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《无机材料学报》2010,(9)
在水热条件下,以Y(NO3)3.6H2O,Eu2O3,NH4VO3,Na3C6H5O7.2H2O为原料合成了YVO4纳米微粒以及稀土离子Eu3+掺杂的YVO4:Eu纳米微粒,利用XRD,FE-SEM,TEM,HRTEM和SAED对所得产物的结构和形貌进行表征,并用FT-IR、F-4600对所得产物的光谱性质进行了分析.结果表明,产物为纯净的四方相YVO4,具有较为规则的饼状形貌,单个饼状YVO4纳米微粒的直径约为500nm.XRD图谱显示稀土离子Eu3+取代了Y3+进入YVO4晶体,但在纳米YVO4:Eu的荧光光谱上没有出现VO43-发射峰,这表明YVO4是良好的发光基质材料.水热合成方法简单易行,合成出的YVO4:Eu粒子荧光强度大且荧光强度稳定. 相似文献
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采用共沉淀法制备出纳米级La2O3Eu.并采用相关光谱、X-射线衍射(XRD)、荧光光谱(PL)对所制备的纳米发光粉体进行表征.结果表明制备的纳米发光粉体的粒径均匀,集中在20nm左右;XRD结果证明制备的La2O3Eu粉体属于六方相,PL的结果说明La2O3Eu具有良好的发光性质. 相似文献
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EU:Y2O3纳米晶的光谱特性与微结构 总被引:2,自引:1,他引:1
采用均相共沉淀法制备了不同粒径的Y2O3:Eu^3+和Y2O3粉体材料,根据红外光谱和荧光光谱,探讨了纳米Y2O3:Eu^3+粉体的微观结构与同质体微米材料相对变化.发现纳米粉体的Y(Eu)-O键吸收峰校正高度和面积随着颗粒的减小而减小,而对于同质微米材料却相反.分析认为:Y(Eu)-O键红外吸收峰校正高度和面积由Y(Eu)-O键的平均键长和Y(Eu)-O键振动态的数目两个因素决定,对于微米粉Y(Eu)-O键长起主要作用.由于纳米粉体的比表面积随粒径的减少呈指数的增加,不饱和键和悬空键的数目随粒径减小而指数增加,Y(Eu)-O键振动态的数目起主要作用.计算了纳米粉体相对微米粉的跃迁强度参量Ωt/Ωt'值,发现Ω2和Ω4均增加,说明粉粒内部跃迁几率增加.纳米荧光粉比微米粉荧光强度减少的实验事实应是纳米粉粒表面效应引起的,与红外光谱实验的结果相符. 相似文献
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以Na2EDTA为模板剂,采用水热法合成了纯净的四方锆石结构的单晶YVO4纳米晶体和YVO4∶Eu纳米晶体。通过XRD、TEM、HRTEM和荧光光谱仪等测试手段对产物的结构和光致发光性能进行了表征和测试。研究发现,模板剂和生长溶液的pH值决定着YVO4和YVO4∶Eu纳米晶体的结构与形貌。由于一维晶体的各向异性,导致了YVO4纳米棒的光致发光性能有所增强,而Eu的掺杂则显著改善了YVO4纳米棒的光致发光性能。 相似文献
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采用沉淀法合成了Eu3+不同掺杂浓度的YVO4:Eu3+纳米晶。利用X射线衍射和荧光光谱对材料的结构、发光性能进行了研究。XRD研究结果表明:在较低温度下合成的样品为四方相YVO4,纳米粒子的晶粒尺寸为7nm。发射光谱和激发光谱的研究表明:宽的激发带主要来自于Eu-O和V-O的电荷迁移带。发射峰来自于5D0-7FJ的跃迁。纳米YVO4:Eu3+的猝灭浓度为12%,荧光寿命随Eu3+离子的浓度的增加而缩短。 相似文献
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采用均相共沉淀法制备了不同粒径的Y2O3Eu3+和Y2O3粉体材料,根据红外光谱和荧光光谱,探讨了纳米Y2O3Eu3+粉体的微观结构与同质体微米材料相对变化.发现纳米粉体的Y(Eu)-O键吸收峰校正高度和面积随着颗粒的减小而减小,而对于同质微米材料却相反.分析认为Y(Eu)-O键红外吸收峰校正高度和面积由Y(Eu)-O键的平均键长和Y(Eu)-O键振动态的数目两个因素决定,对于微米粉Y(Eu)-O键长起主要作用.由于纳米粉体的比表面积随粒径的减少呈指数的增加,不饱和键和悬空键的数目随粒径减小而指数增加,Y(Eu)-O键振动态的数目起主要作用.计算了纳米粉体相对微米粉的跃迁强度参量Ωt/Ωt'值,发现Ω2和Ω4均增加,说明粉粒内部跃迁几率增加.纳米荧光粉比微米粉荧光强度减少的实验事实应是纳米粉粒表面效应引起的,与红外光谱实验的结果相符. 相似文献
