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1.
在辐射伏特效应同位素电池(辐伏电池)中,器件的辐伏转化性能不仅受限于换能器件所用的半导体材料、结构或加载放射源的种类,还受换能器件表面钝化层结构的影响。为在氚化钛源加载的平面单晶硅PN结辐伏电池(氚辐伏电池)中得到最佳的钝化效果,本文设计了3种不同的钝化层结构,考察其初始输出性能和抗辐射性能,并单独研究了氚化钛源出射的X射线对单晶硅换能器件的辐射损伤。结果显示:在辐伏电池初始输出性能方面,Si/SiO2/Si3N4结构Si/B-Si glass/Si3N4结构Si/Si3N4结构;在抗氚化钛源辐射损伤方面,Si/Si3N4结构Si/B-Si glass/Si3N4结构Si/SiO2/Si3N4结构,Si/B-Si glass/Si3N4结构具有最佳的抗X射线辐射衰减性能。氚化钛源出射的X射线对辐射损伤效应起主要作用,XPS结果显示,X射线长时间辐照造成了单晶硅表面平整性的破坏。 相似文献
2.
采用氚化钛源原位辐照和加速器低能电子束加速辐照实验,研究基于氚化钛/单晶硅PN结器件的氚辐伏电池模型和实验室组阵型电池原型样机的长期稳定性。测试电池模型和电池样机的氚辐伏输出随辐照时间的变化,分析辐照对单晶硅PN结型器件的本征暗特性和器件表面层材料缺陷的影响。结果表明,氚化钛源原位辐照电池模型在115 d的辐照中辐伏输出没有明显的衰减,辐照后单晶硅器件的本征暗特性曲线变化微小。电池模型的加速器低能电子束加速辐照实验表明,加速辐照在相同电子注量下对电池造成远大于氚源原位辐照的性能损伤,但损伤仅在辐照最初期快速产生,随后基本保持稳定,电子顺磁能谱(ESR)测试加速辐照60 min单晶硅器件材料的缺陷没有明显增加。组阵型实验室电池原型样机在64个月的室温储存中,基本单元的辐伏输出性能衰减比氚的自发衰变衰减有小幅增大,增大幅度小于11.4%;另外,组阵中单元之间串并联电连接有部分失效,这是后续应重点关注的问题。 相似文献
3.
CLAM钢、EUROFER97钢与钨在HT-7托卡马克中辐照后的表面分析 总被引:3,自引:0,他引:3
两种低活化马氏体钢(CLAM、EUROFER97)以及钨被放入HT-7托卡马克的刮削层中,以研究托卡马克装置中高温等离子体与低活化马氏体钢和钨表面的相互作用。通过SEM装置观察,发现某些样品的表面形貌发生了很大变化。低活化马氏体钢的表面起泡比较密集,钨的表面起泡比较稀少,且直径较大。在一些样品的表面,还观察到了等离子体灰尘以及明显的被等离子体冲击后的痕迹。另外,XPS分析发现样品表面的某些元素成分也发生了变化,而且处在托卡马克装置中不同位置处的样品,其表面硅的含量呈现出明显的规律性。 相似文献
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5.
实际环境样品基体成分十分复杂,多原子离子对二次离子质谱(SIMS)单微粒铀同位素比分析的影响不可忽略。本文实验分析了Pb、Ni、Zn、Si的多原子离子在SIMS单微粒铀同位素比分析中的干扰,并分别采用提高质量分辨率以及根据核素离子强度扣除其多原子离子的方法对结果进行校正。结果表明:Pb和Ni的多原子离子会影响含铀微粒次同位素比的测量,对铀主同位素比的影响可忽略;Zn和Si的多原子离子对铀主、次同位素比测量均基本无影响。将质量分辨率提高至800,能完全消除Ni多原子离子的影响,Ni-CRM U030混合(Ni粉混合CRM U030)微粒234U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于5%,236U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于15%;Pb多原子离子干扰无法通过提高质量分辨率进行消除,根据Pb离子强度扣除其多原子离子后,Pb-CRM U030混合微粒的234U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于10%,236U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于50%。将以上消除干扰的方法应用于真实样品分析,结果表明,其有效消除了多原子离子带来的干扰。 相似文献
6.
