录井现场碳酸盐岩分析识别方法研究

为了提高录井现场碳酸盐岩分析识别的准确率,总结了碳酸盐岩化学组成及分类方法,对碳酸盐岩识别的X射线荧光元素分析方法、碳酸盐岩分析仪分析法及激光光谱元素分析方法进行了详细的介绍,讨论几种方法的优缺点,对gc-7井8个碳酸盐岩样品运用X射线荧光元素分析法进行分析,将分析结果与碳酸盐岩分析仪测定的结果进行了对比,总体上2种分析方法得出的结果一致性较好,部分样品存在差异。     

录井现场碳酸盐岩分析技术探讨

在录井现场快速准确地识别碳酸盐岩对于岩屑剖面归位、地层对比具有重要意义,目前录井现场使用的碳酸盐岩分析仪受到多种因素的影响,分析结果存在一定误差,为了提升仪器分析精度,在实验室通过改变单一条件,对影响因素进行了分析,结果表明,碳酸盐岩分析仪工作最佳条件为25℃,样品研磨至200目,盐酸浓度18%,样品反应时间需达到12min。按此操作规范,能够显著提升碳酸盐岩分析准确性,对提升录井工作质量具有重要意义。     

X射线荧光技术在勘查金矿中的应用研究

利用聚类分析技术找出金的伴生元素,通过X射线荧光技术测定金的伴生元素,建立回归模型来推算出金的品位.由于便携式X射线荧光技术能够在野外现场对岩石、土壤中的多种元素进行快速定性、定量分析,因而在野外现场圈定金矿远景区和追索隐伏矿体工作中具有重要意义.     

能量色散X射线荧光分析仪专用分析软件的开发

选矿生产中,采用X射线荧光分析仪分析品位,一方面有助于快速监测品位变化从而指导生产,另一方面节省化验成本。研究开发X射线荧光分析仪的关键是开发具有自主知识产权的分析软件。作者在深入研究国内、外能量色散型X射线荧光分析仪的基础上,掌握了该类仪器上位机软件的特点和必备的功能,结合自行开发的实验室台式X射线荧光分析仪,在Visual C++6.0开发平台上设计与开发了荧光分析仪专用分析软件。该软件除具备基本的定性和定量分析等功能之外,还针对仪器本身X射线计数率存在漂移的问题,设计了参比校正模块,一定程度上提高了仪器精度并克服了长期漂移。     

提高X荧光分析测量准确性的实践

介绍库里厄30型X荧光分析仪在广东凡口铅锌矿测定分析Fe、Pb、Zn、Ag等元素中,通过不断提高分析测量的准确性,使浮选操作人员可依据X荧光分析仪测量的数据进行操作,提高了选矿指标,在控制产品质量上起到了重要作用。     

X射线荧光元素录井技术应用方法研究

X射线荧光元素录井技术作为21世纪初提出的新型录井技术，此技术依然处于试验阶段并进行了大量的应用研究。为促使上述技术完善并成熟后获得大面积应用，实现建立对应的解释评价方法，可有效针对常规钻井工艺（如PDC钻井、空气钻井）等使用导致的通常化岩屑录井法难以对岩性进行识别的问题。通过岩屑X射线荧光元素录井技术的试验性应用，完成了X射线荧光元素录井技术的初期应用，并实现了此地区的基本岩性识别和地层划分有关的解释评价方式。研究结论表明：岩性的特征和元素含量变化二者存在关联，使用X射线实施荧光元素分析，可对岩性识别及地层划分提供一定的依据，此种定量化元素分析数据可解释评价某一特定地区的地层物性。     

气测录井过程中样品气除水方法研究

气测录井是录井现场发现油气显示的重要手段。为了提高气测录井资料的准确性、降低色谱分析仪故障率,分析了样品气含水对气测录井的影响,设计制作了样品气除水装置,实践表明该装置在录井现场的应用效果较好,具有较好推广应用前景。     

基于STM32的新型X荧光在线品位分析仪的研制与应用

矿浆品位的测量一直是选矿行业的研究重点与技术难点,其测量精度的实时在线反馈直接影响了选矿工艺流程自动化控制的效果。为实现对选矿工艺流程中矿浆元素品位更加准确的测量,在上一代有核在线品位分析仪的基础上改进研发了新一代无核X荧光在线品位分析仪。该新型X荧光在线品位分析仪基于STM32F407控制芯片,采用X光管与半导体探测器相结合的测量结构,其技术架构与分析原理是：X光管与半导体探测器组成测量单元,由X光管激发的X射线照射到需要测量的矿浆表面,同时半导体探测器接收矿浆中待测元素被激发出的X特征荧光;主控单元接收处理半导体探测器上传的数据信号,通过串口通讯将所测元素计数率发送给工控机上位软件;最终上位软件调用Matlab数学分析工具同时采用BP神经网络进行数据的建模分析并得出品位数值。绍兴某选矿厂现场工业试验结果表明,相比较于上一代有核品位分析仪,该新型X荧光在线品位分析仪的测量精度与运行稳定性等均有了显著的提高,各项参数均达到了设计要求。     

多道全聚焦X射线荧光分析仪

X射线荧光分析仪是一种快速测定样品中各种元素含量的大型仪器。这种仪器在科研各部门以及冶金、地质、化工、石油、建材和机械等生产部门,已广泛应用。为适应冶金工业迅速发展的迫切需要,和有关单位合作,研制成了多道全聚焦X射线荧光分析仪。这种仪器的特点是采用全聚焦弯曲晶体;结构简单;操作方便;分析速度快,一次可同时分析六种元素;分析范围广,可从     

