镀锌测厚仪

本文叙述了Ｘ射线荧光测厚仪的原理、特点及测量头的设计考虑原则。并以我们研制的两种镀锌测得仪为例作了详细说明。     

金镀层测厚仪

本文简要介绍了仪器的测量原理和结构。仪器的测量厚度范围不大于10μm,测量精密度小于±0.5μm。     

薄膜X射线测厚仪的研制

介绍了用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,详述了该测厚仪的硬件组成和测厚的工作原理.该装置已成功运行在双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜生产线上.     

XFT-84基于微机X荧光涂层测厚仪

利用X射线荧光和微机技术研制成涂层测厚仪。本文叙述了仪器的构造原理。它能够快速、非破坏和精确测量金属或非金属零件上的多种涂层厚度。如对磁盘磁层的测量范围M=50—500μg/cm~2,测量精确度好于±4％(M≥100μg/cm~2)。     

X光机冷轧钢板测厚仪的散射校正

X光机测厚仪是钢厂轧钢生产线上对钢板厚度进行控制的关键设备,其测量精度要求很高,且射线的散射是影响其测量精度的重要因素。本工作根据对散射数据的测定和分析,用数学拟合的方法归纳射线散射的影响规律,根据这一规律进行散射校正,有效地消除了散射带来的偏差。     

一种X射线冷轧测厚仪的控制系统

介绍了一种X射线冷轧测厚仪控制系统的硬件设计和软件设计。控制系统经过实际的使用检验,各项性能指标均达到了设计要求,工作稳定、可靠。     

X射线测厚仪刻度校正模型的研究

本文提出了新的模型来描述X射线测厚仪中射线在穿过被测物质时的衰减规律。利用已知厚度的若干标定片的实测数据点,针对不同数据点数量、不同数据点分布等多种情况,对比此模型和其他文献中的刻度校正模型。结果表明,由此模型计算的衰减曲线与实验数据符合良好,且当标定数据点数量减少及分布改变时,此模型仍具有较高的精度,误差的稳定性超过其他模型。     

γ测厚仪的设计

本文着重说明了γ测厚仪的理论设计。对仪器灵敏度与射线能量的关系、厚度、分辨率以及散射效应对测量的影响等问题进行了较充分的阐述。     

精密钛涂层测厚仪

随着金属材料表面的处理工艺发展和提高,许多机器和仪器的金属构件以及装饰物表面都涂(镀)一层钛合金,以提高耐磨性、抗腐蚀性,增长使用寿命,以及增添外观美和使用价值。对其涂层的厚度和涂复工艺均有一定的要求。 测量涂层厚度的方法有多种,各有其特点和使用范围。通常采用金相法、化学分析法     

手表零件镀层测厚仪

在手表生产中,由于机芯零件的电镀层厚度难以控制,影响手表的装配精度、走时准确和使用寿命。尤其在每年黄梅季节,常发现零件生锈报废和手表返修除锈,这不仅影响手表美观,而且影响手表的产量、质量和成本。为了有效地控制手表零件的镀层厚度和贵重金属用量,并能指导电镀工艺,迫切需要对手表零件镀层厚度作快速无损测量。     

小面积X射线荧光涂层测厚仪

一、引言在某些产品或零部件表面涂(镀)一层很薄的保护层,是提高其耐磨性,耐蚀性或改善外观装饰的有效方法之一。由于该涂层的厚度不仅影响产品质量和成本,还与它本身的性质密切有关,因此无论是研究涂层本身的性质、结构和涂复工艺,或是在于提高     

JCH-3a智能精密测厚仪研制

随着材料科学和工业发展,表面涂层镀层工艺越来越广泛地得到应用。为此研究了精密,快速、无损检测技术和研制了数字化、智能化JCH-3a涂镀层智能测厚仪。该仪器采用了高精度一次探头仪表,大规模集成电路和微机技术,它具有数字显示测量点地址和厚度,数字预置上下限分类报警阈值和取样率,自动记忆存储数据,可查询修正数据和打印输出等功能。全机轻便、尺寸小、测量范围广,可用于钢铁部件上Zn,Cr,Sn,Ag,油漆、搪瓷、塑料等涂镀层及非磁性材料镀镍层精密厚度测量,测量范围为0～300μm,相对误差3～4%,0～10μm,测量精度可达±0.2μm.该仪器可用于反应堆板型燃料元件总厚和水道间隙精密测量等。     

自补偿β射线测厚仪探头的研制

在实验室或工业生产现场,常常需要对薄层物料的厚度进行测量。依据β射线穿透物质的衰减规律制成的测厚仪,具有快速和不接触测量的特点,特别适合在生产线上使用。由于薄层材料的质量厚度小,需采用低能β源,以使仪器有足够的灵敏度。采用低     

β射线电容器纸在线测厚仪

木文介绍一种采用金硅面垒型半导体探测器的β射线电容器纸测厚仪,它用单源双探头方案以补偿空气层密度变化。仪器灵敏度约为15μg/cm~3,适合于8—18g/m~2(即6-15μm) 电容器纸生产线上使用。已在电容器纸生产线上运行一万多小时,性能良好。     

基于PCI-1710数据采集卡的多通道智能化同位素测厚仪设计原理与实现

详细介绍了基于台湾研华PCI-1710数据采集卡的多通道智能化同位素测厚仪的设计原理、系统构成和具体实现.讨论了同位素测厚仪的基本原理、实际测量中必须考虑的修正因子及仪器标定的复杂性.给出了多通道智能化同位素测厚仪的整体设计框架;PCI-1710卡的功能、特性、开发步骤以及在本系统中的具体应用;软件子系统的开发流程和主要功能模块.最后,给出了以241Am低能γ射线源作为工作源所实现的多通道智能化同位素测厚仪的特性和应用范围.     

Scs—35型β射线测厚仪

在纸张、塑料薄膜、橡胶或金属薄膜生产过程中,需要不断地监测其厚度并加以控 制,以保证产品质量及节省原材料。由于产品在高速运动,接触式测厚仪难以工作,而电磁式测厚仪又受材质影响较大使测量精度不高。射线测厚仪具有非接触式特点,其中吸收式测厚仪受材质影响较小,是在线测量的理想工具。     

用能量色散X荧光法测定磁盘磁层厚度

用放射源~(238)Pu激发磁盘磁层中铁的特征X荧光来测定磁层厚度,具有快速、非破坏、精度高等优点。本文叙述测量原理、探测装置考虑、干扰因素的排除及数据处理。测定厚度范围为0.5—15μm。当厚度大于1μm时,测量精度好于5％。     

241Am背散射测厚仪的蒙特卡罗模拟

背散射测厚仪是利用射线打到被测物体上，通过探测背散射的计数率得到被测物体厚度的设备。由于背散射计数与被测物厚度之间不是完全的线性关系，所以简单的数值方法只能用于局部处理，无法得到计数随厚度变化的整个曲线。利用蒙特卡罗方法计算，一方面为检测结果的正确性提供理论验证，另一方面为设备的调试提供很好的数据。     

α能损法测厚仪的研制

α能损法测量靶膜的厚度是通过测量穿过薄膜的粒子能量的变化实现膜厚的测量。一束单能的α粒子穿过一定厚度的薄膜后由于能量损失的歧离效应会使能量有一定展宽，但中心能量是通过α能谱的峰位确定的，因此，用α粒子测量薄膜厚度有更小的测量误差。同时，这是一种无损的测量方法，采用计算机控制，方便易用。