金镀层测厚仪

本文简要介绍了仪器的测量原理和结构。仪器的测量厚度范围不大于10μm,测量精密度小于±0.5μm。     

薄膜X射线测厚仪的研制

介绍了用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,详述了该测厚仪的硬件组成和测厚的工作原理.该装置已成功运行在双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜生产线上.     

手表零件镀层测厚仪

在手表生产中,由于机芯零件的电镀层厚度难以控制,影响手表的装配精度、走时准确和使用寿命。尤其在每年黄梅季节,常发现零件生锈报废和手表返修除锈,这不仅影响手表美观,而且影响手表的产量、质量和成本。为了有效地控制手表零件的镀层厚度和贵重金属用量,并能指导电镀工艺,迫切需要对手表零件镀层厚度作快速无损测量。     

基于微机的磁盘磁层测厚仪

磁盘存贮器是电子计算机的主要外部设备,高密度大容量磁盘存贮器的研制和生产是发展计算机事业的重要组成部分。磁盘磁介质层的厚度,直接影响磁盘的信息记录密度和输出信号的幅度,是检验磁盘的一个重要参数。随着记录密度的不断提高,要求磁盘的磁层越来越薄。一般,涂敷于基底上的Fe_2O_3仅有零点几到2μm左右,采用传统的测厚技术难于测量。我们利用X荧光法并配用微机研制成磁盘磁层测厚仪,解决了这一测量问题。     

X光机冷轧钢板测厚仪的散射校正

X光机测厚仪是钢厂轧钢生产线上对钢板厚度进行控制的关键设备,其测量精度要求很高,且射线的散射是影响其测量精度的重要因素。本工作根据对散射数据的测定和分析,用数学拟合的方法归纳射线散射的影响规律,根据这一规律进行散射校正,有效地消除了散射带来的偏差。     

一种X射线冷轧测厚仪的控制系统

介绍了一种X射线冷轧测厚仪控制系统的硬件设计和软件设计。控制系统经过实际的使用检验,各项性能指标均达到了设计要求,工作稳定、可靠。     

β射线电容器纸在线测厚仪

木文介绍一种采用金硅面垒型半导体探测器的β射线电容器纸测厚仪,它用单源双探头方案以补偿空气层密度变化。仪器灵敏度约为15μg/cm~3,适合于8—18g/m~2(即6-15μm) 电容器纸生产线上使用。已在电容器纸生产线上运行一万多小时,性能良好。     

X射线测厚仪刻度校正模型的研究

本文提出了新的模型来描述X射线测厚仪中射线在穿过被测物质时的衰减规律。利用已知厚度的若干标定片的实测数据点,针对不同数据点数量、不同数据点分布等多种情况,对比此模型和其他文献中的刻度校正模型。结果表明,由此模型计算的衰减曲线与实验数据符合良好,且当标定数据点数量减少及分布改变时,此模型仍具有较高的精度,误差的稳定性超过其他模型。     

γ测厚仪的设计

本文着重说明了γ测厚仪的理论设计。对仪器灵敏度与射线能量的关系、厚度、分辨率以及散射效应对测量的影响等问题进行了较充分的阐述。     

现场多元素X荧光测量技术勘查金矿研究

在两种多元素微机化携带式Ｘ荧光仪器研制成功的基础上研究建立了现场多元素测量勘查金矿技术。在“三江”与“金三角”地区,该技术取得了良好的找矿效果。     

UO2燃料颗粒涂层工艺

本文简述了UO_2燃料的涂层工艺和涂层原理,评价了某些涂层设备,讨论了涂层工艺参数(涂层温度、进料参数、涂层时间等)对涂层过程及结果的影响,简单介绍了涂层产品质量的检验方法。     

聚变堆第一壁涂层材料

由于使用低Z涂层材料可使传统的结构材料和技术保持不变并能降低等离子体杂质,因而为设计提供了灵活性。低Z涂层可由元素Be,B,C,Al,Ti,V及其化合物中选择。文中介绍了涂层工艺和评价方法。添加约10wt%SiC的热解碳几乎能完全抑制化学溅射。60块C+SiC涂层石墨砖在DoubletⅢ托卡马克的整个照射期间性能令人满意。     

铀表面钛镀层原位氧化行为的AES和EELS研究

利用铀的电子能量损失谱(EELS)、俄歇电子能谱(AES)原位．研究了在室温下O2气氛中表面Ti膜初始氧化过程中表面结构的变化。结果表明，Ti膜的氧化速度比金属Ti更快；Ti膜氧化时与金属Ti一样可形成Ti(固溶O)、TiO、Ti2O3、TiO2．氧化物以岛状形式生长，并以多种氧化态并存；其氧化过程为Ti→Ti(固溶O)→TiO→Ti2O3→TiO2。     

X射线荧光钛涂层厚度测量仪

本文介绍一种X射线荧光测厚仪,用以测量钢基及钨基上的碳化钛或氮化钛涂层厚度。仪器测量范围为0.1—20μm,测量孔径为4mm。     

KD—418微机核子计量系统

本文简述了核子计量系统的概况和原理，介绍了ＫＤ－４１８微机核子计量系统的设计思想，系统的组成和框图以及Ｍｃｓ－５１单片机为ＣＰＵ的ＳＴＤ总线工控机，还介绍了系统的硬件和软件以及软硬件上采用的几种特殊处理技术。     

用X射线荧光分析法测量铁板镀锌厚度

本文介绍了镀锌测厚仪以＾２３８Ｐｕ作激发光源，用正比计数器作为探测器，具有体积小，精度高，价格便宜的特点，最适合于０～１００ｇ／ｍ＾２电镀锌的测量。     

人发样品中微量元素的XRF分析

通过化学加入法校正吸收效应，采用X射线荧光分析法(XRF)分析人发样品，确定人发中微量元素的含量。以实际人发样品为基础，求得经基体吸收后的相对效率，拟合出相对效率与基体中重要成分Ca含量的关系式，然后用标定的系数进行人发样品中的Ca、Cu、Fe、Zn含量分析。采用此方法分析了一组人发标准物质，并与国标推荐值进行比较，结果表明测定值与推荐值符合情况良好，与国标相比偏差为Ca0．28％，Fe0．99％，Cu2．6％，Zn0；相对测量误差Ca2．2％，Fe1．7％，Cu2．2％，Zn1．1％，其灵敏度≤2．2％。表明采用XRF分析人发中微量元素含量是可行的。     

CARR核测量系统设计

核测量系统是CARR仪表控制系统重要的组成部分,该系统监测CARR堆芯外中子注量率并向保护系统、ATWS缓解系统、功率调节系统等提供功率水平信号。本文阐述CARR核测量系统的设计,介绍CARR核测量系统的系统结构、堆外探测器、监测装置和技术特点。     

用XRF分析稀土元素时同位素激发源的选择

根据Ｘ射线荧光产生和探测的机理,用一些基本的物理参数（光电质量吸收系数、荧光产额、吸收边阶跃比、被分析的Ｘ荧光线相对于同线系的强度比等）分析计算了在同位素激发Ｘ射线荧光分析技术（ＸＲＦ）中最常见的两种激发源和＾２３８Ｐｕ源分析稀土元素含量时,在不同的测量系统和分析条件下,每个元素的相对激发探测效率以及它们的优缺点,从而确定了对不同的稀土元素,选择何种激发源、测量何种特征Ｘ线系（ＫＸ或ＬＸ）,可使整