CR39探测器对5种能量α粒子的响应

利用5种能量的α射线照射CR39探测器,采用浓度分别为6.0 N和6.25 N的NaOH溶液,在70℃的恒温条件下蚀刻,获得了体蚀刻率,蚀去厚度、径迹直径与蚀刻时间的关系,α粒子能量与径迹直径的关系等性能参数,为研究CR39对质子和中子的响应奠定基础。     

固体核径迹的平均直径与密度随蚀刻温度和蚀刻剂浓度的变化

实验观察了固体核径迹的平均直径和径迹密度随蚀刻剂浓度、蚀刻温度的变化关系。实验采用聚碳酸酯膜(Makrofol)为探测器,化学预蚀刻与电化学蚀刻相结合,蚀刻剂浓度分别为5、6和6.85mol/L 的 KOH 溶液,蚀刻温度分别为30、40、50和60℃,实验结果表明,在本实验条件下,核径迹的平均直径和径迹密度均随蚀刻温度和蚀刻剂浓度的升高而明显增大。     

核径迹电化学蚀刻过程中某些基本参数的研究

本文采用聚碳酸酯膜(Makrofol)和~(241)Am 标准面源,实验观测了核径迹电化学蚀刻坑的平均直径和径迹密度与聚碳酸酯膜受照后存放时间、α粒子注量等的关系,为这种核径迹探测方法的应用提供实验数据。     

自锁火花计数器在农业测硼中的应用

适量的微量硼将对作物有增产作用。由于硼的热中子(n,α)反应截面很大,因此,利用核反应来测定土壤中和植株内的硼含量将是可行的。 用火花计数测量α径迹需要精确的蚀刻条件,因为被蚀刻膜的剩余厚度与火花计数有关,而蚀刻剂的浓度、温度都可以敏感地影响到被蚀刻膜的剩余厚度。对于聚碳酸酯膜,用NaOH     

电导法研究紫外光预辐照对核孔膜径迹蚀刻的影响

利用紫外光辐照聚碳酸酯（PC）离子径迹膜,研究光辐照对于核孔膜蚀刻过程的影响。实验结果显示,紫外光照射对核孔膜的蚀刻有着重要的作用,它可以有效地增加径迹的蚀刻速率,并且径迹蚀刻速率随紫外光照时间的增加呈线性增长关系,此现象是由于光降解作用引起的。本文还介绍了用于监测核孔膜蚀刻过程的电导测量方法,利用此方法可以得出核孔膜径迹蚀刻速率、孔径随蚀刻时间变化等关系。     

聚碳酸酯和硝酸纤维素塑料的快中子反冲径迹响应特性

本文概述了聚碳酸酯和硝化纤维膜中的反冲径迹的蚀刻性能,径迹的直径和中子能量的关系,中子探测效率与能量的关系及其紫外线效应。研究表明,上述两种膜可作为快中子阈探测器,而聚碳酸酯还可作快中子的雷姆计数器,用来监测中子源、反应堆和加速器的快中子通量和剂量。测量剂量范围是1—1000拉德。如进一步采用电化学蚀刻技术扩大径迹,可测剂量下限为几个毫拉德的量级,这就可期望作常规的中子剂量测量。     

聚碳酸酯快中子反冲径迹的电化学蚀刻研究

我们研制了一台供扩大固体内核径迹用的电化学蚀刻装置。它可以输出电压和频率皆可调的正弦波(电压0—1100伏,频率50—5000赫)。采用聚碳酸酯膜记录快中子引起的反冲核径迹。对径迹蚀刻的几个主要参量如电场强度、频率、蚀刻时间和蚀刻液的浓度等进行了研究,还对聚碳酸酯的中子灵敏度、能量响应、方向响应、径迹稳定性及本底进行了测量。对于180微米厚的聚碳酸酯膜,实验确定的最佳蚀刻条件为:电场强度13.5千伏/厘米,电场交变频率2.5千赫,6N KOH,15℃,5小时。在此条件下,电化学蚀刻的快中子反冲径迹平均直径约为50微米;对~(252)Cf、AmBe、4.0和14.8兆电子伏中子的灵敏度分别是2.7×10~(-7)、1.8×10~(-6)、2.2×10~(-6)和3.7×10~(-6)(径迹/中子);经预蚀刻的本底径迹密度约为8(径迹/厘米~2)。实验表明,固体核径迹探测器电化学蚀刻方法的显著优点是,它能把反冲核径迹放大成清晰可见的放电蚀坑,从而使径迹测量变得相当简单、快速和可靠。     

