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本文根据GB3323-87标准对焊接接头透照厚度比K值的要求,给出了射线源在不同位置时,纵、环焊缝一次透照长度和有效评片长度的计算公式,从而达到以最少曝光次数检验全部焊缝的目的。 相似文献
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近年来 ,我们利用射线对3~ 10m ,10~ 30mm厚的大型压力容器进行 10 0 %探伤 ,在实际探伤中 ,中心透照困难较大 ,只能采用定向透照方法 ,但用片量较大 ,拍片时间也较长。如何确定较大的一次透照长度和最小透照焦距 ,以保证最少曝光次数和最短曝光时间呢 ,实践证明 ,利用胶片长度确定底片的有效评定长度 ,再计算一次透照长度L3和最小透照焦距F是可行的。1 纵缝单壁透照JB 4 730— 1994标准规定 ,透照质量等级为AB级时 ,透照厚度比K≤ 1.0 3。根据图 1搭接标记在射线源侧A ,B点上 ,为使搭接标记能够准确落在底片上 ,取胶片两… 相似文献
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结合实际工作中的具体情况及探伤标准,通过理论计算确定周向x射线机偏心法透照环焊缝的一次透照长度。 相似文献
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介绍以Exce(l电子表格)作为计算分析工具,实现了焊缝射线检测工艺参数的自动计算,提高了计算精度和效率。 相似文献
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通过理论分析与计算,提出了减少管径大于Φ89毫米的管焊缝检验次数的依据。并指出对于89mm〈Φ〈115mm规格的管焊缝可采用双壁透照双壁成像(相互重直透照两次)的检验方法。 相似文献
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小径管对接环焊缝有效透照厚度的计算 总被引:1,自引:0,他引:1
小直径管(直径D≤100mm)对接焊缝无损检测的常用方法是射线检测。但在检测中要准确确定透照厚度较困难,因为小直径管对接焊缝是特殊的变截面工件,其透照厚度在有效透照区域内是连续变化的而且变化很大,无论采用垂直透照法还是椭圆成像法都存在此类问题。透照厚度是射线检测的重要工艺参数,它决定了实际透照管电压和像质指数的选取,还与透照厚度比和有效透照区有关。国内外有关标准虽然近似规定了小直径管对接环焊缝的透照厚度,但不同标准的规定存在差异,这样将导致对同一焊缝检测时,管电压和像质指数等的选取不同,从而引起检测灵敏度不同。 相似文献
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双壁双影法检出范围与一次透照长度关系浅析 总被引:2,自引:0,他引:2
JB4730 - 94《压力容器无损检测》中对外径≤76mm的钢管环焊缝 ,采用双壁双影透照时 ,其射线检出范围按附录 E的规定 [1] 。附录 E中规定检出范围按下式计算L =L1?- 4L2丩1?× 1 0 0 % (1 )式中 L——检出范围 ,%L1?——外壁周长 ,mmL2?——底片上不见钢丝区域的长度 ,mmL2?一般位于椭圆弧两端 ,共四段 ,彼此对称 ,如图 1所示。 L2?=A′P′?,那么按式 (1 )计算得到 L时 ,焊缝的实际检出率η为多少 ,或者说一次透照长度占整圈焊缝总长的百分数为多少 ,本文欲通过数学推导从理论上加以分析。1 数学推导1 .1 前提条件 图 1 由… 相似文献
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本文着重分析了使用周向x射线机(或γ源射线机)进行中心透照法的优点和局限性,从而建议在透照条件允许的情况下,应尽量采用中心透照法。 相似文献
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通过对T型接头、搭接接头角焊缝射线照像采用直接透照技术所存在问题的分析讨论,提出了利用楔块补偿或采用偏置补偿的方法改善像质,提高检测效果。 相似文献
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我单位生产的航空用小型圆筒壳体产品,多为薄壁管焊接而成,对这类产品的射线检测以环焊缝为主,根据射线头的结构形状,可以采用外透法和内透法.圆筒壳体分两种:短壳体圆筒外径为162mm,壁厚2.0mm,长210mm,焊缝2条;长壳体圆筒外径为162mm,壁厚1.4mm,长600mm,焊缝1条.我们从Seifert公司购进一台周向辐射棒阳极射线机,对环焊缝采用内透法照相,并用进口带状胶片,检测效率和检测质量都有了很大改善.但因每次开机只能透照一条环焊缝,故透照效率仍不能满足生产中大批量检测的要求.为此我们通过对各类射线机使用各种透照方法所得透照质量的分析和透照效率的计算,选择了最好的透照方案,并设计制造了透照夹具,在保证透照质量符合要求的基础上,提高了产品透照效率.1 透照方案的比较 相似文献
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经过实际应用,当椭圆型环焊缝的长、短径之比在一定范围时,采用中心透照工艺,在一定措施下,底片质量能满足标准要求,从而提高了效率。 相似文献
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国内现行数字射线成像检测标准对于管道环焊缝的最少透照次数都没有简单、有效的确定方法,而直接参照射线胶片检测的最少透照次数来确定有很大的局限性.依据标准SY/T 4109.5-2013,分别针对双壁单影透照法与中心内透照法,分析了影响最少透照次数的因素,并提出了确定最少透照次数的计算公式,以便于检测人员参考. 相似文献
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石油化工装置中,大直径的高压厚壁管环焊缝的射线探伤,大都采用Ir^192γ射线双壁单投影透照技术,本文以某石化厂加氢裂化装置高压厚壁管环焊缝射线探伤为例,介绍使用Ir^192γ射线中心透照技术,以缩短射线探伤周期,提高底片质量。 相似文献