飞点扫描X射线背散射系统研究

围绕车辆贩运违禁品的精确、快速查缉需求,开展了小型化、低辐射的飞点扫描X射线背散射系统研究。设计了小型化飞点扫描X射线背散射系统的斩波机构、背散射探测器。利用研制的系统开展了X射线背散射成像实验,研究了X射线能量、功率对系统成像对比度和信噪比的影响。实验表明,系统成像分辨率约为2 mm,能够准确检测出隐藏在陶瓷物品中的毒品模拟物。小型化飞点扫描X射线背散射系统的研究可为车辆安检难题和降低检测中的辐射危害提供参考。     

安检设备中探测器箱的Pro/E设计方法研究

探测器箱是X射线安全检查设备中的一种重要部件。同时为了防止探测器箱体泄露X射线,需要对其内表面做粘贴铅板处理,合理的铅板设计可降低探测器箱体的X射线泄露量。因此,在现有设计方法的基础上,研究了一种全新的动态设计方法。该方法不仅大大节省了设计时间,而且设计可靠性有了很大提高,防X射线泄露的能力有了进一步加强。     

X射线飞点扫描盘形狭缝斩波轮

研究表明X射线飞点扫描探测有机物背散射成像,特别是对少量且轻薄的毒品、薄型炸药的探测显示,比透射探测显示更加突出。斩渡轮是实现X射线飞点扫描背散射成像技术的关键部件,影响探测系统的成像分辨率,斩波轮机构的结构和屏蔽材料选用,直接影响探测设备的工艺性能和使用性能。     

基于SiPM的阵列式X射线背散探测器设计

阵列式探测器是背散射成像设备能够小型化的关键。受限于光电转换器件的灵敏度和转换效率等因素,阵列式探测器设计一直进展缓慢。本文提出使用硅光电倍增管(SiPM)作为核心部件,并从准直器、闪烁晶体和光电转换元件进行阵列背散射探测器设计的新思路。利用X射线特征谱线建立仿真模型,确定闪烁体CSI厚度为1 mm;准直器设计为栅格状,栅格高度4 cm,间隔为6 mm;SiPM尺寸相应为6 mm×6 mm。根据设计结果完成了探测器单个组件的加工,通过实际实验验证设计结果,实验证明合理设计的SiPM可以满足本应用长时、低光照强度以及被探测物体的厚度变化范围较大的要求。     

高能X-射线数字平板成像系统中的射线背散射问题探讨

通过实例介绍了高能X-射线数字平板成像系统受射线背散射的影响,并给出解决的办法,供参考。     

整体多毛细管X光透镜在扩展X射线吸收精细结构分析技术中的应用

为了将整体多毛细管X光透镜应用到扩展X射线吸收精细结构分析技术中,对整体多毛细管X光透镜的功率密度增益、光斑稳定性、高能滤波性质等进行了系统表征。通过实验可知,利用基于整体多毛细管X光透镜的扩展X射线吸收精细结构分析设备可对样品进行微区分析,其空间分辨为25 μm左右;利用整体多毛细管X光透镜会聚激光等离子体发出的X射线进行超快时间分辨扩展X射线吸收精细结构分析时,透镜的功率密度增益约为3 000。实验结果证明,整体多毛细管X光透镜可以改善扩展X射线吸收精细结构分析设备的性能。     

通道式双视角X射线液态物品安全检查设备结构设计

随着世界范围内不安全事件的频繁发生,安全检查工作也面临更大的压力。通道式双视角X射线安全检查设备是一种新型的具有液体探测能力的安检设备。该设备的功能在国内处于领先水平。论文主要介绍了该设备的结构设计要点。从主体框架的设计、探测器布板、射线防护以及调整装置等几个重点方面进行了理论分析与具体设计的描述。     

面向SMT的微焦X射线精密检测技术

面向SMT的的微焦X射线精密检测技术是电子组装工艺缺陷检测的关键技术。着重论述了2．5D微焦X射线设备的构成与原理以及国内外微焦2．5DX射线检测设备的现状．归纳了该类设备的关键技术．并展望了面向SMT的X射线检测技术的发展趋势。     

一种全新的超高灵敏度X射线荧光光谱仪

用X射线全反射技术可以使X射线单色化，用这种单色化的特征X射线作为激发源可以大大降低X射线荧光光谱仪的本底信号，提高仪器的检测灵敏度，本文介绍了这种仪器的结构原理，性能特点及应用。     

X射线安检设备智能控制与诊断系统设计

典型的X射线安检设备主要由X射线发生器、X射线线性阵列探测器、滚筒电机及传动装置、装有图像采集卡的PC及光触发传感器等组成，要实现各部分协调、高效的工作需设计一套完善的控制系统。依据X射线安检机各部分的工作原理及控制要求，制定了系统的控制方案，该控制系统方案已应用到沈阳地泰检测设备有限公司DEX9080B型X射线安检机上，经过2年多的运行，证明该系统运行稳定、响应速度快，具有良好的抗干扰性和实用价值。     

螺旋断层放疗设备中千伏级X射线信号自动检测方法的探究

本文主要探讨了在螺旋管断层放疗设备中使用非物理连接方式同步X射线平板探测器、球管和高压发生器的可能性,提出了利用平板探测器内置传感器自动检测X射线信号的方法。通过简单的测试验证了平板探测器面板FET关断模式与跳跃式扫描读出模式相结合下X射线自动检测的可实现性。这种方法可以利用X射线信号的上升沿和下降沿判断X射线的发生以及计算曝光的时长。     

