定数截尾Weibull分布下恒定应力加速寿命试验统计分析

设产品寿命服从Weibull分布，尺度参数为η＞0，形状参数为m＞0，在加速应力水平Si下，加速方程为Inηi=a＋bφ（Si）（i=1，2，…，k）本文绘出了定数截尾Weibull分布各应力下形状参数mi的极大似然估计的一种改进迭代算法，利用[1]类似的方法对各应力下所得估计进行修正，后对各应力下mi的估计值进行加权平均得m的近似无偏估计；利用定数截尾Weibull分布尺度参数ηi的极大似然估计，通过Weibull分布与指数分布之间不关系以及指数分布的性质，求得各应力下尺度参数的自然对数Inηi的近似无偏估计，利用Inηi的估计值与加速方程，建立线性模型，利用Gauss－Markov定理得加速方程系数a和b的近似最佳线性无偏估计值．通过模型由此可求出正常应力S0下各种可靠性特征量的估计．模拟结果表明本方法是具有较高的精度，且本方法计算比较简单，在工程上比较适用．     

定数截尾试验数据缺失的一些处理方法的探讨

在电子产品定数截尾试验中,常会遇到数据缺失的问题。如何对"缺失数据"后的现有数据进行统计分析,是一个特殊的、有较大难度的问题。寻找在缺失数据条件下对不完全数据的处理进行科学、有效的可靠性分析方法,现已成为可靠性分析中一个新的、重要的领域。     

一种步进应力加速寿命试验数理统计分析法

本文提出了处理步进应力加速寿命试验的“时间等效”数学模型,并用它把寿命分布服从对数正态分布(或威布尔分布)、有m步的一次步进应力加速寿命试验变为有m级应力的恒定应力加速寿命试验来分析处理.并且推导出了它们之间的变换计算公式.用本法处理质子轰击隔离WC56型砷化镓场效应管步进应力加速寿命试验,获得了满意的结果.     

电子元器件的恒应力寿命试验和加速寿命试验

本文简述电子元器件等产品的恒应力寿命试验和加速寿命试验方法.     

基于寿命应力模型的电能表加速寿命试验研究

当前加速寿命试验模型主要以单一应力加速模型为主。本文在威布尔分布模型基础上,结合Peck温湿加速模型,首次提出用于描述电能表加速试验的＂寿命-应力＂模型,并采用高温高湿环境实现加速寿命测试的方法对DDZY33C-Z型电表进行了可靠性评估。该方法在实验室中用30台样机进行4天左右的时间,可以验证电能表10年的平均寿命,从而大大减少了试验时间和试验成本。     

循环序进应力加速寿命试验的统计分析

讨论了在产品寿命服从指数分布的情况下,循环序进应力加速寿命的分布函数及试验的数学模型．并给出了相应参数的估计。     

恒定应力加速寿命试验成组试验数据的Bayes统计分析

在产品的寿命服从指数分布的情况下，本文讨论了恒定应力加速寿命试验模型成组试验数据下的产品可靠性指标的Ｂａｙｅｓ估计，给出了数值计算例子。     

一种电子元器件高加速寿命试验指标的探讨

高加速寿命试验用于识别设计缺陷和制造问题,提高设计强度极限,但不能评估产品的可靠性。该文在分析了产品可靠性可以通过相对性评估的基础上,探讨了在高加速寿命试验的框架下的半数失效时间（FT50）评价指标和试验方法,并讨论了它用于电子元器件可靠性评估的方式。     

一种基于振动应力变换的加速试验方法研究

随着电子元器件寿命的延长,电子设备的寿命也越来越长.为了适应高可靠产品的要求,评估、鉴定验收电子设备的可靠性水平时.越来越多地应用加速试验.介绍一种应用改变振动应力的方法来加速整个试验过程.数据的统计和分析方法参照了GJB 150A.16A-2009的规定.在此标准中,不同振动环境的疲劳等价关系可以通过公式进行等价转换,可以确定所累计的各种振动环境产生的振动疲劳损伤和振动耐久试验的加速试验量值.在实验室条件下,该方法可以方便地、可操作地评价出电子产品的可靠性水平.     

