共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
智能型溶解氧分析仪的研制 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍了溶解氧分析仪的硬件结构和软件设计。该仪器由极谱型复膜氧电极传感器和AT89C52单片微机系统两大部分组成,软件采用模块式编制,结构紧凑,操作简便。仪器的测量范围为:溶解氧:0~19.99mg/L(温度为-10℃~40℃);测量精度:溶解氧±0.3mg/L(温度±1℃ 相似文献
2.
本文是根据电压/频率(V/F)转换及频率/电压(F/V)转换原理,采用PIN-FET混合集成光电接收器及相应模拟集成电路,完成了满量程达到100kHz,传输失真度〈0.1%的模拟光纤传输线的研制。 相似文献
3.
介绍了采用栅长为0.15μm的钝化In0.53Ga0.47As/In0.52Al0.48As/InPHEMT的高效W波段功率单片微波集成电路(MMIC)。0.15×320μm单级InP功率HEMTMMIC放大器在94GHz时的最大功率附加效率为23%,输出功率为40mW,功率增益为4.9dB。当电源偏置成更高的输出功率时,在94GHz处可得到功率附加效率为20%的54mW的输出功率。这些结果表明,在此频率下,这样的效率和输出功率是迄今为止所有报道中最佳的。 相似文献
4.
5.
6.
钼的熔点是2980K,有较好的室温加工性能,同其它难熔金属相比密度小,为10.22g/cm^3。钼作为高温结构材料的主要障碍是在0.5Tm以上温度时强度较低。目前发现弥散强化是提高难熔金属强度的有效方法^「1-3」。碳化铪(HfC)的结构类似于氧化钠(NaCl)所有碳化物中它熔点最高,对于钼来说是一种理想的强化剂。以前的研究表明弥散粒子HfC能使钼的再结晶温度提高600K^「4」。因此,在高温应用 相似文献
7.
8.
9.
本文研究了d=1.0,5及0.2mm的技术纯度Mo(0.025C-0.005N-0.16Ti)丝和d=0.3mm的Mo-0.1Hfc-0.1HfN合金丝经过各种加工(拉伸,金刚砂加工处理,电抛光)后,其表面微缺陷的相对尺寸R/d的变化对疲劳性能的影响,R/d值从0.06减小到0.001导致疲劳持续时间增加了一个数量级,并且观察到性能的最大变化是在R/d=0.002~0.004,而R/d值的继续减小 相似文献
10.
11.
用金刚石对顶砧压力装置在液氮温度下和0~4GPa的压力范围内测量了不同阱宽(1.7~11.0nm)的InxGa(1-x)As/Al(1-y)Ga(1-y)As(x,y=0.15,0;0.15,0.33;0,0.33)多量子阱的静压光致发光谱,发现在In0.15Ga0.85As/GaAs多量子阱中导带第一子带到重空穴第一子带间激子跃迁产生的光致发光峰能量的压力系数随阱宽的增加而减小,在In0.15Ga0.85As/Al0.33Ga0.67As和GaAs/Al0.33Ga0.67As多量子阱中相应发光峰的压力系数随附宽的增加而增加.根据Kroniy-Penney模型计算了发光峰能量的压力系数随阱宽的变化关系,结果表明导带不连续性随压力的增加(减小)及电子有效质量随压力的增加是压力系数随阱宽增加而减小(增加)的主要原因. 相似文献
12.
K0.9Li0.1(Ta0.5Nb0.5)O3晶体压电应变系数的测量 总被引:4,自引:2,他引:2
用准静态d_(33)测量仪和干涉法相结合。测量了K_(0.9)Li_(0.1)(Ta_(0.5)Nb_(0.5)Nb_(0.5))O_3晶体的压电应变系数。结果为:d_(33)=86.0,d_(33)=一29.5,d_(15)=112.9×10 ̄(-12)C/N. 相似文献
13.
14.
HA868(Ⅲ)P/T型电话机电路分析及故障检修(上)李考明,张明大HA868(Ⅲ)P/T型按键电话机是一种脉冲/双音频兼容拨号全集成电路电话机,主要由振铃电路、拨号电路、收发话电路组成。1集成电路引脚功能说明及各脚参考电压1.1振铃集成电路KA24... 相似文献
15.
16.
17.
18.
在广播电视中,音频指标测量极为关键。文章介绍了一种音频测量用-dBu表的设计方案:根据广播对伴音信号的数学定义即dBu=20kg(V音/0.775),采用芯片536AK、CH7117等组成电路,完成对音频信号的前端处理和对数变换以及模/数转换,达到数字显示音频信号的dBu值。 相似文献
19.
低温电镀铁层的XTEM研究许晓磊王亮扈心坦黑祖昆(大连海事大学,大连116024)低温电镀铁广泛用于修复受磨损及腐蚀的零部件。镀层与基体的结合强度可达35.6kg/mm2。表面硬度根据要求可达HV0.1500—700。镀铁层较厚,外层晶粒细小,制备完... 相似文献
20.
激光测长定位中的软件补偿 总被引:1,自引:0,他引:1
丁永峰 《电子工业专用设备》1995,24(3):32-35
本文论述了大规模集成电路制造设备关键技术之一的激光测长定位补偿技术中,如何解决由温度、压强、湿度等因素造成激光测长定位中的误差,并定量的分析给予补偿。激光当量为λ/32时,工作台的重复精度可达±0.2μm(3σ)。 相似文献