γ射线对硝酸纤维素记录α粒子灵敏度影响的探讨

本工作目的是试图利用~(60)Co γ射线辐照朝鲜的硝酸纤维素片,以提高相对灵敏度。在本文中,相对灵敏度定为同样蚀刻时间内,蚀刻终了时,分别以3、4和5MeV的α粒子径迹直径和1MeV α粒子径迹直径之比称之为3、4和5MeV α粒子相对灵敏度。我们对朝鲜硝酸纤维素片,进行了温度范围分别为27、35、40、50、60和70℃的条件实验。在固定温度下,蚀刻剂NaOH的浓度分别为4、5和6N。LiOH浓度分别为4和5N。在每种蚀刻温度和蚀刻剂浓度     

聚酯膜在NaOH溶液中的蚀刻速率

木文研究了蚀刻剂对聚酯(PET)基膜的蚀刻速率及径迹蚀刻速率,以制备精确孔径的核孔膜。测定了PET基膜在不同浓度、温度的NaOH溶液中的蚀刻速率,经回归得到它们之间的经验关联式,提出了几种增大PET膜径迹蚀刻速率的有效方法。     

硝酸纤维素固体径迹探测器的蚀刻行为

用径迹直径法测定富士膜的灵敏度,测定5.15MeV α粒子径迹蚀刻曲线起始部分的斜率d_5和1MeV α粒子径迹蚀刻曲线的斜率d_1,按下式计算V_t/V_g:V_t/V_g=[1 (d_5/d_1)~2]/[1-(d_5/d_1)~2]。用目镜测微计测量α粒子径迹直径,用最小二乘法计算蚀刻曲线斜率。实验结果如下。     

PET核孔膜蚀刻速率影响因素的研究

核孔膜是通过重离子照射薄膜后进行化学蚀刻所得到的高性能过滤材料,蚀刻速率是影响高质量核孔膜制备的重要因素。本文探讨了不同蚀刻液浓度、温度以及重离子辐照能量对蚀刻速率的影响。利用140 MeV的32S离子在室温和真空条件下对4层堆叠的PET(polyethylene terephthalate)薄膜进行了辐照。在对辐照样品进行化学蚀刻期间采用电导法确定了径迹蚀刻速率Vt。结果表明:蚀刻速率与蚀刻温度呈指数相关,随蚀刻液浓度增加而线性增大;径迹蚀刻速率随能量损失率(离子能损)增大。研究确定,在入射32S能量为1.6 MeV·u-1时,NaOH浓度为1mol·L-1、蚀刻温度为85°C时最有利于形成圆柱形微孔。     

径迹纳米孔高分子膜的制备和表征

载能重离子辐照高分子膜形成的离子潜径迹,经后续处理可制备出离子径迹纳米孔高分子膜。本文介绍了传统的离子径迹蚀刻法与最近发展的离子径迹紫外辐照方法制备径迹纳米孔高分子膜的过程及其纳米孔膜孔径的表征。离子径迹紫外辐照方法舍弃了传统离子径迹蚀刻法的化学蚀刻过程,所制备的径迹纳米孔高分子膜的孔密度高,孔道尺寸为纳米甚至亚纳米尺度,在海水淡化、离子分离等领域具有广阔的应用前景。     

固体径迹探测器反冲核径迹电化学蚀刻装置

用电化学蚀刻技术来显示快中子在聚合物内反冲核径迹获得了满意的效果。在参照文献的基础上,我们研制了一台电化学蚀刻装置。用它对180μm的聚碳酸酯膜进行了电化学蚀刻,研究了该装置在蚀刻过程中的电特性。     

核裂变径迹定年技术中锆石的蚀刻

铁石的特点是含铀量高,并作为耐风化的稳定副矿物广泛地产出于火成岩、变质岩和沉积岩中,是裂变径迹定年技术中应用最广的矿物之一。锆石径迹定年技术中,关键是选择适宜的制片方法和最佳蚀刻条件对此许多研究者已做过大量探讨,目前采用的蚀刻方法有:375—500℃高温下磷酸蚀刻法,220℃下NaOH或200℃下NaOH KOH蚀刻法和150—180℃温度下的HF H_2SO_4蚀刻法。因锆石颗粒一般都比较小,为了准确地统计每个锆石颗粒同一内表面上的自发和诱发裂变径迹密度,一般采用的步骤是:先将锆石晶粒固     

