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相似文献
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1.
助烧剂对热压Si3N4基陶瓷组织结构的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
用XRD,SEM,TEM分析了用Y2O3+Al2O3及Y2O3+AlN做助烧剂的两种热压Si3N4基陶瓷的组织结构,用EDXA分析了Si,Al,Y等元素的含量。结果表明,两种Si3N4都是由长柱状β相组成;  相似文献   

2.
陈俊芳  丁振峰 《功能材料》1998,29(3):322-323
采用电子回旋共振等离子体化学气相沉积(ECR-PECVD)技术制备了Si3N4薄膜。利用显微硬度计测定了Si3N4薄膜的表面微硬度。由摩擦测试机对SiN4薄膜的摩擦性能进行了测试分析。结果表明,Si3N4薄膜的摩擦系数和单位时间的磨损量较小,该膜具有良好的耐磨性和耐划伤能力。  相似文献   

3.
电沉积Ni—P,Ni—P—Si3N4非晶态合金及其结构,性能研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
王德英  徐有容 《功能材料》1998,29(5):502-505
研究了Ni-P、Ni-P-Si3N4非晶态合金薄膜的是沉积工艺,通过SEM-EDS,XRD,EMPA等微观分析方法,提出了获取8 ̄14wt%Ni-P和Ni-P-Si3N非晶合金镀层的镀液组成和电沉积参数。实验表明,Ni-P非晶态合金镀层在碱液中具有优越的耐蚀性能,在含Cl^-1的中性盐液中有良好的耐蚀性,且不产生点蚀;Ni-P-Si3N4非晶合金镀层,经晶化处理后,耐蚀性能提高,且与基材呈冶金结合  相似文献   

4.
本文以炭黑和气凝氧化硅为原料,采用碳热还原氨化的方法制备纳米SiC-Si3N4复合粉体;复合粉中SiC的含量由起始粉中C:SiO2的摩尔比控制.在复合粉体的表征中用XRD线宽法测量SiC粒径大小.TEM照片显示Si3N4粒径在100~200nm;SiC为纳米级.文中还对生成复合粉体的反应机理进行了探讨.同时利用这一工艺制备出单相的Si3N4粉和SiC粉.  相似文献   

5.
Ag/Si3N4纳米复合材料的电学性质研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
利用干压方法制得了0-70vol%Ag弥散的Ag/Si3N4纳米复合材料。借助于SEM,EDS和复阻抗谱等方法研究了Ag/Si3N4复合材料的结构和反常电学性质。结果表明,纳米Ag粒子以μm尺寸的团聚体形式存在于纳米Si3N4基体中。  相似文献   

6.
纳米SiC—Si3N4复合粉体的制备及研究   总被引:5,自引:0,他引:5  
本文以炭黑和气凝氧化硅为原料,采用碳热还原氮化的方法制备纳米SiC-Si3N4复合粉体;复合粉中SiC的含量由起始粉中C:SiO2的摩尔比控制。在复合粉体的表征中用XRD线宽法测量SiC粒径大小。TEM照片显示Si3N4粒径在100 ̄200nm;SiC为纳米级。文中还对生成复合粉体的反应机理进行了探讨。同时利用这一工艺制备出单相的Si3N4粉和SiC粉。  相似文献   

7.
以N2,CH4作为反应气体,采用微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD)进行碳氮膜的合成研究。通过控制反应温度、气体流量、微波功率、反应气压,在Si(111)和Si(100)基底上气相合成β-C3N4晶态薄膜。扫描电子显微镜(SERM)下观察到生长在Si基底上的薄膜具有六角晶棒的密结构。EDX分析胡沉积条件的不同,六角晶棒中N/C在1.0~2.0之间。X射线衍射分析(XRD)发现薄膜中含有β-C3  相似文献   

8.
在采用熔盐热析出反应在Si3N4陶瓷表面沉积钛金属膜的基础上,对CuAg合金在金属化表面的润湿性进行了研究,结果表明,CuAg合金能对采用该方法金属化的Si3N4陶瓷实现良好润湿,在此基础上,成功实现了钛金属化Si3N4陶瓷与Si3N4陶瓷的连接并对连接工艺进行了系统研究。连接界面的TEM研究发现,界面上广泛存在Ti-Cu-Si-N相并对这种相对连接强度的影响进行了讨论。  相似文献   

9.
概述了新型超硬材料-氮化碳的晶体结构和合成C3N4的实验方法,以及C3N4薄膜的TED,XRD,XPS,FTIR,Raman和Hv的测试结果。  相似文献   

10.
Si3N4陶瓷材料高温氧化层的分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用XRD,EPMA,XPS和SEM的分析方法,研究了在1300℃下氧化后Si3N4陶瓷材料表面氧化层的组成的形貌,结果表明,Si3N4陶瓷材料的表面氧化层是由方石英相和含有Al2O3,CaO等杂质的SiO2质玻璃相所组成,其中SiO2玻璃相听Al2O3,CaO等杂质的含量随氧化时间的增加而逐渐增加,同时在氧化层的内部都还存在部分Si2N2O相。  相似文献   

