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服务台可修的M/G/1排队系统—一些新的可靠性指标 总被引:2,自引:1,他引:2
本文进一步分析了服务台可修的M/G/1排队系统,获得忙期长度与此忙期中服务台失效次数的联合概率分布等一些新的可靠性指标,给出了计算时刻t服务台失效的瞬时概率和(0,t)中服务台的平均失效次数的近似表达式,最后用实例证明了其有效性。 相似文献
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针对数字排队调度系统长时间不间断的特殊性,文章对数字排队调度系统的可靠性分析进行探讨,首先对分析中的一些定义进行界定,然后对数字排队调度系统模型进行说明,并对系统可靠性进行预测,对失效率进行估计,提出通过可靠性分配不断改进设计使系统可靠性逐步逼近真值的办法。 相似文献
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本文提出了一种简单而又准确的估计马尔科夫可修系统可靠性的方法,它利用特殊马尔科夫链——马尔科夫吸收链的性质和矩阵特征值的特性,求出系统的平均到故障时间MTTF_s和系统的可靠度R_s(t),因而,它避免了经典方法——Laplace正逆变换法的复杂运算,给出了可靠性的真实概率分布。 相似文献
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本文简要评价国外文献中关于多台可修设备在不同起始时间和截尾情况下λ、β的点估计,区间估计方法及NHPP的Cm^2和X^2检验方法。 相似文献
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本文运用Monte-Carlo方法计算了n个部件组成的串联系统的Non-Martov可修系统的可靠度、可用度、工作时间、停工时间等系统可靠性技术指标,并获得了较为理想的结果。 相似文献
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文中应用模糊数学与系统工程的理论与方法对可维修系统的经典有效性和不维修系统 模糊可靠性进行了概念扩充,提出了可维修系统的模糊有效的概念,给出了可维修系统 模糊可靠度、模糊维修度和模糊有效度的计算公式和计算示例,可望对C^3I系统等既含随机性又含模糊性的可维修系统的可靠性分析提供一种新的思路和方法。 相似文献
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GaAs器件及MMIC的可靠性研究进展 总被引:2,自引:0,他引:2
来萍 《固体电子学研究与进展》1995,15(4):381-390
介绍了国外GaAs微波器件及MMIC的可靠性研究进展情况,给出GaAsMESFET、HEMT和MMIC的主要失效模式和失效机理以及在典型沟道温度下的平均寿命代表值。 相似文献
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Wang Changhe 《微纳电子技术》1995,(3)
本文扼要介绍了近5年来我国在微电子器件(半导体分立器件及集成电路)可靠性研究方面所取得的进展与成果及存在的问题。预计今后5~10年内,我国微电子器件可靠性研究工作将在5个方面展开,器件可靠性水平将提高1~2个数量级。 相似文献
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本文概述了集成电路可靠性的发展情况,着重对大规模集成电路的栅氧化层击穿、热电子效应、电迁移等失效机理进行了分析,并介绍了几种有关集成电路的可靠性试验和筛选方法。 相似文献
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本文介绍了CMOS/SOS CC4066器件长期可靠性试验结果。对失效器件的分析表明,硅-蓝宝石技术没有新的失效机理。该器件的可靠性不低于国内体硅MOS IC能达到的水平,并接近“七专”器件的水平。 相似文献
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通过对长波长 PIN+FET 组件的可靠性试验,估算了长波长 PIN+FET组件的平均寿命;对失效样品进行了分析,确定了其主要失效模式,并对优化工艺作了进一步探讨。 相似文献
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