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基于帧转移型面阵CCD的成像原理,探讨了光电转换、电荷转移和电荷检测三个成像阶段存在的一些关键性问题,如像元响应的不一致性、相机抖动、电荷转移效率、帧转移模糊等,建立了相应的数学模型,并利用VC++6.0开发平台搭建了一整套CCD成像仿真系统。最后利用实验的方法,通过改变转移效率、曝光时间等CCD成像参数,分析比较了仿真结果。实验表明,该数学模型与面阵CCD器件成像过程较为吻合,仿真系统准确度较高。 相似文献
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为实现输出图像质量判定自动化,提出了丢帧法,该方法具有能自动化、与马赛克捕捉法一致、易实现的特性。对用丢帧法判定的原理、必要性、可行性及其实现做了分析,并就实际应用的效果做了描述,经过测试,证明丢帧法是可以实用的。 相似文献
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采用2μm设计规则,在2μm工艺线上,成功研制了1 024×1 024全帧CCD器件。该1 024×1 024全帧CCD器件的有效像元数为1 024×1 024,像元尺寸为11μm×11μm,有效光敏面积为11.3mm×11.3mm,光响应波长范围为400~1 100nm。成像区域横向分为2个区,纵向分为2个区,可由1路、2路和4路输出,有9种读出模式。该器件具有2×2的像元合并功能,能作为512×512(像元尺寸为22μm×22μm)和规格的器件使用。该器件数据速率为4×40M,数据速率高。器件采用MPP工作模式,暗电流低;采用薄栅氧化,具有100krad(Si)抗辐照能力;适合在高温、辐照环境和微光环境下成像应用。 相似文献
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1991年6月,日本SONY公司在北京举行新技术发布会,全国各省级电视台有关技术人员及电视行家参加了这次发布会。在会上,当SONY一位技术人员介绍SONY CCD彩色摄像机中谈到CCD彩色摄像机水平分辨力计算公式水平像素数×3/4(4:3为电视帧宽比)时,我国某省一位技术人员提出异议,询问SONY技术人员水平分辨力为什么与电视帧宽比有关。 相似文献
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CCD的设计和制作以往的一些论文,论述了HgCdTe四相表面沟道CCD线列移位寄存器的研究情况,首先是电荷转移效率0.996的8位CCD线列,后来发展到16位和32位线列,电荷转移效率为0.999。最近资料〔4〕又对以上工作作了评论。这些工作都建立在使用ZnS和HgCdTe自身氧化物的MIS技术基础上。本文将讨论这项工作在面阵和改善线列性能方面的发展,主要目标是把HgCdTe CCD阵列用在机械扫描的红外成像探测系统上。在这种应用中,可用时钟脉冲控制CCD势阱穿越阵列 相似文献
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新一代高性能与便携式超声系统性能往往需要在成像质量与诊断能力以及功耗之间进行平衡。ADI公司为满足这一需求日前推出了两款新产品,其中AD9272具有业界最低的终端噪声,适合需要获得卓越图像质量的高、中端推挽式超声设备;而AD9273在同类产品中,能提供最高的电源效率,满足便携式超声系统的需求。 相似文献
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采用三相帧转移结构研制了600(V)×500(H)元CCD摄像器件。像元尺寸为24μm×24μm。制作该器件采用了三层多晶硅交迭栅和一层铝布线技术,同时采用了n型埋沟技术。器件的转移效率为99.995%,水平极限分辨率为350TV线,动态范围是52dB。器件以标准帧速工作,时钟频率10MHz。文章介绍了该器件的设计和研制。 相似文献
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为提升遥感相机的高密度组装技术,采用厚膜集成电路技术设计了高集成度的TDI CCD成像系统,并对该成像系统中的具体设计做了详述。首先TDI CCD焦平面通过机械拼接方式拼凑成可复制的单元。然后,通过三极管射极跟随器增强CCD输出图像信号强度传送给模拟前端芯片LM98640中转换成14 bit的数字信号,再传给现场可编程门阵列芯片XC5VLX50T-1FFG1136C缓存和整合处理。最终,通过TLK2711高速LVDS输出芯片传输给数据采集卡并在计算机上成像。该成像系统中所有的驱动信号和处理时序都是通过现场可编程门阵列产生的,计算机可以通过RS422通信总线对成像系统进行控制和部分参数修改。该系统中的驱动电路和CCD二次电源电路采用厚膜集成电路技术设计,提高了系统的集成度。实验结果表明:整个系统基于厚膜技术,驱动电路PCB电路板减少了2/3的面积,同时采用了机电热一体化的设计,实现了相机的高密度组装。该系统总数据输出速度达到3.6 Gbps,饱和输出图像信噪比52.6 dB。 相似文献
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美国喷气推进实验室目前正在研制一种基于电荷耦合器件(CCD)的高速成像系统,该系统被称为实时、事件驱动(RARE)摄像机,它能从位于CCD视场内的多个子窗口(也称所关心区域)中读出信息。所关心区域的尺寸和位置可以实时控制并能以摄像机帧速进行改变。 相似文献
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系统地介绍了CCD成像传感器降噪技术的研究进展.重点介绍和分析了CCD复位噪声降噪技术和非均匀性校正技术的研究进展.特别介绍了用于克服CCD复位噪声的数字域加权双斜积分技术、基于场景的非均匀性校正技术以及多CCD成像系统的非均匀性校正技术.最后展望并讨论了CCD成像传感器降噪技术的发展趋势. 相似文献
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CCD成像型亮度计测量方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
利用CCD成像的特点,通过分析CCD成像过程中亮度与数字图像灰度之间的关系,提出了CCD成像型亮度计的设计方法。使用积分球作为标准亮度光源,对CCD拍摄得到的数字图像中像素灰度值与实际亮度之间的关系进行标定,得到图像像素灰度与测量点亮度之间的对应关系,保证亮度测量的准确性。通过对不同曝光时间下亮度分布的测量,拓展CCD成像型亮度计的测量范围。同时为了保证不同曝光时间下亮度的测量精度,将不同曝光时间下的图像灰度结果与积分球产生的标准亮度进行对比,实现成像型亮度计的非线性校正。利用光度特征匹配方法,保证光度计的相对光谱灵敏度与标准光度观察者的光谱光效率接近,减小测量误差。根据CCD成像型亮度计的标定和测量原理,使用Visual C++编制相应的软件,并进行了标定和测量试验来验证CCD成像型亮度计的测量方法,取得了较好的效果。 相似文献