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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
采用自动测试技术可以大大地缩短电子设备故障查找时间,是快速修复电子设备的最佳方法。提出了由自动测试设备(ATE)模型、被测电子单元(UUT)模型和测试接口设备(TID)模型组成的一种电子设备自动测试模型,该模型使用信号描述方法定义了ATE测试能力、UUT信号要求及TID配置方法,并从系统集成、软件策略和测试描述3个方面,介绍了该模型在某型电子装备自动测试系统(ATS)中的应用情况。结果表明该模型对组建ATS和设计TID具有一定的指导作用。  相似文献   

2.
六、控制系统的传递函数模型对本文的论题来说,试验中系统(SUT)是一种模拟与数字组件的复杂装置,并且通常具有信号与功率放大以及信号整形能力。在伺服机构和类似系统情况下,动力源可能是电动、气动、液压、热气等等。此外,在独立的自动测试站(ATS)内,试验台还可以包含一种专用组件,例如陀罗振动台。试验台本身有类似于SUT的方式,具有需要周期校准的动态特性。在本论文内,我们牵涉到模拟系统或混合系统的传递函数测试,其中的任务是提供一个或更多变量的连续控制,例如机床工作台取向、控制面位置以及传动速度。  相似文献   

3.
印制电路板自动测试用夹具和探针的确定对印制电路板进行测试的最好方法就是采用自动测试设备(ATE)。在ATE中,测试夹具和探针有着广泛的应用。其中包括印制电路板的在线测试、过程测试及最终测试。这些夹具可以是制成品,也可以临时设计,以便与测试设备相配合。印制电路板的图形、测试参数及ATE的接口等决定着测试夹具的设计和所选用探针的型式。一、夹具测试夹具有三种主要类型:真空式、机械式(手动)和气动式。  相似文献   

4.
VXI总线技术是当今计算机测控技术发展的主流,是自动测试设备(ATE)标准化技术的核心。本文在简述自动测试系统组成及基本原理的基础上,介绍了以VXI总线技术为核心的航空制导武器自动测试系统的总体设计思路和原理,并阐述了该测试系统的功能、工作原理、硬件组成、软件组成。  相似文献   

5.
通用性是目前自动测试系统(ATS)的发展方向。从基于消息、寄存器、驱动函数3种控制方式对仪器测试进行介绍、分析,同时结合通用性和开放性,对综合ATE自动测试系统设计进行深入的探讨。  相似文献   

6.
根据自动测试系统(ATE)集成要求,提出了基于PLC的ATE供电电源控制器的设计方案和实现方法.经实际应用表明,该电源控制器电路简单、稳定可靠,大大提高了ATE的自动化水平.  相似文献   

7.
传统半导体测试系统有两种组成形式,一种是基于台式分立仪器组建,通过GPIB等仪器控制总线连接,这种架构的好处是结构简单、组合与分拆方便,既可合起组成系统又可分立完成独立测试,但缺点是构架稳定性差、测量通道资源少、不易维护、不利于生产线大批量测试用;另一种形式是自动测试系统(ATE),如爱德万93000等,ATE系统资源丰富、功能强大,是目前集成电路量产测试的主要设备,主要用在封测生产线上,其缺点是成本高、专用性强、维护保养难度大。介绍了一种基于NI公司的虚拟仪器系统自动测试系统,此系统由多通道PMU、高速LVDS I/O、电源、SMU等多种模块化仪器组成,结合自行设计的高性能信号路由、机箱,配以必要的外部仪器、DUT LoardBoard板,组成功能全面的混合信号自动测试系统。测试系统采用LabVIEW和TestStand编程,界面友善、通用性强。该系统现已完成14位2GSPS D/A转换器测试开发,指标满足要求。  相似文献   

8.
传统半导体测试系统有两种组成形式,一种是基于台式分立仪器组建,通过GPIB等仪器控制总线连接,这种架构的好处是结构简单、组合与分拆方便,既可合起组成系统又可分立完成独立测试,但缺点是构架稳定性差、测量通道资源少、不易维护、不利于生产线大批量测试用;另一种形式是自动测试系统(ATE),如爱德万93000等,ATE系统资源丰富、功能强大,是目前集成电路量产测试的主要设备,主要用在封测生产线上,其缺点是成本高、专用性强、维护保养难度大。介绍了一种基于NI公司的虚拟仪器系统自动测试系统,此系统由多通道PMU、高速LVDS I/O、电源、SMU等多种模块化仪器组成,结合自行设计的高性能信号路由、机箱,配以必要的外部仪器、DUT LoardBoard板,组成功能全面的混合信号自动测试系统。测试系统采用LabVIEW和TestStand编程,界面友善、通用性强。该系统现已完成14位2GSPS D/A转换器测试开发,指标满足要求。  相似文献   

9.
本文针对传统自动测试设备(ATE)中接触测试的不足,提出了一种基于红外热辐射的印制电路板(PCB)故障诊断方法,介绍了红外热成像诊断技术,描述了PCB红外诊断仪软、硬件组成,以及如何生成故障诊断策略。  相似文献   

10.
随着自动测试技术的广泛应用,系统组成也变得更加复杂。复杂测试系统要求满足网络上多个节点的数据实时通信。DDS数据分发服务技术,作为一种新兴技术能够满足高吞吐量、低延迟,实时数据分享的多点测试系统。本文介绍了自动测试技术及DDS数据分发服务技术,并将DDS数据分发技术应用于ATE自动测试技术中。  相似文献   

