实时测试技术的演变进程

实时测试技术涉及到使用实时环境来实现测试应用，它主要用于在测试系统中实现更高的可靠性和／或确定性。因此，它们在现今的许多产品和系统的开发中都发挥着重要的作用。实时测试技术的应用案例包括持续时间、生命周期测试系统以及可长时间运行或允许操作人员离开很长时间的其他测试系统，     

测试行业的标准-PXI

在20世纪90年代后期，测试及测量工程师一般只有两种测试专用平台可以选择-VXI和GPIB。VXI虽然实现了平台的模块化，但是价格昂贵、使用复杂，并且无法利用主流计算机的技术实现更高性能。GPIB具有更广的功能性和较高的性价比，但是却难以集成到同步、高神的测试系统中。1997年，NI起     

各测试公司简化测试流程细分市场应对设计挑战

越来越短的产品周期和日益复杂的电路设计使得工程师面临更大的挑战，从而对设计电路的测试提出了更高的要求。设计者一方面希望能得到一站式测试解决方案，简化测试流程、降低成本，另一方面，希望能针对不同的应用得到专门的测试方案。     

展讯选择Verigy解决方案测试无线器件

惠瑞捷半导体日前宣布，展讯通信有限公司已经选择Verigy Port Scale RF解决方案，在中国苏州对其生产的器件进行测试。在评测了多个竞争对手的解决方案后，展讯最终选择了Port Scale RF，因为（它吞吐量高，拥有多站测试功能，提供了更低的测试成本、性能更高的结果及杰出的测试稳定性。自从采用了Port Scale RF后，展讯已经使其大批量RF器件测试成本较以前的解决方案降低了大约50％。     

基于测试码的测试：多测试位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键问题

1介绍 多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足,使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展,寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,以实现更高的并行测试效率。     

展讯通信公司选择Verigy Port Scale RF解决方案测试无线器件

惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布，中国领先的无线基带芯片组供应商之一展讯通信有限公司已经选择Verigy Port Scale RF解决方案，在中国苏州对其生产的器件进行测试。在评测了多个竞争对手的解决方案后，展讯最终选择了Port Scale RF。因为它吞吐量高，拥有多站测试功能，提供了更低的测试成本（CCT）、性能更高的结果及杰出的测试稳定性。     

全面的MIPI测试解决方案

MIPI标准正在驱动下一代移动设备——允许更快的数据传输速率、更低的功耗以及更高分辨率的显示器和照相机，正在与该标准打交道的芯片设计人员要求能测试这些技术的工具。力科公司推出了DPHY标准物理层的自动化一致性测试软件包，可满足MIPI标准的全面测试需求。     

破解WiMAX物理层测试瓶颈

WiMAX技术的发展对WiMA×物理层测试所对应的接收和发射测试也提出了更高要求，R＆S对此提供了有针对性的测试解决方案。[第一段]     

新型矢量信号分析仪和发生器显著提高功率放大器的测试吞吐量

随着更高带宽的标准不断演进，以及每台设备可接收到的无线电台的数量越来越多，手机功率放大器的设计也变得更加复杂，对测试需求和测试成本产生了直接的影响。工程师们希望找到合适的解决方案，帮助他们在进行手机功率放大器和生产线前端模块测试时能够确保性能水平满足要求，同时还可以实现最大吞吐量，降低测试成本。     

以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

对日益复杂的消费产品不断增长的需求，引发了应用于消费类电子、汽车、工业和通讯领城的混合信号集成电路的需求急剧上升。时至今日，半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号IC。器件的复杂度在不断上升，但是其售价不可能随之飙升，半导体公司都发现他们面临看这样一个难题，即如何在降低测试成本的同时保证复杂的IC产品的质量。半导体公司发现他们需要改进测试构架、更先进的测试仪器、增强的测试开发环境以取得更高的测试产量并保证在测试上的投资有高的回报。为了应付这些挑战，顶光的测试系统结合了高性能的架构和先进的测试仪器以取得高端测试仪的产量，而所花的成本只是传统ATE系统的一小部分。在ATE上开发应用程序时，新一代的混合信号测试仅不仅能降低测试成本而且可以灵活地适应将来不同应用场合下的需要，这将有力地保护你在测试设备、硬件资源、数字混合器件上的工程投资。本文将要讨论混合信号器件测试的主要趋势，及其对测试成本的影响，和一些新的测试结构，这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活地适应未来正在形成的测试需求。     

