石英晶体谐振器电参数模型及时测量的影响

论文分析了用阻抗计法测量石英晶体谐振器时，晶体的实际电参数模型与理论模型的差别及其对电参数测量精度影响的数量关系，提出了提高测量精度的方法和设计。采用新技术和方法研制的晶体自动测试系统，负载谐振参数的测量精度显著提高。这一工作对提高阻抗计型晶体现测试系统的测量精度，特别是提高晶体负载谐振频率和负载谐振电阻的测量精度具有重要意义。     

石英晶体谐振器负载谐振频率测量技术研究

石英晶体经常工作于负载谐振状态,由于负载电容的存在,负载谐振频率测量精度的提高存在固有的困难.对π网络零相位法测量石英晶体负载谐振频率的3种测量方法进行了分析,在此基础上,采用内置固定负载电容和电容计设计了π网络零相位型石英晶体电参数测试系统.实验结果表明,负载谐振频率重复测量精度达到了±2×10-6,但需进一步改进以减小系统误差.     

石英晶体谐振器电参数模型及对测量的影响

论文分析了用阻抗计法测量石英晶体谐振器时,晶体的实际电参数模型与理论模型的差别及其对电参数测量精度影响的数量关系,提出了提高测量精度的方法和设计。采用新技术和方法研制的晶体自动测试系统,负载谐振参数的测量精度显著提高。这一工作对提高阻抗计型晶体测试系统的测量精度,特别是提高晶体负载谐振频率和负载谐振电阻的测量精度具有重要意义。     

π网络分布参数对石英晶体频率测量的影响

采用π网络零相位法测量石英晶体串联谐振频率时,π网络中的分布参数会在π网络中引入相移,从而对石英晶体串联谐振频率的测量精度产生较大影响.采用补偿网络并适当选取补偿器件,比如电阻、电感和电容的串联或并联组合等,可以提高串联谐振频率的测量精度至±2 ×10-6范围内.实验中使用的电阻、电感和电容都是定值器件,如果全部换用可变器件,则可能更加精确地确定补偿器件并获得更好的实验结果.     

石英晶体谐振器负载谐振参数测量方法的改进

在基于阻抗计方法测量石英晶体谐振器的负载谐振频率和负载谐振电阻时,由于负载电容的接入造成石英晶体谐振器与负载电容接点对地的高阻抗,使得接点对地分布电容和晶体插座电容成为影响其测量精度的主要原因,这种影响的数量关系可以根据石英晶体谐振器的实际电参数模型导出。采用内置的负载电容并由内置的电容计对等效负载电容实现实时测量,采用间接测量方法测量负载谐振电阻,可显著提高其负载谐振参数的测量精度。     

用于包衣厚度测量的石英晶体谐振器夹具设计研究

为了提高药品包衣厚度测量的准确性,设计了一套晶振片夹具,可实现多方位测量。运用"等效密度法"建立起夹具和晶振片的有限元模型,分析不同夹具宽度对晶振片谐振频率的影响。通过有限元分析,发现夹具宽度对晶振片低阶模态下的谐振频率有较大影响,但随着模态阶数的增大,其影响程度随之下降。搭建实验系统对夹具影响程度进行验证,该夹具对晶振片厚度剪切的高阶振动频率基本无影响,符合包衣厚度测量系统的要求。     

石英晶体谐振器探测沉积膜层的特性

本文介绍压电石英晶体谐振器探测沉积膜厚度及速率的工作原理。根据石英晶体和沉积膜层的切变弹性声阻抗理论,并利用在界面处的输入阻抗概念,导出了沉积一种材料膜层时复合系统的谐振频率变化与沉积层材料声阻抗和质量之间的理论关系式,进而导出了沉积多种材料膜层系时的理论关系式。这些关系式是使用石英谐振器精确探测沉积膜层的科学依据。     

一种新型石英晶体频率微调机测控系统设计

针对当前国产微调机测控系统的种种缺陷,设计了一种新型微调机测控系统.该测控系统由高性能单片机和CPLD为核心的系统控制单元、基于π网络零相位测试方法的频率测试单元、USB通信接口和PC机等组成.实验结果表明:系统具有微调范围宽、微调精度高、可靠性高、实时性好等优点.     

