频闪仪的脉冲频率法校准

随着频闪仪技术的发展,目前采用转速标准装置校准频闪仪的方法已无法满足测量范围和量程的要求。文章介绍了采用脉冲频率测量法校准频闪仪的原理,即利用光电转换元件将频闪仪的可见光转换成电脉冲信号,用频率计对脉冲频率进行测量。在相同量程范围内,对分别使用频率计和转速标准装置作为主标准器测得的数据进行了分析,两种方法的校准结果具有较好一致性。对采用脉冲频率法校准频闪仪实例中的测量结果不确定度进行了评定。     

高电压脉冲校准装置研究

为解决高电压脉冲的校准问题,对高电压脉冲的校准方法进行研究,并建立了一套脉冲校准装置。校准装置将高电压脉冲信号进行电压转换,变为脉冲小电压,通过数据采集系统,在频带范围10Hz~1kHz、电压范围1~1600V内,对脉冲电压的关键参数进行测量,得到高电压脉冲的电压幅度、脉冲频率、脉冲宽度、上升时间和下降时间。通过实验室标准仪器设备对高电压脉冲校准装置进行测试,其中脉冲幅度的测量误差为 0.02%~0.4%。     

中国计量院成功研制材料逆反射系数测量装置

本刊讯 近日,由中国计量科学研究院自主研制的逆反射系数测量装置通过了专家验收。该装置成功实现了我国材料逆反射系数的高准确度测量和校准．测量结果不确定度达3．6％（k=2）：装置采用光强标准灯组对测量系统进行量值溯源．研究并实现了逆反射系数的照度测量方法     

取向电工钢的单片测量方法

对取向电工钢的两种单片测量方法的由来及差异进行了分析,提出直接感应试样磁场强度的H线圈法由于规避了有效磁路长度的影响,是一种可靠的替代方法。对比试验结果表明:使用H线圈法测量的比总损耗、比视在功率等磁性能明显低于使用GB/T 13789-2008推荐采用的SST(92)法测量的,且两者之间的测量偏差与试样材料、厚度、测量条件等显著相关;通常情况下,在工频和磁极化强度为1.5～1.7T的条件下,H线圈法测量的比总损耗相比SST(92)法测量的低5%～8%,比视在功率低10%～20%。     

小孔流导测量方法的研究

在分子流条件下,给出了定容法和恒压法测量流导的方法,分析了测量不确定度.采用定容法气体微流量校准装置和恒压法气体微流量校准装置分别对小孔流导进行了测量,对2种测量方法进行了比对,一致性好于1.0%.     

压电式动态力传感器校准方法的研究

针对智能制造行业里压电式传感器的动态性能校准问题,介绍了针对传感器动态力参数的相关方法和脉冲力法校准装置,在装置上完成了试验验证和分析。介绍了两种常规的动态力校准方法,针对不同的校准方法建立了运动方程,做出了差异性分析。然后介绍了一种基于绝对法测量的压电式传感器脉冲力法校准装置,装置的结构包括基于刚体碰撞的脉冲力发生装置和基于外差式迈克尔逊干涉仪的测量系统,说明了工作原理和解算方法。最后利用建立的校准装置对典型压电式传感器进行动态力校准,进行结果分析和可靠性验证。     

"共光路"校准激光干涉仪的测长不确定度

激光干涉仪校准时为了避免引入阿贝误差,通常采用"背对背"测量方法,即标准干涉仪的反射镜与被测干涉仪的反射镜背对背放置,使标准干涉仪与被测干涉仪的光路处于同一直线上.现提出校准激光干涉仪的另一方法,利用同一组分光镜和反射镜,使标准干涉仪与被测干涉仪的光路处于同一光路上,即"共光路"测量方法.这种方法与"背对背"的测量方法相比,具有抗环境干扰的能力强的优点,使由环境条件引入的测量误差最小,其最佳相对测量不确定度优于1×10-7.通过测量数据和标准测量装置的不确定度分析,来评价"共光路"测量方法的优越性.     

配光性能探测器校准方法的探讨

文章研究的新校准方法用于配光测试光度探测器的校准,该校准装置采用积分球和标准光源相结合的方法完成校准,替代现有的光轨标定测量方法,其测量精度与标准要求符合,极大地提高检测效率。     

永磁脉冲方法测量钕铁硼永磁体全国比对

正鉴于我国稀土永磁材料产业形势,以及供需双方对高矫顽力永磁体测量技术的迫切需求,2013年我国率先建立了世界上首个永磁脉冲永磁测量方法国家标准GB/T29628-2013《永磁(硬磁)脉冲测量方法指南》,使用该标准方法可以准确测量H-cJ高于2000k A·m1的永磁体。尽管在建立永磁(硬磁)脉冲测量方法国家标准之前,国际比对已经证实该方法具有良好的复现性,而且中国计量科学研究院已经开展了大量的实验验证工作,但是作为该方法国际上首个国家标准,随着永磁     