多道全聚焦 X 射线荧光分析仪

X 射线荧光分析仪是一种快速测定样品中各种元素含量的大型仪器。这种仪器在科研各部门以及冶金、地质、化工、石油、建材和机械等生产部门,已广泛应用。为适应冶金工业迅速发展的迫切需要,和有关单位合作,研制成了多道全聚焦 X 射线荧光分析仪。这种仪器的特点是采用全聚焦弯曲晶体;结构简单;操作方便;分析速度快,一次可同时分析六种元素;分析范围广,可从11号元素钠到92号元素铀;分析精度高;再现性好;适用于生产过程的控制分析。     

国外放射性同位素X射线荧光分析仪及其应用

一、概述放射性同位素X射线荧光分析仪是最近发展起来的一项新技术。在国外,它正在广泛应用于地质、勘探、采矿、选矿、冶炼和金属加工等工业部门。放射性同位素X射线荧光分析仪的基本原理是用放射性同位素源激发被测元素,使之产生特征X射线,并用罗斯过滤片或脉冲高度分析器对它进行能量选择(又称非色散     

在线衍射矿物分析仪

芬兰奥托昆普公司电子设备部已经研制了库里厄40在线分析仪,用于对过程矿流的矿物进行直接分析。该测定基于X射线衍射原理,X射用荧光测定对同时具有衍射测定的元素分析来说也是有效的。     

流程X射线荧光分析的矿浆系统

<正> 为了在选矿生产中及时了解和掌握矿浆中有用元素的品位,白银公司选冶厂和白银矿冶研究所共同研制了流程X射线荧光分析仪,与此同时,对矿浆系统也进行了研究,因为良好的矿浆系统是流程X射线荧光分析的     

关于矿浆载流X荧光分析仪的物理模型

由矿浆载流X荧光分析仪探测到的是X射线的辐射强度,它以脉冲计数来表示。这些脉冲计数表明了一次X射线在该波长上的背景辐射和元素特征辐射的总和,而辐射波长取决于被分析的矿浆中各个元素的原子序数。因此,只探测被测元素的特征辐射就难以准确地     

提升录井现场岩性判准率的措施探讨

随着钻井工艺技术的提升,在提升机械钻速的同时,也造成了岩屑细碎、代表性差等问题。同时勘探目标的转变,页岩气、页岩油等非常规储层成为勘探的热点,给岩屑录井工作带来了新的挑战。为此,需要加强录井现场岩屑录井质量工作的管理,提升岩屑识别的准确性,同时加强元素分析等新技术的应用,提高复杂岩性识别的准确性及可靠性,切实保证岩屑录井质量,持续发挥地质录井在油气田开发中的重要作用。     

X荧光分析仪数学模型的研究

本文叙述了实验室型X荧光分析数学模型和载流X荧光分析仪数学模型的研究方法,介绍了国外某些作者对这些数学模型的研究情况和结果,同时提出了适用于国产G4—1K型载流X荧光分析仪的数学模型。作者和他的同事们在这个动态模型中引入了具有回归显著性的待测元素与共存元素荧光效应的交叉乘积项,提高了模型的精度,减少了回归方程的剩余标准差。     

矿浆载流X荧光分析仪的标定技术

<正> 前言近十年来X荧光分析技术日益广泛应用于选矿厂快速分析矿浆中的金属品位,它已成为实现选矿生产过程计算机控制的基础和必要条件。这种技术的典型产品是芬兰奥托昆普公司的库里厄—300型载流分析系统,其工作原理和系统构成已有文章介绍。由于X荧光光谱仪给出的信息是X射线强度,它是被测样品中元素含量的相对代表量而不是金属品位值,尤其是在选矿厂矿浆中经常含有其它共生元素,其X射线强度相互影响,矿浆浓度又经常波动,因此为了使X荧光分析仪得到满意的分析精度,不仅仪器本身质量要高而且在很大程度上取决于标定工作的好坏。标定技术属于X荧光分析仪     

工艺矿物学在选矿中的应用

矿石的工艺矿物学研究对选矿工艺的确定具有重要的指导意义。从目前国内工艺矿物学研究的分析检测技术设备着手,综述了光学显微镜、扫描电子显微镜、X射线衍射分析仪、X射线荧光光谱仪等检测设备在工艺矿物学研究中的作用,分析了国内工艺矿物学研究在选矿中的应用发展现状。     

用X射线分析仪控制选矿厂工艺过程

叙述了芬兰奥托昆普Mintec公司制造的X射线分析仪研究和在选矿厂中应用的进展。讨论了选矿样品采集、X射线光谱分析、仪器校准、控制附件的应用、X荧光分析以及X射线分析仪控制的技术和经济性。     

X荧光现场取样技术在大红山铜矿的应用

介绍了利用自行研制的便携式X射线荧光分析仪在大红山铜矿井下用X荧光取样分析代替人工打点取样分析，现场原位测量岩壁Cu、Fe品位的应用情况。采用的仪器是由^238Pu同位素源、正比计数管、多道脉冲幅度分析器、便携微机系统等组成的能量色散型分析仪，具有自动稳谱功能。研究结果表明：X荧光取样的原矿品位与化学分析结果相比，Cu相对误差在10％以内的合格率达到95％，Fe相对误差在5％以内的合格率为90％，完全能满足矿山生产的要求。