X射线荧光光谱法测定煤中氯

用煤炭标准样品直接压片建立工作曲线测定煤中氯的测试结果与国标方法进行比较,其准确度与精密度可达到国标法中对其相应的要求。     

X射线荧光光谱法快速测定锰矿石的Mn 含量

采用粉末压片法制样,用 X射线荧光光谱法测定锰矿石中 Mn的含量,分析测试结果与化学法基本一致,相对标准偏差(RSD)小于2.0%(n=9).该法操作简单、快捷,能够满足矿石样品的分析要求.     

粉末压片X射线荧光光谱法测定硅铁中各组分

采用粉末直接压片法,通过基体校正方法,用X射线荧光光谱法测得硅铁中Si,Mn,P,Cr,Al,Ca含量。此方法简便、准确。用10个标准物质制定了工作曲线,并进行了自测。另用2个标准物质作为未知样对工作曲线进行准确度和精度测试,结果令人满意。     

能量色散X射线荧光分析软件开发

介绍了能量色散X射线荧光光谱分析原理和定性、定量分析方法。定性分析通过谱处理实现,涉及谱平滑、背景扣除、寻峰、能量刻度和特征谱的拟合。基体效应的校正通过基本参数法实现。基于此方法采用Delphi开发了EDXRF分析程序,通过实验验证,分析程序基本实现了预期的功能,分析结果达到了精度要求。     

用X射线荧光光谱法同时测定矿石中铀、钼、汞

采用X射线荧光光谱法对矿石中铀、钼、汞3个元素同时测定,以康普顿散射线内标法和经验系数法校正元素基体效应。研究结果表明:铀、钼、汞的方法检出限分别为1.73、0.63、1.42μg/g,精密度(RSD,n=12)均小于5.0%;用本法测定标准物质,结果与认定值吻合;测定未知样品,结果与化学分析基本一致。该方法无须化学前处理、测量结果可靠,可满足地质矿石样品中铀钼汞的分析要求。     

能量色散X射线荧光分析仪专用分析软件的开发

选矿生产中,采用X射线荧光分析仪分析品位,一方面有助于快速监测品位变化从而指导生产,另一方面节省化验成本。研究开发X射线荧光分析仪的关键是开发具有自主知识产权的分析软件。作者在深入研究国内、外能量色散型X射线荧光分析仪的基础上,掌握了该类仪器上位机软件的特点和必备的功能,结合自行开发的实验室台式X射线荧光分析仪,在Visual C++6.0开发平台上设计与开发了荧光分析仪专用分析软件。该软件除具备基本的定性和定量分析等功能之外,还针对仪器本身X射线计数率存在漂移的问题,设计了参比校正模块,一定程度上提高了仪器精度并克服了长期漂移。     

X射线荧光光谱仪在铝土矿分析中的应用

选取XRF法对铝土矿中Al2O3,SiO2,Fe2O3,TiO2,CaO,K2O等组分进行日常分析，采用粉末压片制样和经验系数法校正基体效应，建立了元素分析的数学模型，起到了快速分析，指导生产的作用。     

X射线荧光光谱法测定铁矿石的化学成分

应用X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁等多种元素时,采用了熔融片制样,以消除矿物结构效应,降低基体效应的影响。并研究了熔样的条件,确定了仪器最佳参数,然后建立工作曲线。实验证明,本法快速、准确,能很好地对铁矿石进行测定,不仅大大缩短了分析时间,提高了工作效率,而且降低了劳动强度。     

X射线荧光光谱法测定铁矿石中的锡

介绍了X射线荧光光谱法以铑靶的康普顿散射线强度为内标，测定了铁矿石中的锡。该方法简便快速、准确，完全能够满足日常生产对铁矿石样品中锡的分析要求。     

X射线荧光光谱法测定矿石中砷的研究

研究了用率磷酸盐滴定法分解样品,用散射线内标法克服基体效应影响,在硫酸溶液介质中,采用Ｘ射线荧光光谱法则定矿石中０．５％～３５％的砷,取得了较满意的结果。     

能量色散X-射线荧光光谱法测定锡精矿中砷锌铁铜

将样品粉末压片制样,用能量色散X-射线荧光光谱法测定锡精矿中的砷、锌、铁、铜,该法的精密度RSD(n=6)为0.68%～4.36%.将该法用于实际样品的测定,并将测定结果与化学法测定结果进行比较,结果基本一致,可以满足企业生产和经营的需要.     

能量色散X-射线荧光光谱法测定锡精矿中砷锌铁铜

将样品粉末压片制样,用能量色散X-射线荧光光谱法测定锡精矿中的砷、锌、铁、铜,该法的精密度RSD(n=6)为0.68%～4.36%.将该法用于实际样品的测定,并将测定结果与化学法测定结果进行比较,结果基本一致,可以满足企业生产和经营的需要.     

X射线荧光光谱法测定煤矸石中主次量元素

采用熔融制样,以粘土和炉渣等国家标准样品为校准标样测定了煤矸石中TFe、SiO2、CaO、MgO、Al2O3和TiO2的含量,结果显示,由于该方法可以完全消除不同产地煤矸石的矿物效应和粒度效应,准确度很好,可完全替代化学湿法分析,作为煤矸石分析的常规方法.     

X-射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO含量

提出采用X-射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO含量。将石灰石样品进行磨细处理,在压片机上制成样片。在X射线荧光光谱仪上按照选定的分析条件,以标准样品做工作曲线,根据工作曲线测定样品含量。通过与国家标准化学法对照,分析结果基本一致。该方法简便、快速、准确、重现性好。     

应用X荧光光谱法测定煤中磷结果探讨

应用X荧光光谱法重复测定磷含量分别为低、中、高的3种不同量值的有证标准煤样,通过测定值的准确度和精密度对比分析可知:应用X荧光光谱法测定煤中磷时虽在试验中存在一定的误差,但测定差值的置信范围较小,精密度优于GB/T 216—2003中规定的方法精密度,即在实验室检测中可以采用X荧光光谱法测定煤中磷,其测定过程简单且环保。     

X射线荧光光谱法测定四氧化三锰中杂质含量

采用两种不同的方式向四氧化三锰中准确加入不同含量的杂质元素,将四氧化三锰与杂质元素混合均匀后,采用标准加入内推法得到四氧化三锰中原杂质元素的含量,以此对四氧化三锰中的现有杂质含量进行校正,根据校正后的杂质含量建立测定四氧化三锰杂质含量的工作曲线。经对已知含量样品的测定表明,用自行配制的替代性标样制定的工作曲线法具有和化学法相当的准确度和精密度。     

X射线荧光光谱法测定四氧化三锰中杂质含量

采用两种不同的方式向四氧化三锰中准确加入不同含量的杂质元素,将四氧化三锰与杂质元素混合均匀后,采用标准加入内推法得到四氧化三锰中原杂质元素的含量,以此对四氧化三锰中的现有杂质含量进行校正,根据校正后的杂质含量建立测定四氧化三锰杂质含量的工作曲线。经对已知含量样品的测定表明,用自行配制的替代性标样制定的工作曲线法具有和化学法相当的准确度和精密度。     

TW系列X射线荧光光谱仪

TW系列X射线荧光光谱仪是天津市技术物理研究所2006年研制开发成功的最新型X射线荧光元素分析仪器。 TW系列X射线荧光光谱仪采用波长色散X荧光分析方法,该方法比传统的能量色散X荧光分析法的精确度要提高1—2个数量级。特别是对于轻元素（硅、镁、铝、硫、磷）提高的更为明显。