11.
ATE可计量性信息流建模与分析研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对许多测试设备无法进行计量校准的现状,以自动测试设备(automatic test equipment,ATE)为研究对象,在装备“五性”(可靠性、维修性、保障性、测试性、安全性)的基础上提出了可计量性的概念,并对可计量性的内涵进行分析,提出了它的定性和定量评价指标.以ATE原位校准为例,按照仪器的精度等级确定计量链;参照测试性建模的思想,以校准信息流的方向建立ATE可计量性模型;通过分析ATE可计量性的超差——校准矩阵,对ATE可计量性指标进行评价,最后通过实例说明了该理论的可行性.  相似文献   

12.
IP(intellectual property)核复用的设计思想使得SoC(system-on-a-chip)成为当今集成电路设计的主流,但对其进行测试变得异常困难,这就是需要为SoC设计测试结构的主要原因。传统的测试结构功能是:根据自动测试设备(automatic test equip-ment,ATE)提供的某一频率,将测试数据通过测试结构依次施加到SoC内部的IP核,并获取测试响应传输到ATE中,以分析其功能正常与否。但是这种测试结构存在很多缺点,其中最主要的是未考虑测试设备提供的测试访问机制(test access mecha-nism,TAM)的宽度与SoC内各IP核的最佳测试带宽是否一致。对这一系列问题进行研究,提出一种基于带宽匹配思想的SoC测试结构设计方法,该方法主要通过一个带宽匹配转换模块,实现测试数据的宽度调整和施加频率的调整,在牺牲了芯片部分额外面积的前提下,很好地实现了测试带宽和测试频率的匹配,缩短了SoC的测试时间。最后将这种方法应用在ITC’02标准测试集上,实验结果验证了该方法的有效性。  相似文献   

13.
自动测试系统的发展经历了从专用型向通用型发展的过程,而测试仪器也由台式仪器积木型向模块化仪器集成型发展。早期仅侧重于自动测试设备本体的研制,现在则着眼于建立整个自动测试系统体系结构.同时注重ATE(自动测试设备)研制和TPS(测试程序集)的开发及可移植.以及人工智能在自动测试系统中的应用。其主要应用技术有:[第一段]  相似文献   

14.
基于VXI,PXI,GPIB三种自动测试系统中最广泛使用的总线.对当前测试系统中涉及与VXI.PXI.GPIB三种测试总线相关的总线控制方法进行了分析.同时结合某型机航空电子设备综合ATE系统的总线控制运用方案对该问题进行深入探讨。  相似文献   

15.
机载设备自动测试车间静电的产生与防护   总被引:1,自引:0,他引:1  
在分析了静电产生、传播的途径以及危害等内容的基础上,针对机载设备自动测试车间(ATE车间)的特点,提出了ATE车间防止静电危害的有效措施及方法.  相似文献   

16.
军用装备测试性技术发展趋势分析   总被引:7,自引:0,他引:7  
近年来,随着军用装备电子化水平和复杂化程度的提高,测试性技术也越来越重要,在理论和应用方面取得显著的进展.对国内外军用装备机内测试技术(BIT)和自动测试设备(ATE)的发展的研究,指出BIT存在的虚警率高、诊断能力不足、诊断模糊等问题,以及ATE存在的费用高、种类多、操作复杂、离线检查等方面的不足,最后在两种技术的结合、总线技术采用、机电BIT技术的发展、虚拟仪器技术的应用和综合诊断等方面分析了测试性技术未来的发展趋势.  相似文献   

17.
11.闭环测试第五代ATE的附加计算本领,加上显著提高可靠性的数字装置,最近已使得有效实现闭环测试成为可能。在这种情况下,‘闭环’适用于ATE模拟任务,在其中要使用SUT,然后估计‘实际使用寿命’性能。当按闭环方式测试飞机盲目着陆自动驾驶仪时,上述想法在英国至少从1970年开动存在至今。模拟计算机被用来模拟飞机动力学与空间运动学。通过测量在着地时的垂直速度与腐仰角率来估计自动驾驶仪性能。可惜,由于模拟计算机时常失灵,使这种测试效率很低。因此它从未进入按最动预定的  相似文献   

18.
一、前言近年来,功能电路板自动测试系统在国外发展很快,英国Membrain公司研制的750系统(1983年)、美国HP公司研制的3065系统(1983年)都是当今世界上水平较高的功能电路板自动测试系统,它们同时具备“混合在线测试”和“混合功能测试”的能力,被称为“万能自动测试系统”。二、功能电路板自动测试系统介绍功能电路板自动测试系统主要由三大部  相似文献   

19.
安捷伦科技公司日前宣布.针对数字和混合信号消费器件测试推出93000超小型测试头(CTH).藉此进入低成本自动测试设备(ATE)市场。安捷伦在93000可扩充平台中最新增加了这一产品.满足了制造商对测试复杂的高性能系统级芯片(SOC)不断增长的低成本解决方案需求。目前.这些SOC正广泛用于大批量低成本消费电子器件中。  相似文献   

20.
介绍利用数据采集卡、应变式传感器和霍尔元件在运动控制系统的基础上,设计的一种能有效测试超导体在空间磁场中磁力大小与磁场分布情况的自动测试系统。同时还介绍了如何实现测试系统的数据采集功能。  相似文献   

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