关于雷达系统BIT模块化工作的考虑

文章在总结某雷达ＢＩＴ研制经验的基础上，针对国防科工委准备开展的“雷达系统ＢＩＴ模块化工作”，提出了若干设想和建议。从保证作战效能的观点出发，强调ＢＩＴ的设计要服从武器系统的测试性。论述了ＢＩＴ设计的基本目标、基本功能，并就本模块的技术指标及其数值提出了具体建议。文章还讨论了ＢＩＴ的设计原则，设计中注意的问题，并对ＢＩＴ模块的技术方案也提出了初步意见。     

一种基于模型的测试性分析评估方法

产品可测试性设计是否满足测试性要求需要进行测试性分析和评估,基于模型的测试性分析评估方法因为它独特的优势被广泛用于产品测试性辅助分析之中。针对多层次系统产品的结构功能特点,提出一种基于相关性数学模型和多信号流图模型的测试性建模分析评估方法。该方法分析目标系统的测试性模型要素,建立了两测试性模型,以测试性工程和维修系统软件(TEAMS)为平台,通过软件仿真评估对模型进行校验,使其符合真实系统的故障传播关系和故障定位过程,在此基础上改进测试性设计,使其达到测试性定量指标。运用该方法对某装备电子系统部分进行实例分析,仿真结果验证了该方法的有效性和可行性,结论表明:基于相关性数学模型和多信号流图模型的测试性建模方法能够满足装备电子系统的测试性分析评估需求。     

战术导弹雷达导引系统BIT设计与分析

针对导弹武器系统设备故障检测及隔离困难的问题,介绍了机内检测(BIT)的概念及其在雷达导引系统中的作用.给出了一个采用软件和硬件相结合设计的典型导引系统BIT方案,通过分析表明,BIT能够满足系统设计需求,并对进一步改进研究提出了建议.     

航空机载综合控制管理设备的测试性设计研究

分析了开展航空机载设备测试性设计的目的和意义,对设备的测试性设计流程、设计方法、试验验证和指标评估等方法进行了探讨。首先,具体描述了机载设备的BIT设计方法;其次,对典型功能电路采用的BIT方法和复杂电子器件采用的边界扫描测试性设计进行了介绍,肯定了测试性试验对装备测试性指标评估的作用;然后,对测试性设计中常见问题提出了解决措施;最后,指出装备应持续改进测试性设计以达成用户要求。     

基于多信号模型的电子装备测试性分析

对于复杂的电子装备来说,有效的测试性分析有利于提高装备测试效果。运用TEAMS测试性分析工具,通过建立分层有向图表示系统属性的因果关系来建立系统故障传播特性的多信号模型,可高效地构建复杂电子装备的故障诊断模型,提高电子系统测试的故障隔离率和覆盖率。测试结果证明,多信号模型建模方法简单,诊断速度快,测试性评估效果好,可应用于复杂电子系统的测试性设计、故障模式影响、故障诊断和测试性评估等,满足现代复杂电子系统的故障诊断需求。     

地面雷达系统级测试性设计方法

自动故障诊断和健康管理已成为地面雷达的重要功能,高质量的测试性设计是实现该功能的基础。地面雷达测试性设计包括系统、分系统和模块三个层级的测试性设计。针对地面雷达的系统级测试性需求,提出了系统级测试性设计流程、系统机内测试的设计方法和中央测试系统的设计方法,介绍了新型数字阵雷达的系统功能测试和故障隔离方案。提出的设计方法对于提高地面雷达测试性设计质量具有较大的指导作用     

装备测试性分析与研究

测试性是衡量装备测试性能和故障诊断能力的有效特性,在装备研制阶段,应同时考虑装备的测试性分析、设计和验证。本文分析了测试性设计的重要性,阐述了装备测试性分析的基本流程,展望了测试性的发展趋势。     

一种简化的模拟电路测试性评价方法

模拟电路的测试性是进行故障诊断和定位的重要依据.采用基于符号化的分析方法来进行测试性评价,相对于数值计算的方法更有优势.提出了一种测试性矩阵的构建方法,同时给出并证明了基于该测试矩阵进行测试性评价的方法.该评价方法的特点是计算简单实用,且消除了计算误差.最后,通过电路实例,验证了该方法的有效性及其实现上的简洁性.     