无损检测新技术——X射线数字成像研究与应用

X射线数字成像是一项新兴的无损检测技术。本文概述了X射线数字成像技术的发展、特点、设备、成像技术、检测工艺和可行性分析以及应用情况。     

桌面高能微型化X射线光源系统问世

据美国物理学家组织网10月25日（北京时间）报道，一国际研究小组开发出一种微型同步加速高能X射线光源系统，其能效和质量可与世界上某些最大的X光源设备媲美，这种微型化的廉价高质量X射线光源将有着广泛应用前景。     

粉末X射线衍射用多功能附件的功用及其原理

标题所示附件是迎合粉末X射线衍射用多功能XMF数学模型的需要而研制的,故而得名,该多功能附件是与主机二维广角X射线衍射仪配套使用的。适合于粉末及固体薄膜等多晶材料的定性、定量、剖面、取向/织构分析,多晶及单晶体取向测定等;同时兼顾表面反射和透过反射等多种方式。这套附件具有构造简单、功能多样、分析结果直观等优点,可以作为“附件”完善现有衍射设备使其升级并具有多种新功能,也适合厂家生产构造合理、功能多样的三维(圆)X射线衍射设备。本文概要介绍其结构、原理及其功用。     

同位素源X射线荧光分析及其在无损检测上的应用

一、简介 1965年英国制成第一台手提式同位素源X射线荧光分析仪,使X射线荧光分析走出实验室进入现场使用。以后各工业国家相继发展这种仪器,广泛用于各领域。 X射线荧光分析仪很适用于精度高、无损伤和快速的元素分析,因为它可激发与检测元素周期表10以上的所有元素的特征X射线谱。     

大功率X射线源机柜的散热设计

随着安全检查设备穿透力指标的提升,大通道的货运安检设备逐步采用大功率的X射线源,射线源温升增大.同时,由于大功率X射线源的控制器件复杂、射线防护要求高,其机柜内部的元器件密度更高.如果机柜内部结构排布不利于X射线源的散热,则会导致较高的故障率.本文从热设计角度出发,结合某型号大功率X射线源的机柜设计,通过热仿真,分析内...     

微型X射线数字成像系统研究

X射线数字成像检测与诊断技术是X射线检测的发展趋势,微型X射线数字成像系统采用X射线敏感CCD面阵探测器作为射线探测元件,具有体积小、分辨率高、实时性好的特点。本文研制了基于X射线敏感CCD的微型X射线数字成像系统,介绍了整个系统的组成,阐述了X射线敏感CCD的工作原理,选定了系统采用的X射线敏感CCD,设计了CCD探测器的驱动电路、模数转化电路、数据采集与通讯电路、图像获取及处理软件等。该系统采用USB2.0接口与计算机进行通讯,直接采用USB接口电源供电,无需外部电源,结构简单。分辨率测试表明,该系统的分辨率>10lp/mm。     

大高宽比硬X射线波带片制作及聚焦测试

为得到同步辐射光源硬X射线波段(2keV)需要的高宽比高分辨率波带片,本文利用高加速电压(100kV)电子束光刻配合Si3N4镂空薄膜直写来减少背散射的方法,对硬X射线波带片制作技术进行了蒙特卡洛模拟和电子束光刻实验。模拟结果显示:Si_3N_4镂空薄膜衬底可以有效降低电子在抗蚀剂中传播时的背散射,进而改善高密度大高宽比容易引起的结构倒塌和粘连问题。通过调整电子束的曝光剂量,在500nm厚的镂空Si_3N_4薄膜衬底上制备出最外环宽度为150nm、金吸收体的厚度为1.6μm,高宽比大于10的硬X射线波带片。同时,引入随机支撑点结构,实现了波带片结构自支撑,提高了大高宽比波带片的稳定性。将利用该工艺制作的波带片在北京同步辐射装置X射线成像4W1A束线8keV能量下进行了聚焦测试,得到清晰的聚焦结果。     

一种低剂量X射线探伤仪研制

传统的X射线探伤仪由于采用直流光源 ,产生的剂量较大 ,长期使用对人损伤较大。介绍了由脉冲X射线源、记录系统和计算机组成的低剂量X射线探伤仪 ,它具有仪器剂量小 ,重量轻 ,成像质量高的特点。目前已应用到工业探伤领域。     

单通道和多通道毛细管光学元件－技术发展水平和应用

毛细管光学元件在X射线分析中的应用已有20多年的历史,在这段时间里,毛细管光学元件的制作技术发生了很大的变化。上世纪90年代初,使用的是组装的毛细管光学元件,目前,集成的多通道毛细管光学元件已广泛地应用于市场销售的X射线分析设备中。这些元件的毛细管直径在微米量级,其光学性质可以根据几何光学的光线追迹计算进行描述。最近,由于多通道毛细管制作技术的改进,已成功制成了200 nm及以下通道尺寸的毛细管光学元件。在这样小的通道尺寸下,观察到了X射线辐射的波动效应。最后文章介绍了毛细管光学元件在X射线微荧光分析和微衍射方面的应用。