Ag/Fe2O3复合微球的制备及表征

以阳离子交换树脂为模板,采用离子交换法,制备了Ag/Fe2O3复合微球.采用扫描电子显微镜、X射线衍射仪、X射线能量散射谱仪、紫外-可见分光光度计对Ag/Fe2O3复合微球进行了表征,结果表明,复合微球直径在400～600 μm之间,微球主要为Ag与α-Fe2O3等晶粒所组成.以甲基橙溶液为研究对象,分别在紫外光和可见光照射下,对Ag/Fe2O3复合微球的光催化活性进行了评价.光催化实验结果表明,Ag/Fe2O3复合微球具有较好的光催化性能.     

利用生产的炉渣样品制作X射线荧光分析曲线

为了消除X射线荧光光谱压片制样法制样存在的基体效应,利用实际生产炉渣样品与纯物质混匀技术配制内控标准样品制作校准曲线。实验室实验表明,利用滚筒混匀方式配制的样品均匀性与国家标准物质均匀性相当,且其含量与化学法测定结果一致,实现了根据实际生产样品情况灵活配制Al2O3和Ca O、Mg O系列校准样品,消除了基体效应,提高了X射线荧光光谱压片制样方法分析炉渣的准确性。     

X射线荧光光谱法测定萤石矿中CaF_2、T_(Fe)、K_2O、Na_2O、P、S和SiO_2

尝试用X射线荧光光谱法分析萤石中的CaF2、SiO2、P和S以及全铁（TFe）、K2O和Na2O,实现多元素同时分析。从样品制备、仪器工作条件选择及基体效应的影响等方面进行试验,找出最佳条件,取得了满意的结果。实验结果表明,用X射线荧光光谱法分析萤石中各元素成分,完全可以满足日常生产分析要求。     

X射线荧光光谱法测定氧化锆质耐火材料中主次成分

以无水四硼酸锂和碳酸锂混合熔剂作熔剂,采用玻璃熔片法制样,建立了测定氧化锆质耐火材料中ZrO2、HfO2、Al2O3、SiO2、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、Y2O3等组分的X射线荧光光谱法(XRF)。根据氧化锆质耐火材料中主次成分含量范围,采用有证参考物质和具有成分含量梯度并经其他方法定值的自制标准样品绘制校准曲线。并对熔剂选择、熔融条件及基体效应校正进行了探讨。将X射线荧光光谱法用于3个稳定氧化锆试样的分析,并与ICP-AES法进行比对,测试结果吻合。     

X射线荧光光谱法测定不锈钢渣样中多元素含量

以Li2B4O7作熔剂,采用熔片法制样,建立了不锈钢渣样中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、TiO2、P2O5、MnO、Fe2O3、Cr2O3的X射线荧光光谱分析方法,本方法采用国家标准样品及人工合成标准样品绘制了工作曲线,进行了精密度和准确度试验,其测定值与化学验证值相符,并有良好的精密度,完全满足生产检验要求。     

XRF光谱法测定铁矿石中的Al2O3

介绍采用X射线荧光光谱粉末压片法测定铁矿石中AL2O3从待测试样中选取一批试样,经ICP及化学分析法多次定值后,在X荧光光谱仪上绘制Al2O3的光谱强度值与Al2O3质量百分含量的工作曲线.此方法减少了不同矿种带来的基体影响.准确度和精确度都满足生产分析的需要.     

X射线荧光光谱法测定铝矿石中Al2O3、SiO2、Fe2O3含量

本文采用硼酸镶边衬底制备铝矿石样片。用波长色散X射线荧光光谱仪测定铝矿石中Al2O3、SiO2、Fe2O3含量。本方法测量准确度、精密度较好。所得结果与化学分析结果一致。     

电解提取-X射线荧光光谱法测定钢中氧化物夹杂分量

研究了应用X射线荧光光谱仪的微区分析功能测定钢中氧化物夹杂分量的方法。优化了电解提取氧化物夹杂及X射线荧光光谱测定其分量的条件,同时建立了分析方法。实验结果表明,试样在弱酸性电解液并控制电流密度为0.02~0.06 A/cm2的条件下进行电解效果较好,测得氧化物夹杂总量一致。实验确定用X射线荧光光谱仪微区测定氧化物夹杂分量的最少样品量为不少于3 mg。用本法测定样品中氧化物夹杂分量SiO2,Al2O3,CaO,MgO,MnO2,Fe2O3,TiO2,Cr2O3的准确度(σ)为0.096%~0.63%,相对标准偏差小于6%,检出限为0.003×10-6~0.025×10-6。     

铝质耐火材料中多元素的X射线荧光光谱分析

以Li2B4O7作熔剂,采用熔片法制样,建立了铝质耐火材料中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、TiO2、Fe2O3的X射线荧光光谱分析方法,本方法采用国家标准样品及人工合成标准样品绘制了工作曲线,进行了精密度和准确度试验,其测定值与标准值相符,并有良好的精密度,完全满足生产检验要求。     

(AlCrTiZrNb)N/Al2O3纳米多层膜的微观结构和力学性能研究

在单晶硅片基底上采用反应磁控溅射技术交替溅射AlCrTiZrNb靶与Al2O3靶,制备了不同厚度Al2O3层的(AlCrTiZrNb)N/Al2O3纳米多层膜.采用X射线衍射仪(X-ray?diffraction,XRD),高分辨率透射电子显微镜(high?resolution?transmission?electro...     