天线电参数的时域测量

论述了间接法时域测量的基本原理，叙述了用矢旺网络分析仪进行时域测量用到的基本概念；给出了在是域测量天线电参数时，仪器时域参数的选择准则。     

石英晶体谐振器的应力变化及力敏特性的关系

将半无限各向异性介质薄片在受集中力时介质内应力的分布结果,延推到薄圆形石英晶体谐振器,得到谐振器在受径向集中力作用时,其频率的相对变化与加力方位角及加力强度的关系,并与电极置于几何中心时谐振器的相对频率变化进行比对。用有限元方法对薄圆形石英晶片受径向力作用时不同位置的应力变化进行了分析,并在相应位置蒸镀电极,以形成谐振器,测试了不同位置谐振器的力频敏感特性,结果表明,理论计算及分析值与实验结果基本一致。     

石英晶体最大双折射率色散特性的椭偏测量

为了测量石英晶体最大双折射率的色散特性,在椭偏光谱仪的水平透射测量模式下,通过对确定厚度的石英波片相位延迟量的精确测量,计算出了石英晶体的最大双折射率值,并进行了误差分析。结果表明:这种方法光路简单、操作方便,屏蔽了光源的不稳定性;双折射率测量精度达到了10-6,比连续偏光干涉法的测量精度提高了1个数量级;实现了对石英晶体的最大双折射率色散特性的连续光谱测量;此方法对其它双折射晶体材料的双折射率色散特性的研究也同样适用。     

π网络石英晶片自动分选机测控系统设计

石英晶片自动分选机的设计对提高国内石英晶片测试行业水平具有重要的实用价值.测控系统采用π网络零相位技术,主要由计算机、信号发生器、π网络和控制电路等组成.实验结果表明,系统测试频率范围为1 MHz～60 MHz,中心频率附近分选一致性高达80%,主要性能指标优于国内普遍采用的振荡器测试系统和阻抗计测试系统,并能有效地测试寄生谐振频率.     

数字频率合成技术在晶振测量中的应用

对直接数字频率合成技术应用于π网络法石英晶体谐振器的串联谐振频率和串联谐振电阻测量进行了实验研究 ,实验结果表明 ,从 1MHz到 1 2 0MHz的石英晶体谐振器串联谐振频率的测量重复性达到了± 5× 1 0 -7,串联谐振电阻的测量重复性达到了± 5%     

纯数字IC卡电度表的设计

详细地叙述了数字式ＩＣ卡电度表的基本原理、硬件结构和基本功能，该电度表不仅具有低工功耗、低成本的特点，过流、过压及漏电保护功能，而且具有结构简单、运行可靠、性能价格比高等优点，最后详细地介绍了电能计算、精度补偿、周期补偿的原理及算法的实现。     

实用的热电阻测温电路设计

以Pt100为例,介绍一种实用的热电阻测温电路设计方法．解决了三线制测温电路设计中A／D丢码问题,在相同的A／D转换精度前提下,提高了测温的分辨率和精度．该方法对热电阻测温仪表设计具有普遍的借鉴意义．     

应力型大模面积光子晶体光纤的纤芯设计

通过施加完美匹配层,利用有限元法,研究热应力诱导的单偏振大模面积光子晶体光纤的偏振特性,计算纤芯参数对场能量分布系数和偏振损耗比的影响.结果表明,随着纤芯折射率提高,两正交偏振模的损耗比下降,当纤芯直径减小时,场能量分布系数降低.     

基于OpenCv的石英晶片缺陷检测

针对石英晶片在生产制造过程中会产生物理缺陷的问题,提出了基于计算机视觉库OpenCv的石英晶片缺陷检测方法。通过对石英晶片图像进行平滑滤波、二值化处理、边缘检测,将处理后的图片与标准模板进行匹配,从而确定晶片是否存在缺陷。实验结果表明采用OpenCv进行图像处理比采用传统的图像处理代码,程序更简洁,执行效率更高,能较好地完成对晶片的缺陷检测。     

合成石英晶体Q值的快速分析方法

对合成石英晶体Q值快速分析方法进行了研究。利用红外分光光度计吸收系数α与光强之间的经验公式建立了α~Q的工作曲线;固定红外2785 nm波长测量Z块和Y棒晶体的红外吸收;采用化学光谱分析,测量了合成石英晶体Z块和Y棒中所包含的杂质。对比分析结果表明,晶体中杂质含量多的部位,红外2785 nm波长吸收较大,该部位晶体的Q值低;而晶体所含杂质少的部位,对红外2785 nm波长的吸收也小,其Q值高。由此得到了用红外分光光度计快速测量合成石英晶体Q值的新方法。