聚碳酸酯径迹探测器中的径迹响应和记录时温度的关系

我们准备用国产聚碳酸酯径迹探测器(朝阳塑料厂生产)探测自然界磁铁矿中的磁单极子。这一实验需要在液氮环境温度下进行。为此,我们研究了探测器温度对它记录裂片径迹的影响。径迹响应是以径迹蚀刻速度V_t和总体蚀刻速度V_g之比V_t/V_g表示。     

裂变径迹定年技术的改进

叙述了国内外裂变径迹定年技术改进的必要性,并进行了技术改进。提出用裂变产物法刻度铀标准玻璃的常数b值,刻度三种铀标准玻璃,它们是NBS SRM962a、UB_1和UB_2。并建立了σ·Φ=ρ_d/b测定中子注量的新方法,它避免了中子能谱变化对注量测定的影响。改进的锆石蚀刻方法采用NaOH KOH熔融蚀刻和HNO_3 HF混合酸二步蚀刻,使径迹蚀刻充分,径迹清晰度增加、干扰减少,真实地反映径迹密度;根据自发径迹在矿物晶面不同的角分布,划分角区观测径迹,并用改进的蚀刻方法消除径迹不均一的角分布,保证径迹观察的准确性。用改进的定年技术进行了实验室标准化刻度。用国际裂变径迹年龄标样测定证明这些技术对获取准确裂变径迹定年数据是可靠的和实用的。     

薄塑料径迹探测器的电化学蚀刻

固体径迹探测器的电化学蚀刻法是Tommasion在1970年首先提出的,近几年来这种技术发展很快。此方法是把带有α粒子。裂变碎片和反冲核潜迹的固体径迹探测器薄膜放在蚀刻液中,在薄膜两边加上交变电场。这样蚀刻作用便大为加强,径迹直径可达100μm以上,能用肉眼观察。 但是电化学蚀刻要求薄膜厚度在100μm以上,如果小于100μm,薄膜容易击穿短路,使得电化学蚀刻难于进行。本文描述薄膜径迹探测器的电化学蚀刻方法以及观察到的现象。     

CR-39固体核径迹探测器用于中子测量化学蚀刻参数的优化

通过实验确定了CR-39固体核径迹探测器用于中子测量的化学蚀刻条件。根据有关资料和经验,对蚀刻结果影响较大的三个因子——蚀刻溶液的浓度(mol／L)、温度(℃)和蚀刻时间(h),采用正交试验法,并对正交试验进行补充和验证;通过对实验结果综合分析比较,在NaOH溶液浓度为5．5mol／L、温度70℃时间24h的蚀刻条件下,CR-39固体核径迹探测器对中子所形成的径迹轮廓清晰、大小适度,蚀刻效率高,易于识别和测读,能满足中子测量的需要。     

双镀层核径迹孔聚酯膜及其吸波性能

纳米吸波材料是吸波材料发展的重要方向,本工作制备了氟化镁/钡铁氧体双纳米镀层核径迹孔聚酯薄膜,并研究其雷达波吸波性能。用140MeV32S离子轰击聚酯薄膜,产生潜径迹。经二甲基甲酰胺(DMF)和紫外光敏化后用NaOH溶液蚀刻,使潜径迹变成微米/纳米孔径互通的圆柱形孔。用高温真空蒸发法在径迹孔聚酯样品表面蒸镀100–200nm厚的钡铁氧体/氟化镁薄膜。表面反射测量表明,该双纳米镀层核径迹孔聚酯膜在8–18GHz波段有吸收性能。     

2π入射裂片径迹火花计数技术

火花计数器是一种自动计数的固体核径迹探测器。这种方法计数快,结构简单,操作方便,可以解脱繁重的目视测量。与垂直入射的裂片径迹相比,以2π立体角入射的裂片径迹火花计数技术有其自身特点。裂片以2π立体角射入薄膜,在一定蚀刻条件下,膜上蚀成的孔洞径迹,只是记录径迹的一部分。显然,膜越薄,灵敏度越高;蚀刻时间越长,孔洞径迹占的比例越大,火花计数也越多。我们取火花计数与膜上被蚀刻出的总径迹数之比为火花计数效率。同一片蚀刻过的膜,多次进行火花计数,其脉冲数不完全相同。若多