基于光点修复的脉冲偏转方式应用研究

脉冲偏转是一种不同于扫描偏转和直流偏转的偏转方式.它不但在光点测量时使彩色CRT偏转线圈处于脉冲静态偏转状态,而且能在PC控制下使荫罩下的光点微移动,从而将残缺光点修复成完整的原始光点.光点修复是一个高速数据采集与图像处理的过程,其重要的方式就是应用"拼接法"将采集的多帧残缺光点图像实时地修复成原始光点图像,以便进行光点尺寸计算和光点质量分析.     

环形偏转线圈绕组分布的谐波分析

本文详细介绍了偏转线圈绕组分布的谐波分析方法和计算方法，讨论了各项谐波系数与偏转磁场分布之间的关系，分析结果可用于环形偏转线圈的设计。     

脉冲偏转放大器的设计与实现

静态偏转光点是确保光点测试的准确性和可靠性的重要方法之一。本文介绍一种高稳定性的脉冲偏转放大器，其特点是分别提供行、帧偏转线圈不同脉宽且可变幅度的驱动电流，使偏转线圈工作于脉冲静态偏转状态。测试实验表明这种脉冲偏转放大器是一种静态偏转光点的十分有效的测量设备。     

偏转线圈行包结构参数的计算方法

用偏转磁场校正光栅的几何失真已有详细的研究。实际计算中大多采用改变线圈绕组分布及偏转磁场的分布。在改变绕组分布前,必须进行结构参数计算。当显象管型号决定后,实际上就是改变如图1中的A(x_0y_0)、B(x_1y_1)两点的坐标及D的大小,以实现绕组分布的改变。     

槽绕型偏转线圈的设计方法

文章介绍了槽绕偏转线圈的设计方法，由于环形绕组及鞍形组是绕在线圈架的引导槽内，故可得到准确的绕组位置及高偏转效率，此外，线圈绕组分布可以任意改变，所以，易于得到预定的偏转场。     

多极静电偏转器偏转场分布之解

文章推导了两种多极静电偏转器偏转场分布的统一、简单之解;采用有限差分法,计算了多极静偏器多种不同几何尺寸的富里埃函数系数和光轴电场强度分布等场参量,提出多极静电偏转器和平行板静电偏转器光轴电场强度分布的近似公式;讨论了多极静电偏转器偏转场分布的各种特点。     

采用动态电子束成形技术的一字型彩色数字显示管

引言在一字型彩色显象管中,当电子束偏转到显象管荧光屏边缘的时候,电子束光点明显地畸变。这种畸变称之为偏转畸变,它使荧光屏边缘区域的清晰度降低,并且偶尔还能引起莫尔波纹现象。有两种光点畸变,一种是边缘畸变,是由于成象球面和荧光屏之间的不一致而引起的。另一种光点畸变是由偏转线圈(Dy)的不均匀磁场所引起。对于一字型彩色显象管而言,后一种光点畸变是主要的。     

5.4 110°偏转系统

和90°偏转系统比较,110°偏转系统的明显优点是总管长度较短,接收机机箱式样及紧凑性可获改进。对于25V(626mm)管型,总长度的可缩短100mm。110°偏转系统的第二个优点是电子束的抛射距离较短,因而聚焦光点尺寸小。另一方面。由于下列因素,110°偏转系统的设计变得更为复杂。 (1) 若系统的其他我保持不变,需要较高的偏转功率。 (2) 由于偏转的增加,电子束三素纽的电子光学(?)屏几何形状的倾斜因数引起的畸变,都变得较大。 (3)需要增大动态会聚的振幅,以致要达到满意的会聚变得较为困难。     

带铁心任意形状偏转器磁场的计算

本文将文献[1]的分析方法推广到带铁心的偏转器,绕组形状可以是任意的,如子午绕组、非子午绕组、鞍形、环形或扇形等。对铁心与绕组之间有一定间隙的情况,提出了计算偏转场的一种新的表示式,并用高斯-切比雪夫积分式对积分方程离散求解。最后用COTY GE-14'彩显管偏转器的解剖数据验证。     

第六节 偏转磁场的分析

一、前言 由于显象管运用电压较高,屏幕较大,要求外廓尺寸尽量的小,偏转误差尽量的小,因此电子束的偏转几乎都使用磁偏转系统。偏转系统对于显象管而言,是一个电子光学部件,相当于电子。对于扫描发生器而言,它们又是一个电性负载由于偏转线是管后加在显象管上的,即是“管处零件”。因此对于电真空器件制造者而言,一直认为这是一个“无线电零件”,不愿化更多的精力去研究它。 然而随着显象板广角偏转技术的发展,人们逐渐认识到偏转系统对于获得光栅的几何正确性和保证整个象场上的清晰度具有重要的意义。可以认为,利用电子枪在荧光屏中心得到一个锐细的光点只是为在整个荧光屏上获得清晰图象提供了一个