Fe_3O_4@SiO_2@Co_3O_4三元核壳结构催化剂的制备及表征

本文中采用均相沉淀法制备了Fe3O4@SiO2@Co3O4核壳结构纳米材料。通过X射线衍射仪,X射线能谱仪,透射电镜,振动样品磁力计,对其结构形貌和磁性能进行了表征。结果表明,所制备纳米粒子包覆结构比较完整,粒径约300nm,内核为磁性Fe3O4,中层为无定形SiO2,外层为Co3O4纳米线,具有海胆状三元核壳结构。该材料有望应用于具有可回收性的磁性纳米催化剂。     

高压预处理对合成硫氧化物X射线发光材料的影响研究

采用陶瓷工艺学原理，对混合好的配合料进行高压预处理，合成了Gd2O2S：nX射线荧光粉，并研究高压预处理对合成硫氧化物X射线发光材料Gd2O2S：Tb发光性能和物理特性的影响。对其进行光致发光(PL)谱、X射线激发发光(XEL)光谱、XRD、SEM研究。结果发现，高压预处理能有效降低合成温度，减小颗粒尺寸，并影响其颗粒分布及颗粒形貌，并使光致发光(PL)和X射线激发(XEL)发光强度有较大幅度的提高。由于比较致密，减少了碱金属离子和硫化物气氛的挥发，减轻对耐火材料和坩埚材料腐蚀程度。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定烧结矿中K2O、Na2O、Pb、Zn、Cu方法研究

首先用X射线熔融法对自制内控标样进行定值,然后采用粉末直接压片法-X射线荧光光谱法测定烧结矿中K2O、Na2O、Pb、Zn、Cu等微量化学成分,通过基体校正等手段,获得准确的结果,该方法快速准确、成本低.     

掺杂Tb3+的Na24P2W22O83的合成及其发光特性

本文采用固相反应法合成了掺杂 Tb3 的 Na2 4P2 W2 2 O83荧光体 ,测定其等离子体发射谱、红外光谱、X射线粉末衍射、激发光谱和发射光谱 ,探讨了掺杂 Tb3 的 Na2 4P2 W2 2 O83 的发光特性     

12 CaO·7 Al2 O3晶体结构及其氧化铝浸出性能

使用分析纯试剂配料,在1350℃保温1 h的条件下合成了A/S=5(Al2O3与Si O2质量比)的铝酸钙熟料.研究了钙铝比C/A(除去与Si O2结合的Ca O后Ca O与Al2O3的摩尔比)对熟料中12Ca O·7Al2O3晶体结构及其氧化铝浸出性能的影响,并通过X射线衍射和X射线荧光等分析手段对其作用机理进行了探讨.结果表明:由于12Ca O·7Al2O3量的增加,C/A=1.0~1.4时,石灰烧结法熟料溶出率随着C/A的提高而提高;在C/A=1.4时,熟料溶出率最高可达93.30%,此时Ca O的缺失形成了有缺陷的12Ca O·7Al2O3,且其中Ca O的物质的量小于11.3 mol;钙铝比提高到1.7时熟料溶出率又出现了下降趋势,这是由于Ca O的饱和导致12Ca O·7Al2O3晶体择优生长取向发生变化,由(211)面开始向(420)晶面转变.     

碳酸稀土焙烧过程中Ce0.75Nd0.25O1.875生成条件的研究

利用纯Ce2与Nd2O3为原料制得的不同Ce^3 :Nd^3 配合的混合碳酸稀土,研究了不同焙烧温度和Ce^3 :Nd^3 配比条件对Ce0.75Nd0.25O1.875的影响,用X射线衍射仪分析了焙烧产物,得出了Ce0.75Nd0.25O1.875生成的最佳条件。     

X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布

在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、ZrO2、Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布。测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致，并经TEM分析验证。证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的。与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比，该方法的特点是操作简单，成本较低，易于推广。目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度。     

Er∶YAG/MoS2-NiGa2O4复合物的制备及其光催化活性的研究

本研究采用水热合成法合成了半导体光催化剂NiGa2O4,并用溶胶-凝胶法和高温煅烧法制备了上转换发光剂Er3+∶Y3Al5O12(Er∶ YAG),然后采用超声分散法和水热合成法制备了Er∶ YAG/MoS2-NiGa2O4复合光催化剂.采用X射线粉末衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、能量色散X射...     

X-射线荧光光谱法测定高炉渣中的Al2O3

介绍了用X射线荧光光谱法测定高炉渣中的Al2O3,试样采用粉末压片制成.该方法简便、快速、准确、可靠.     

X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料中多元素

以Li2B4O7作熔剂,采用熔片法制样,建立了镁质耐火材料中SiO2,CaO,MgO,Al2O3,P2O5,Fe2O3的X射线荧光光谱分析方法,本方法采用国家标准样品及人工合成标准样品绘制了工作曲线,进行了精密度和准确度试验,其测定值与标准值相符,并有良好的精密度,完全满足生产检验要求。