石墨层间化合物稳定性的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
用喇曼散射方法观察了HClO_4、HNO_3、H_2SO_4—石墨层间化合物(GIC)的阶次状态随时间的变化,采用a面及c面入射观察。到HClO_4—GIC的阶次变化过程中ClO_4~-的溢出现象,据此认为层间化合物的阶次不稳定是由于插入的离子与石墨层间的分子力作用较弱。 相似文献
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石墨层间化合物的合成和应用 总被引:5,自引:1,他引:5
石墨层间化合物(Graphite Intercalation Compound,简称GIC)是一种重要的化合物,广泛用于各种科学和生活领域,本文介绍了石墨层间化合物合成及其在密封,环保,医药,阻燃等方面的应用。 相似文献
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石墨层间化合物(GICs)材料的研究动向与展望 总被引:4,自引:1,他引:4
1.前言石墨的晶体结构,在碳原子面上以SP~2杂化轨道电子形成的共价键及P_z轨道电子形成的金属键相连结,从而形成牢固的六角网状平面。碳原子间具有极强的键合能(345kJ/mol);而在碳原子平面间,其结合则是弱的范德瓦尔键(键能16.7kJ/mol)。这种层状结构的特点决定了石墨一系列的理化特性,同时也提供了其它物质插入碳原子平面间,从而形成一类新型材料的可能性。后者就是所谓的石墨层间化合物GlL_(?)(Graphite Intercalation Compounds)。 相似文献
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石墨层间化合物阶结构的标定方法 总被引:4,自引:0,他引:4
阶作为表征石墨层间化合物的主要参量之一,在对石墨层间化合物的结构研究中起着重要作用。本文依据晶体材料X射线分析原理,结合石墨层间化合物的结构特性,对几种阶结构的标定方法进行了介绍和分析。 相似文献
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石墨层间化合物在插层过程中阶的转变模式 总被引:2,自引:1,他引:1
应用原位XRD(X射线衍射)法,研究了石墨层间化合物(CIC)在插层过程中阶次的转变模式。结果表明:不同的插层体系和插层条件产生不同的成核和扩散情况,从而导致在插层过程中试样的不同阶次转变模式。 相似文献
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混酸插层制备膨胀石墨研究 总被引:1,自引:1,他引:0
对采用H2SO4-HNO3-KMnO4-H2O2混酸氧化插层体系制备膨胀石墨进行了研究,采用扫描电镜(SEM)、X射线衍射(XRD)、红外光谱(IR)和热重一差热法(TG-DTA)分析产物,并提出了氧化插层过程和机理。分析表明:插入剂的插入破坏了原有鳞片石墨层的紧密结构,使碳层间距增大,高温膨胀后,膨胀石墨呈蠕虫状或手风琴状蓬松结构,一个石墨蠕虫由许多微胞连接在一起组成,微胞之间呈现较大的狭缝裂开。氧化插层破坏了鳞片石墨原有的晶体结构,但是未破坏石墨的C—C键,20=29.5。处的特征峰是由石墨插层物结晶区引起的。可膨胀石墨片层。间存在SO4^2-、NO2阴离子插层物。可膨胀石墨在500℃之前的热失重和267℃附近较小的放热峰,均是由石墨插层物的气化、分解所致。 相似文献
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超声波法制备高岭石插层复合物 总被引:2,自引:1,他引:2
用超声波法制备了高岭石插层复合物.利用红外光谱、X射线衍射和透射电子显微镜分析了不同产地高岭石结构的差异、插层效果以及它们之间的关系.比较了不同类型插层剂与高岭石的插层产物、插层效果及插层机理.结果表明:相同条件下,多水高岭石(埃洛石)和结构压力大的管状高岭石比普通高岭石更易于插层.在60℃,3 h,超声波条件下,将高岭石/二甲基亚砜(dimethylsulphoxide,DMSO)作为媒介,采用两步插层法快速制备高岭石/乙醇前驱体,但DMSO的插层率优于乙醇的.甲醇钠与苏州高岭石作用后,使部分苏州土片层间剥离. 相似文献
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从原料的选择、配方确定、生产工艺控制关键等方面对高导热石墨砖的研制开发过程进行了阐述。同时,结合大型高炉炉身、炉腹的破损机理、温度分布等特点,对应用在大型炼铁高炉上的高导热石墨砖特性和优点进行了说明,并与国外相关产品的理化性能进行了比较。指出所研制开发的高导热石墨砖完全可以替代国外同类产品,可以很好地用于大型高炉的砌筑和使用。 相似文献