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相似文献
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1.
微型SAR的数字下变频设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
在微型SAR实时成像样机的设计中,对雷达回波在中频进行采样,然后采用数字下变频技术实现正交解调,可以减少系统的复杂性,提高雷达的数字化程度和性能。该文针对微型SAR方案中数字下变频设计中的难点,即采样频率高达2 Gsps,带宽900 MHz,实时处理的难度很大,根据具体设计参数优化了数字下变频的实现结构,重点比较了并行FIR滤波器和快行FIR滤波器的差别,然后在FPGA中编程实现了数字下变频模块,给出资源占用情况、运行速度和量化噪声影响,最后给出在微型SAR技术项目中的实际应用结果,理想的成像结果表明了该设计的正确性。  相似文献   

2.
薛璐 《电子世界》2012,(10):65-66
本文从元件的选择,元件的布局,电源布线,信号布线,地线设计等方面讨论了电路板级的电磁兼容(EMC)设计。  相似文献   

3.
本文介绍了关于SOI特殊工艺技术的特点,以及基于此工艺平台设计开发SOC芯片所特有的优势和挑战,并且研究了配套的解决方案,从模型建模(model),数字单元库(library),参数化设计套件(PDK),以及针对性的EDA主流设计流程几个方面来阐述如何实现华润上华0.18微米60VSOI工艺设计服务平台。  相似文献   

4.
文中针对开关电源的电磁兼容性设计,从滤波、屏蔽、PCB设计、接地等方面论述了EMC设计原则及注意事项,并给出了一个开关电源设计实例和测试结果对比。只有在设计时充分考虑EMC设计,并从各方面采取措施,才能避免设计后再补救抗干扰的麻烦。  相似文献   

5.
从全芯片角度出发,采用多电源ESD架构和全芯片ESD设计,对整颗芯片提供全方位的ESD保护,介绍了基于0.18μm CMOS工艺设计的大容量PROM芯片的ESD设计技术。同时,通过对高压编程引脚的ESD加固设计,提高了芯片的整体抗ESD能力。最终产品ESD测试满足项目要求。  相似文献   

6.
SDRAM控制器的FPGA设计与实现   总被引:6,自引:0,他引:6  
李卫  王杉  魏急波 《电子工程师》2004,30(10):29-32
介绍了利用现场可编程门阵列(FPGA)实现同步动态随机存储器(SDRAM)控制器的方法,着重于FPGA具体实现过程中的一些常见问题.分析了设计中所用的SDRAM性能、特点,给出了其读写时序状态图,给出SDRAM初始化方式及其相应的模式设置值,并根据本设计的实际情况对SDRAM状态机进行了简化,给出了一种相对容易实现的SDRAM状态机.本设计采用甚高速集成电路硬件描述语言(VHDL)编程,直观而且占用资源较少,其基本设计原理对其他同类SDRAM也适用,对需要大容量存储器的应用是较经济的设计.  相似文献   

7.
星载电子设备试验的电磁干扰三要素分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
王志成 《无线电工程》2009,39(6):49-51,54
从某星载电子设备要进行的试验着手,研究了星载电子设备电磁干扰的三要素(干扰源、耦合途径及敏感部位),对电磁兼容试验的主要内容和要求进行了简介,并详细分析了三要素与电磁兼容试验项目之间的关联性。对某星载电子设备电磁兼容设计报告的基础上提炼并总结的结论,对星载电子设备的电磁兼容设计有较高的参考价值,对其他电子设备的电磁兼容设计也有一定的参考意义。  相似文献   

8.
应用于航天工程的锁相环(PLL)电路遭受太空高能粒子轰击时会发生单粒子效应(SEE),引起电路失锁,对系统造成灾难性影响.分析了鉴频鉴相器(PFD)和分频器(DIV)模块的单粒子效应导致失锁的机理,运用改进的双互锁结构(DICE)的锁存器和冗余触发器电路分别对其进行设计加固(RHBD),基于0.35μm CMOS工艺设计了加固的锁相环电路.仿真结果表明,加固PLL可以对输入20~40 MHz的信号完成锁定并稳定输出320~ 640 MHz的时钟信号.在250fC能量单粒子轰击下加固后PFD模块不会造成PLL失锁,加固DIV模块的敏感节点数目降低了80%.  相似文献   

9.
李志国  孙磊  潘亮 《半导体技术》2017,42(4):269-274
双界面智能卡芯片静电放电(ESD)可靠性的关键是模拟前端(AFE)模块的ESD可靠性设计,如果按照代工厂发布的ESD设计规则设计,AFE模块的版图面积将非常大.针对双界面智能卡芯片AFE电路结构特点和失效机理,设计了一系列ESD测试结构.通过对这些结构的流片和测试分析,研究了器件设计参数和电路设计结构对双界面智能卡芯片ESD性能的影响.定制了适用于双界面智能卡芯片AFE模块设计的ESD设计规则,实现对ESD器件和AFE内核电路敏感结构的面积优化,最终成功缩小了AFE版图面积,降低了芯片加工成本,并且芯片通过了8 000 V人体模型(HBM) ESD测试.  相似文献   

10.
描述了在Harris半导体公司PRISM~(TM)2.4GHz半双工扩频芯片组的基础上,利用TDD技术构成的TDD扩频通信系统,实现了在半双工信道上的全双工数据通信。文中重点介绍了系统组成以及TDD处理单元的设计。  相似文献   

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