基于可能性理论的随机应力加速寿命试验分析方法

在加速寿命试验中,随机应力的影响是普遍存在的,但目前对随机应力条件下的加速寿命试验分析缺乏有效的方法.以可能性理论为基础,将随机应力转化为一个模糊应力,通过确定该模糊应力的可能性分布函数.建立随机应力条件下的寿命分布模型.提出一种通过求取模糊数的上、下可能性均值来减小模型误差的方法,并以阿伦尼斯模型为例,分析了温度随机应力条件下的寿命分布模型,结果证明该方法是有效的.     

基于MAM的白光OLED恒定应力加速寿命试验研究

为了短时间内获得白光有机发光显示器(OLED)的可靠性寿命信息,通过对其开展三组恒定电流应力加速寿命试验采集样品失效试验数据,应用对数正态分布函数描述白光OLED的寿命分布。在图分析法(MAM)的基础上,基于自行开发的寿命预测软件,绘制了对数正态概率双坐标纸,计算出白光OLED的平均寿命和中位寿命。数值结果表明,白光OLED寿命服从对数正态分布,加速寿命方程符合逆幂定律,精确计算的加速参数使得对其寿命的快速估算成为可能。结果可为生产厂商和用户提供参考和指导。     

电子产品加速寿命试验的一种优化设计

在两个未知参数的加速方程中,设定一个约束条件,以MLE渐进方差最小为准则。给出了指数分布（电子产品寿命数据）下k≥3个应力情况失效数据分配的最优设计。     

真空荧光显示屏恒定及步进应力加速寿命试验的研究

为了解决在较短的时间内预测真空荧光显示屏（VFD）寿命的问题,降低寿命预测成本,通过加大灯丝温度进行了恒定和步进应力相组合的加速寿命试验,研究制定了其加速寿命试验的设计方案。应用威布尔分布函数描述其寿命分布,利用最小二乘法完成了试验数据的统计和分析,并开发了寿命预测软件。研究结果表明．试验设计方案是正确可行的,VFD的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合阿伦尼斯方程,加速参数的精确计算确保以后在很短的时间内便可估算出VFD在正常应力下的寿命。     

基于BRM的白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验研究

为了获得白光OLED的寿命信息,通过加大电流应力开展了二组恒定和一组步进应力相组合的加速寿命试验。采用威布尔函数描述白光OLED的寿命分布,利用双线性回归法(BRM)估计出威布尔参数,确定了加速寿命方程,对白光OLED寿命是否符合威布尔分布进行了Kolmogorov-Smirnov检验,并利用自行开发的寿命预测软件计算出平均寿命和中位寿命。数值结果表明,恒定步进应力加速寿命试验方案是切实可行的,白光OLED的寿命服从威布尔分布,寿命应力关系满足线性Arrhenius方程,精确计算的加速参数可实现在短时间内OLED寿命的预测。     

温度应力下基于步进加速退化试验的电子器件寿命预测

为实现高可靠性长寿命电子器件的寿命预测,根据Arrhenius模型,结合产品的线性退化轨迹模型,对于温度应力下性能退化性步进加速寿命试验,提出一种不同温度应力下时间折算方法,并且推导了它们之间的变化计算公式。在四种不同的温度下,对某型号集成运放进行步进加速试验,并利用此方法处理数据。结果表明,样品的伪寿命符合对数正态分布,其加速模型符合Arrhenius加速方程,据此可以求出样品中位寿命,实现寿命预测。     

一种基于温度加速的LED产品寿命快速评价方法

针对LED照明产品,提出一种寿命快速评价的方法.通过对样品在3种温度应力水平下进行加速寿命实验,以光通量的衰减作为失效判据,并对实验结果进行了分析,以威布尔分布来描述产品的寿命分布,利用最小二乘法和阿伦尼斯模型对试验数据进行统计分析,最终外推得出正常应力水平下产品的寿命.