携手同“芯” “链”接未来——安捷伦展示测试新技术 整合中国半导体行业供应链

全球领先的跨国高科技公司安捷伦科技在3月17日到19日在上海举办的SEMICON China 2004上演示为单芯片系统(SOC)、闪存和参数测试提供的新型测试解决方案。利用这些行业领先的解决方案，安捷伦将继续努力在中国创造整合程度更高的半导体行业供应链。     

平台化信号分析仪系列覆盖无线测试需求

无线设计和测试的挑战集中在有限的带宽催生出了复杂的调制和编码技术，因此要求更高质量的射频信号和信号保真，而3G、4G的演进，各种调制制式对应着各自的解调方案，并且，MIMO等新的传输方式的出现，也对测试和生产提出了新的挑战。     

一种集成式测试管理系统

当前软件行业高速发展,软件测试作为软件开发中的关键环节,直接关系着软件的交付质量,也因此对软件测试提出了更高的要求。针对整个测试交付过程,设计一套测试管理系统,用于集中管理测试的各个活动,提高测试效率,提升测试交付质量,为软件产品的高质量交付提供良好的基础工具。     

用于高级DRAM测试的单次触压、全晶圆探针

1Td300全晶圆探卡是一款用于高级DRAM存储器件单次触压、高容量测试的探卡，该产品使用专有的全晶圆架构和基于MEMS的ACCU-TORQ弯曲探针进行非常平滑的单次触压测试。该产品能够对300mm或200mm晶圆进行高并行测试（highly parallel testing）。每探针只需要2g压力就能够测试整个300ram晶圆，1Td300探卡提供了双重优势，不仅能够降低对被测晶圆和整个测试台的压力，同时允许更高的引脚数，以拓展半导体测试范围，     

安捷伦以测试新技术整合半导体行业供应链

2004年3月17日～19日，在上海举办的SEMICON China 2004上，全球领先的跨国高科技公司安捷伦科技为单芯片系统(SoC)、闪存和参数测试演示了新型测试解决方案，旨在继续努力为中国创造整合程度更高的半导体行业供应链，把设计部门的数据整合到制造商的流程中，保证生产与测试紧密地联系在一起。     

图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键

多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE:ParallelTestEfficiency)降低。测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,产生更高的并行测试效率。     

微铜接触取代BGA,提高可靠性

在传统的芯片级封装和堆叠的封装上封装(PoP)技术中,嵌入在焊料连接中的微铜接触可以在跌落测试和热循环测试中提供更高的可靠性能。     

泰克推出DisplayPort一致性测试的全自动化解决方案

泰克公司日前宣布,推出新软件和测试夹具,为DisplayPort 1.2一致性测试规范(CTS)提供全自动化的一致性测试支持。这些新产品与8 GHz或更高带宽的泰克DPO/DSA 70000系列数字示波器配合使用,以确保得到可靠和可重复的测试结果。     

基于CAN总线的汽车测试解决方案

更高功能的汽车设计带动更复杂的汽车电子测试技术的发展。中国的汽车测试界尤其面对着设备的短缺、技术的匮乏等诸多困难。本文针对中国的汽车电子测试业。介绍了一种集成的软硬件同步平台。它基于CAN总线领域中的PXI总线。及国际广泛应用的测试管理TestStand软件。构建成高集成度、可靠性、升级维护方便、开放彻底的测试系统。     

示波器的用户自定义应用开发

大量的测试测量是电子测量工程师每天都要面对的事情.很多的测试内容具有很强的重复性.使工程师疲于测试和文档工作.在这样的背景下,自动化测试变得更重要,对工程师的要求更高.本文主要涉及数字实时示波器的自动化测量方案以及相应的自动化测试开发平台.