适用于便携和消费电子产品的新型超低功耗差分信号接口技术

消费电子和通信产业正见证着I／O解决方案从并行到高速串行的转变，能够降低成本，简化设计，并具备可延展性，能满足全新带宽的要求。这类接口I／O技术的市场潜力巨大，包括移动电话、DVD—RW和高清晰度LCD电视机，而低功耗、低电磁干扰（EMI）和高数据吞吐量在这些应用中极为重要。因此，业界一直致力于设计和开发这些串行I／O，以低功耗提供高速的数据速率，并且能改善EMI性能。近年发表的文章许多都说明在串行接口中采用差分信号技术取代单端技术的优点，然而，关于在信号传输层面上推动这个转变的隐藏力量却鲜有谈及。     

一种基于Rocket I／O的视频数据采集和高速串行传输系统的设计与实现

介绍了一种以VIRTEX Ⅱ PRO系列FPGA中Rocket I／O为核心的视频数据采集和高速串行传输系统的实现方案。分析了高速串口通信的同步方法，自定义了一种简单的数据帧结构，完成了数据率为1．25Gbps的点对点高速传输。     

基于80C196KC单片机的多片24C32的应用

介绍了如何在C语言编程环境下使用80C196KC单片机的高速输出口HSO提供串行时钟，再通过80C196KC的双向I／O口发送接收数据，实现同时用多片24C32存／取数据的功能。在给出C语言编程实例的同时简要介绍了硬件设计。     

低功耗256Mb FCRAM

用于消费类数字电子产品的低功耗256Mb FCRAM MB81EDS256545拥有64bit位宽的I／O口及使用低功耗DDRSDRAM接口，其数据吞吐速度相当于两个拥有16bit位宽I／O口的DDR2SDRAM，同时能减少最大约1W的功耗，从而降低了消费类数字电子产品的功耗，适合数字电视和便携式摄像录像机等消费电子产品。     

XILINX推出622Mbps-10．3125Gbps串行收发器的VIRTEX-4 FX60 FPGA

赛灵思公司日前宣布向客户发货首批带有集成622Mbps-10．3125Gbps串行收发器的Virrex-4 FX60 90nm FPGA，该款FPGA可比业界其他竞争高速串行I／O解决方案提供更佳的设计余量和灵活性。赛灵思设计Virtex-4 RocketIO收发器旨在为客户提供充分的高端性能和最多的设计余量。对于运行速度低于10．3125Gbps的设计，它可保证设计人员在需要时获得更高带宽。     

适用于便携式产品的低功耗IGLOO系列FPGA

低功耗的IGLOO系列FPGA在Flash工艺的ProASIC3FPGA基础上，采用了多种功率优化技术和130nm工艺，使静态功耗降至5uW，可延长便携式应用的电池寿命达5倍，满足了便携式应用对功耗的严苛要求。IGLOO系列FPGA支持1．2V电压，具有多种功率模式以优化功耗，包括Flash＊Freeze模式、低功耗工作模式和睡眠模式。在Flash＊Freeze模式下，Flash＊Freeze技术能够节省功耗，无须关断电源，同时维持FPGA的内容。I／O处于三态，SRAM和寄存器内容得以保存，但时钟不翻转，I／O、JTAG引脚和PLL不会消耗功率，设计人员还能利用Flash＊Freeze引脚在1μS之内迅速及简便地进入或退出特殊的低功耗模式。     

USB OTG收发器

强电流Vbus、全速率USB On—the—Go(OTG)收发器TD6100的内置充电泵能够提供100mA的电流，串行I^2C总线接口用于OTG状态和命令控制，还支持采用UART的通信接口。I／O电压为1．65～3．6V，并且具有低功耗模式，     

高速I／O接口技术

现代通信技术朝着高速、精确的方向发展,尤其是高速串行通信,逐渐成为通信技术的主流,在各行各业扮演着极其重要的角色,文中简述了高速I／O的相关技术,如SERDES（串行器／解串器）技术、8B／10B编码、COMMA字符、预加重等,并列举了具有代表性的Xilinx公司的FPGA产品,展示了RocketIO技术的实际应用。     

便携产品的低功耗差分接口技术

消费电子和通信领域的设计正在见证一个从并行到高速串行IO解决方案的转变。接口技术正在经历快速的增长，它能平衡非常高的数据率、低功耗及改善的EMI性能等等这些相互冲突的要求。本文分析最通用的差分信号技术的结构，展示信号功耗、吞吐量和电磁干扰（EMI）发射之间如何权衡。本文还介绍了一种新的IO方法——电流传输逻辑（CTL）。     

一种在高速I/O接口嵌入边界扫描电路的方法

描述了一种对原电路具有最低影响的,将边界扫描单元嵌入到高速I／O接口电路的方法。在该方法中,我们对传输端利用1149．1标准。将边界扫描驱动寄存器插入到低速并行端口。而在接受端则利用IEEE 1149．6标准将边界扫描接收寄存器插人到高速串行端口。在并行端插人边界扫描驱动单元可以减少数据传输的延迟时间,降低对原电路正常工作的影响。在接受串行端插入扫描接收单元可以对交流耦合高速I／O口进行有效的测试。最后通过芯片测试举例证实了使用该方法确实能够对高速I／O口进行工艺缺陷的测试。同时又不影响原电路的正常工作。