控制舱测试系统及其BIT设计

为改善当前导弹控制舱的测试状况,设计了一种以PXI总线工控机为核心的控制舱测试系统,选用高精度的传感器和调理电路对数据进行采集,利用CPLD对增量编码器进行角度值的解算以及激励信号的时序控制,配合Visual Studio平台的监控软件对数据进行分析处理输出。并在测试系统架构的基础上,充分利用CPLD的灵活性进行了环绕BIT设计,大大节省了硬件资源,完成了系统的机内检测,保证了测试系统的可靠性,实现了一个高精度、高效率、低误差的控制舱测试系统。     

基于ASAAC标准的BIT软件架构设计

为检测和定位航空电子系统的故障,研究了ASAAC标准和自动测试技术。参照ASAAC标准的多级结构,将自测试系统分为节点级、子系统级和系统级三级测试,每一级分别设计了上电自测试、周期自测试和维护自测试,实现了对系统各个运行阶段及不同层次的测试。该系统不仅能检测系统的硬件状态,还能检测软件的启动和运行状态,提高了航空电子系统的自检测能力。     

SOC芯片的可测试性设计与功耗优化

介绍了数字集成电路可测试性设计与测试覆盖率的概念,针对一款电力网通信芯片完成了可测试性设计,从测试的覆盖率、功耗等方面提出了优化改进方案,切实提高了芯片的测试覆盖率,缩减了测试时间和成本,降低了测试功耗,同时保证了芯片测试的可靠性,最终使芯片顺利通过量产测试。     

数传接收机系统可测试性设计

本文从逆向工程的角度出发,通过对数传接收机系统详细的软、硬件以及故障诊断和故障隔离的设计分析,就如何实现系统测试性设计这一课题进行了探讨,阐述了系统测试性设计原理和实现方法。     

航空电子系统的测试性及仿真研究

论述了仿真故障注入在测试性设计中的重要作用以及利用仿真进行测试性设计的几个重要环节。结合某飞机的凋堰电路给出了利用Pspice仿真软件研究电子产品测试性设计的方法，为测试设备的研制和开发提供一些新的思路。     

利用BIT技术提高雷达维修性

在现代复杂电子系统中,机内测试(BIT)技术作为提高系统可维修性和可测试性的重要手段,日益得到普遍重视和广泛应用。根据设计原则,BIT系统采用多机分布式结构,故障检测电路和故障检测软件采用通用化设计,故障定位采用基于故障传播有向图的故障定位方法。本文对雷达设备的维修性及状态监测方面进行了探索,主要阐述了机内测试系统的实现结构及其基于故障树算法实现故障定位的原理,介绍了通用故障检测电路的工作原理,总结了设计过程中应注意的问题及相应的解决方法。     

Design for Testability Techniques at the Behavioral and Register-Transfer Levels

Improving testability during the early stages of the design flow can have several benefits, including significantly improved fault coverage, reduced test hardware overheads, and reduced design iteration times. This paper presents an overview of high-level design methodologies that consider testability during the early (behavior and architecture) stages of the design flow, and their testability benefits. The topics reviewed include behavioral and RTL test synthesis approaches that generate easily testable implementations targeting ATPG (full and partial scan) and BIST methodologies, and techniques to use high-level information for ATPG.     

航空电子设备故障诊断技术研究综述

随着电子技术的发展,电子设备组成的复杂化和智能化不断提高,IC芯片制造工艺的不断提高使得VLSI电路的集成密度增加,亦加大了电路故障测试的复杂性和困难度。本文综述了电子电路的通用测试方法和技术,并分析了局限性。详细叙述了刚刚发展起来的基于知识的故障诊断方法,它的应用使对于一个较复杂的电子设备进行准确故障诊断成为可能,并对其发展进行了探讨和展望。     

基于LabWindows/CVI的测试性验证与评估方法

装备测试性设计的好坏直接影响了它在使用过程中发生故障时的诊断效率,对装备质量进行考核和评估时,测试性能指标是一个重要的参数。分析了几种测试性验证评估方法,选择使用更合理的超几何分布验证方法,并使用虚拟仪器编程语言LabWindows/CVI进行界面设计和编程,将这一理论方法应用于实践,可提高准确率,缩短时间,在工程和实践中具有很高的使用价值。     

系统芯片的可测性设计

系统芯片SoC可以实现一个系统的功能,为了保证系统芯片的功能正确性与可靠性,在它的设计与制造的多个阶段必需进行测试。由于系统芯片的集成度高,结构和连接关系复杂,使得对它进行测试的难度越来越大,因此需要采用专门的测试结构。本文对系统芯片的可测性设计以及测试结构的设计方法等进行了介绍和综述。     

ASIC可测试性设计技术

可测性设计技术对于提高军用ＡＳＩＣ的可靠性具有十分重要的意义。结合可测性设计技术的发展,详细介绍了设计高可靠军用ＡＳＩＣ时常用的ＡｄＨｏｃ和结构化设计两种可测性技术的各种方法,优缺点及使用范围。其中,着重论述了扫描技术和内建自测试技术。