流量现场校准装置测量误差分析及修正

从流量现场校准装置的结构和测量方法入手,对校准装置的测量误差进行了分析,并根据分析结果对校准装置的测量结果进行了误差修正。通过试验对修正结果进行了验证。验证结果表明,通过测量误差的修正,校准装置的流量测量相对误差可以满足系统设计指标的要求。     

直流纹波测量标准模块

探讨直流稳定电源的输出纹波测量方法,设计了放大模块,对待测纹波信号进行预处理,利用有效值转换技术,将直流纹波的测量转换为直流电压的测量,从而形成直流纹波测量标准模块.采用标准信号源和纹波测量标准表分别对标准模块进行性能测量,结果表明直流纹波测量标准模块符合技术指标要求,并已应用于动力电池综合测试系统校准装置中.     

恒流脉冲点火电源校准方法研究

文章对恒流脉冲点火电源的工作原理进行了简单介绍,对其输出脉冲电流校准存在的问题进行了分析.提出了一种采用标准电压源比对的校准方法,并对使用直接法和标准电压源法时的不确定度分别进行了评定.使用标准电压源法校准时的不确定度比直接法缩小3倍,极大地提高了对恒流脉冲点火电源的校准能力,满足量值传递要求.     

标准硅片厚度测量装置的研制

利用电感测微仪的高分辨率和红宝石工作台的高灵敏度,在对传感器进行非线性修正的基础上,提出了垂直于标准硅片表面方向的点对点测量方法,研制了标准硅片厚度测量装置.整套装置适用于直径不大于305 mm标准硅片的厚度校准,对不同的直径和厚度的标准硅片,测量不确定度达到0.2μm.通过对不同厚度的标准硅片进行测量和比对,验证了装置的测量不确定度,具有结构紧凑、操作简便、准确度高、可靠性好的特点,实现了标准硅片厚度的量值溯源.     

交流弱磁场标准源及误差分析

建立交流弱磁场测量标准,是近年来随着科学技术、生物医学、地质、航海,以及工业生产的发展,而提出来的新课题。通常用亥姆霍兹线圈作为标准场源,对直流弱磁场测量仪进行校准。那么采用这类装置能否复现交流弱磁场强度?     

可溯源动态压力校准方法

动态压力测试与校准技术越来越受到重视,校准的技术手段也越来越多,但关键的溯源问题已经明显制约了动态压力测试校准技术的发展与推广.本文比较分析了阶跃压力、脉冲压力、正弦压力三种主要的动态压力激励信号的主流校准溯源方法,以及它们在可靠溯源方面存在的不足,尤其是使用越来越多的脉冲压力与正弦压力校准.通过对各种测量原理的可溯源动态压力校准方法以及世界各国最新研究进展情况的全面分析归纳,总结出基于运动参数与动力学方程的动态压力测量方法与基于折射率变化的激光干涉动态压力测量方法等两个重点研究方向.     

便携式真空计校准装置

为了解决许多应用领域对真空度的现场校准需求,研制出便携式真空计校准装置.采用直径为200mm的球形容器作为校准室,用两台不同量程的电容薄膜真空计作为参考标准.为实现宽量程校准,装置集成了静态比对法、静态膨胀法及动态流量法三种校准方法.实验结果证实该装置的校准范围可达1×105～4× 10-6 Pa,合成标准不确定度为1.3％ ～4.7％.装置的外形尺寸为450 mm× 400 mm×750 mm,总重量小于40kg.总之,该装置具有体积小、重量轻、便携和成本低等优点.     

X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件(准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式)和测量方法(有无标准片校准及不同校准方法)进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。     

X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件（准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式）和测量方法（有无标准片校准及不同校准方法）进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。     

基于激光绝对法冲击校准技术的动态力测量方法的研究

本文讨论测量原理相似的落锤式动态力标准装置和冲击力法的冲击加速度校准装置的工作原理、力值复现方法 ;分析落锤式动态力标准装置校准方法的缺陷 ;重点介绍瞬态冲击力绝对法校准系统中采用的质量块碰撞式力源、外差式激光干涉绝对法冲击加速度测量技术、有限元法的加速度修正等内容 ;并就我国冲击力标准装置的发展提出建议和设想     

静态质量法水流量标准装置校准流量计不确定度分析的讨论

文章主要讨论使用静态质量法水流量标准装置校准体积流量计,进行不确定度分析时应注意的问题。静态质量法装置获得的是质量流量,校准体积流量计时应换算为体积流量,换算过程需要获得准确的水密度值。我们一般采用测量水温查表法和密度计测量法获得水的密度值,这里主要讨论两种测量方法带来的不确定度分量的不同以及它们对扩展不确定度的影响的不同。