本文结合2001年波兰比亚韦斯托克肿瘤中心(BOC)医用电子加速器辐射事故及该机构的放射治疗设备概况,对波兰电离辐射安全监管体系进行了介绍,并对辐射事故过程、应急响应、IAEA救援、剂量评估、临床过程、结果和经验教训等方面进行了分析和说明。实践表明,导致向患者输出剂量率比预期高许多倍的原因包括:医疗机构的供电不稳定,NEPTUN10P型医用加速器不符合IEC颁布的最新标准,电子枪灯丝电流限制值设置在较高的水平,束流监测系统故障,二极管故障,安全联锁失效,显示屏剂量率低于实际值。IAEA援助小组的建议与援助、剂量评估以及良好的医疗条件为患者提供了医疗保障。本文可作为辐射事故应急的参考。 相似文献
7.
2MeV质子辐照对Zr-4合金显微组织的影响 总被引:3,自引:0,他引:3
通过密西根大学离子束表面改性和分析实验室的大束流加速器研究了Zr-4合金的质子辐照效应。结果表明:当原子离位损伤率约1×10-5 dpa/s,在350癈 质子辐照损伤分别达到2dpa、5dpa和7dpa时,辐照后位错环的密度分别为7×1021/m3、8×1021/m3、15×1021/m3,尺寸分别为7nm、11nm和11nm,表明位错环的密度和尺寸随质子辐照注量有增加的趋势。辐照前后的明场像、高分辨相和电子衍射花样均表明,在350癈 2MeV的质子辐照没有使锆4合金中的hcp-Zr(Cr,Fe)2和fcc-ZrFe2沉淀相发生非晶化转变。 相似文献
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青岛市环境微波辐射的测量分析与卫生学评价 总被引:1,自引:0,他引:1
本文从环境保护的目的出发,论述了青岛市已建、拟建大型电磁辐射体环境微波辐射的测量理论、测量技术及计算方法。根据测量计算结果并参照微波辐射的公众安全限值,对辐射体在环境空间的微波辐射对公众的影响作出卫生学评价。 相似文献
10.
张丽萍 《等离子体科学和技术》2016,(4):360-363
The instability of terahertz(THz)plasma waves in two-dimensional(2D)quantum electron gas in a nanometer field effect transistor(FET)with asymmetrical boundary conditions has been investigated.We analyze THz plasma waves of two parts of the 2D quantum electron gas:gated and ungated regions.The results show that the radiation frequency and the increment(radiation power)in 2D ungated quantum electron gas are much higher than that in 2D gated quantum electron gas.The quantum effects always enhance the radiation power and enlarge the region of instability in both cases.This allows us to conclude that 2D quantum electron gas in the transistor channel is important for the emission and detection process and both gated and ungated parts take part in that process. 相似文献
11.
Tomographic Analysis of Central MHD Activities and Radiation Losses on the HL-2A and LHD 总被引:1,自引:0,他引:1
Results of the two-dimensionally reconstructed distribution of soft X-ray emission in HL-2A and electromagnetic radiation in large helical device (LHD) are presented. Hardware improvements of in-vessel soft X-ray cameras and the development of tomographic software have made detailed and visual studies of soft X-ray emission possible in HL-2A. Several algorithms are employed in order to get as detail as possible in the images while keeping the guiding assumptions to a minimum. Recently success has been achieved in applying a 2D peeling away algorithm for tomographic reconstruction of LHD bolometric data jointly under the China-Japan collaboration. The data analysed so far have been used to study magnetohydrodynamic (MHD) instabilities on HL-2A tokamak and radiation losses on LHD. 相似文献
12.
《Journal of Nuclear Science and Technology》2013,50(10):723-730
In a high voltage electron microscope, solution treated Type 316 stainless steel was electron-irradiated at temperatures in the range of 370–630°C to a dose of about 30 dpa. The swelling (ΔV/V) induced by the irradiation beyond about 5 dpa is well described by an empirical equation, ΔV/V=A(dpa) n , under constant void and dislocation densities. With increasing irradiation temperature, the fluence exponent n increases and the pre-exponent term A decreases. At 550°C irradiation, the fluence exponent takes the value of 1.5 due to the diffusion-limited void growth. The value of n larger than 1.5 at higher temperature (>550°C) is attributable to the surface reaction-limited void growth. The smaller value of n for the low temperature (?500°C) irradiation appears to arise from the dislocation assisted vacancy diffusion. The peak swelling temperature of the specimen irradiated to 30 dpa is about 570°C, which shifts to a higher temperature with increase in electron dose. 相似文献