11.
用反应离化团束(RICB)法,以低分子量聚乙烯为蒸发材料,氨气为反应气体,在NaCl(100)和Si(100)衬底上淀积C-N薄膜,透射电子衍射(TEM)分析表明薄膜中含有β-C3N4晶粒,X射线光电子谱(XPS)和红外吸收谱(IR)表明存在C,N原子的化学键合。  相似文献   

12.
常压MOCVD制备MgO薄膜的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
曾建明  王弘 《功能材料》1996,27(4):342-346
本文首次报道用常压金属有机化学气相沉积(AP-MOCVD)在Si(100),SiO2/Si(100)和Pt/Si(100)衬底上外延高质量的MgO薄膜。研究了衬底温度与薄膜的取向性关系和MgO薄膜的潮解特性。高纯magnesiumacetylacetonate[bis(2,4-pentanetane-diono)magnesium][Mg(CH2COCH2COCH3)2]作为金属有机源,扫描电镜(SEM),透射电镜(TEM)和X-RAY衍射实验显示,在较低的衬底温度(~480℃)下一次淀积成单晶膜。薄膜均匀,致密,结晶性和取向性很好,衬底温度(Ts)在400℃到680℃之间,在Si(100)衬底上生长的MgO薄膜都具有[100]取向,在Si(100)、SiO2/Si(100)和Pt/Si(100)衬底上生长的MgO薄膜也都具有[100]取向。  相似文献   

13.
采用微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD),使用高纯N2(99.999%)和CH4(99.9%)作反应气体,在多晶Pt(99.99%)基片上沉积C3N4薄膜。X射线能谱(EDX)分析结果表明N/C原子比为1.0~1.4,接近C3N4的化学比;X射线衍射谱(XRD)说明薄膜主要由β-和α-C3N4组成;X射线光电子谱(XPS)、傅立叶变换红外谱(FT-IR)和喇曼(Raman)谱说明在C3N4薄膜  相似文献   

14.
自韧Si3N4陶瓷的显微结构及其性能研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
利用热压的方法制得室温断裂韧性和抗弯强度分别为11.2MPa·m ̄(1/2)、823MPa,高温(1350℃)断裂韧性和抗弯强度分别为23.9MPa·m ̄(1/2)、630MPa的自韧Si_3N_4陶瓷。研究了显微结构和力学性能之间的关系。结果表明:玻璃相的含量、β-Si_3N_4的长径比等对性能有重要影响。分析了自韧Si_3N_4陶瓷的增韧机理,通过SEM明显观察到Si_3N_4中存在裂纹偏转、分支和β-Si_3N_4拔出现象。  相似文献   

15.
采用Si3N4陶瓷刀具切削Ti基陶瓷,YT15硬质合金和高速钢四种刀具对304奥氏体不锈钢进行了切削试验,比较各种刀具的耐磨性能,并且用SEM,EDX等对刀具的磨损表面进行分析。  相似文献   

16.
本文以TEM和EDS为主要分析手段,研究了不同颗粒增强的Al-4%Mg复合材料的界面及其基体中的微观结构,探讨了它们的形成原因。结果表明:SiO_2颗粒与基体间为反应结合,Al_2O_3和SiC则基本上为机械结合。  相似文献   

17.
本文以TEM和EDS为主要分析手段,研究了不同颗粒增强的Al-4%Mg复合材料的界面及其基体中的微观结构,探讨了它们的形成原因。结果表明:SiO_2颗粒与基体间为反应结合,Al_2O_3和SiC则基本上为机械结合。  相似文献   

18.
PECVD方法制备SnO2气敏薄膜的电子显微镜研究   总被引:3,自引:1,他引:3  
赵永生  阎大卫 《功能材料》1994,25(2):144-149
通过SEM、TEM研究了PECVD方法制备的SnO_2薄膜的显微结构,讨论了沉积速率与颗粒大小的关系;在Si、陶瓷和KBr3种不同衬底上沉积的SnO_2薄膜的差异以及退火对SnO_2膜结晶状态的影响。结果表明,PECVD方法制备的SnO_2薄膜是非晶态,具有柱状结构。退火使非晶SnO_2膜向着多晶方向转化,演化过程为:非晶大颗粒→超微粒多晶→晶粒长大。  相似文献   

19.
MPCVD合成β—C3N4晶态薄膜   总被引:1,自引:0,他引:1  
时东霞  顾有松 《真空》1999,(1):18-22
采用微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD),以N2,CH4作为反应气体合成碳氢膜。通过控制反应温度,气体流量,微波功率,反应气压等工艺条件在Si和Pt基片上,进行β-C3N4晶态薄膜的合成研究。扫描电镜下观察到生长在Si基底上的薄膜晶有六角晶棒的密排结构。扫描隧道显微镜下观察到在Pg基底上生长的碳氮薄膜由针状晶粒组成。  相似文献   

20.
Si3N4/SiC纳米复合陶瓷的微观结构   总被引:5,自引:0,他引:5  
利用JEM2000EXⅡ高分辨电镜和HF2000冷场发射枪透射电镜对Si3N4SiC纳米笔合陶瓷材料的微观组织,结构和成分进行了研究。结果表明,SiC颗粒弥散分布基体相β-Si3N4晶内和晶界,晶内SiC颗粒与基体相的界面结构有三种类型;1)直接结合的的界面;2)完全非晶态的界面;3)混合型的界面,晶间SiC颗粒与基体相的界面大部分是直接结合的。  相似文献   

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