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为了应用分形理论确定纳米3Y-TZP粉体制备方法的优劣,采用共沸蒸馏法和醇水溶液加热法制备了纳米3Y-TZP粉体,利用TEM观察确定了粉体粒径尺寸和团聚体形貌,并运用分形理论分析了分形维数和粉体烧结性能的关系。结果表明:纳米粉体在颗粒尺寸相同的情况下,粉体分形维数越低,团聚体半径越小,烧结性能越好;对粉体TEM图像进行分形维数计算并与粉体红外光谱分析和烧结结果进行了比较,确定醇水溶液加热法制备纳米3Y-TZP粉体效果较好。 相似文献
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复合沉淀法制备(Y,Gd)2O3:Eu纳米粉体及其发光性能 总被引:4,自引:0,他引:4
报道了一种采用氨水和碳酸氢铵的混合溶液作为复合沉淀剂来制备(Y,Gd)203:Eu发光粉体的新工艺,采用热分析(TG-DTA)、红外光谱(FT-IR)、X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)等手段对粉体制备过程中的物理化学变化进行了研究.通过X射线激发的发射光谱研究了Eu掺杂浓度和煅烧温度对(Y,Gd)2O3:Eu粉体发光性能的影响.结果表明采用复合沉淀法制备工艺,经过850℃烧2h,可以得到晶粒尺寸为50nm左右,且基本无团聚的(Y,Gd)2O3:Eu粉体,比表面积为23m^2/g,其X射线激发的发光强度较草酸盐沉淀法所得到的相同组分的粉体大大增强. 相似文献
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采用均相沉淀法和燃烧合成法制备了不同粒径的粉体材料Y2O3:Eu3+,着重研究了样品的红外光谱,探讨了纳米晶Y2O3:Eu3+与同质微米材料相比的微观结构的变化.研究发现,波数位于563 cm-1的Y(Eu)—O键的吸收峰校正高度和面积对于纳米级粒径的粉体材料随着颗粒的减小而减小,而对于同质微米材料却相反.经分析认为:Y(Eu)—O键的吸收峰校正高度和面积由Y(Eu)—O键的平均键长和Y(Eu)—O键振动态数目这两个因素决定.对于微米粉体Y(Eu)—O键长的变化起主要作用,而对于纳米粉体由于不饱和键和悬空键的形成,Y(Eu)—O键振动态数目的变化起主要作用. 相似文献
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采用自制的BA-MMA-AA三元共聚物和四异丙氧基钛(TPT)对纳米Si3N4进行表面包覆处理,利用红外光谱分析、TEM、粒径分布、接触角等手段进行表征,结果表明:在纳米Si3N4粉体的表面包覆了有机物,并与其发生了化学作用,有效地阻止了纳米Si3N4粉体的团聚;处理过的Si3N4粉体粒径明显减小,在有机溶剂中的分散稳定性显著增加,表面自由能明显降低,改善了纳米Si3N4粉体在聚合物基体中的分散。 相似文献
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用微米和纳米粒度的SiO2粉体分别配制SiO2质量分数为5%、模数(SiO2/Na2O摩尔比)为3.50的硅酸钠溶液,并用之浸泡热镀锌钢制备了硅酸盐钝化膜。用X射线衍射(XRD)、反射红外光谱(RA-IR)分析二氧化硅粉体,用透射红外光谱(FT-IR)和核磁共振(NMR)分析硅酸钠溶液的结构,用原子力显微镜(AFM)、电化学阻抗谱(EIS)分析转化膜的结构。结果表明:与微米级二氧化硅相比,纳米级二氧化硅含有Si-OH键较多,用它配制的硅酸钠溶液中硅酸负离子的聚合程度较低,成膜过程脱水量较多而生成微观孔隙较多的转化膜。 相似文献