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DavidKLehmann.CircuitsAssembly 《电子工艺技术》2002,23(5):229-230
自动光学检测(AOI),无论是,视觉还是激光检测系统,一般设置在贴装工艺之后,用来识别漏片、错贴元件,不合适的焊膏印刷等。而X射线检测系统一般用于再流焊工艺之后,用来检验组装工艺的机械牢固性,识别缺陷如焊料桥接,漏焊,虚焊,错位,开焊和不良润湿等,然后并不是每一个X射线系统都能做这些检测类型不同能够检测的缺陷类型也不同,那么怎样进行选择?本文从X射线,检测方法,工艺最佳化方法,软件等方面详细地介绍了X射线检测系统。 相似文献
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DavidBernard 《中国电子商情》2004,(5):35-35
实施无铅技术给OEM和合同制造商(CM)都带来了法律和商业上的压力。由于合同制造商要经常向OEM提供产品,在产品组装生产时,他们必须考虑采用无铅战略,并确定无铅技术取代传统的有铅焊接工艺后,这一变化生产、测试和检验程序的影响。 相似文献
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现在对半导体器件的可靠性要求越来越高,因此对器件的质量检测提出了严格的要求,为了能准确检测器件质量是否合格,使用X射线检测技术对器件进行无损检测。X射线对缺陷损伤做快速精确探测分析具有方便、直观等优点。对一例不常见的X射线照相检查发现的晶体管空洞缺陷进行了分析、试验,确定空洞是由管壳存在的问题引起的,提出了解决空洞问题的措施。说明了器件在筛选时进行X射线照相检查的必要性,可以将有缺陷的器件早期剔除,以保证器件的可靠性。 相似文献
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X射线焊点无损检测技术的现状与发展 总被引:1,自引:2,他引:1
简要介绍了X射线无损检测技术的现状和发展趋势,介绍了X射线焊点无损检测机理,重点对基于2D图像的X射线检测和基于2D图像,具有OVHM(最高放大倍数的倾斜视图)的X射线检测以及3DX射线检测三种方法进行了比较分析,推荐出各类检测技术适应范围。 相似文献
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电路组装中的X射线检测技术 总被引:1,自引:0,他引:1
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现,X射线(X-ray)检测技术就是其中之一,它能有效控制BGA的焊接和组装质量。本文扼要的介绍X射线检测技术的原理及未来发展趋势。 相似文献
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《现代表面贴装资讯》2013,(3):28-28
VJ Electronix有限公司将在NEPCONSouthChina2013的Kasion展位(1H43)上展出全新的VertexII下一代X射线技术及高性能SRT Micra返修平台。 相似文献
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X射线检测技术是一种能对不可视部位进行检测的技术。本文利用X射线对3D—MCM中的BGA焊点、基板和隔板之间的焊料凸点、叠层基板间的垂直互连和陶瓷-金属封装等进行检测;对存在于焊点和凸点中的气孔、垂直互连中的开路和封装中的孔洞等进行了分析。 相似文献
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为进行10 keV X射线和60Co γ射线总剂量辐射效应的比较,采用这两种辐射源对SOI (Silicon-on-Insulator) n-MOSFET在不同偏置条件下进行总剂量辐照试验,分析了SOI NMOS器件在两种辐射源下辐照前后的阈值电压的漂移值并进行比较.实验结果表明,SOI NMOS器件的前栅特性中X射线与60Co γ射线辐照感生阈值电压漂移值的比值α随总剂量增加而增大,而背栅特性中α值在不同偏置条件下变化趋势是不同的;在总剂量为1×106 rad(Si)时,前栅器件α值为0.6~0.75,背栅器件α值为0.76~1.0. 相似文献
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本文回顾了目前用于极紫外、软X射线和X射线光学仪器的几项技术的研究进展情况。这些新概念的应用包括:高能等离子体的诊断、多电荷离子束和物质(原子、分子、离子、微结构、表面、固体)相互作用的光谱测量研究和生物医学X射线显微术等。各组件的 相似文献