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《中国材料科技与设备》2013,(3):85-92
VersaTM3DDualBeam是FET的最新DualBeam仪器Versa3D是一个高度可选配的平台,客户可根据自己的需求来选系统功能的配置。高真空版是常规导电或镀膜样品的理想之选。与之不同,高低真空版可以灵活工作于包括非镀膜、绝缘材料等众多样品。选配的环境扫描电镜ESEM模式可做非镀膜、绝缘体或自然含水样品的电子束成像,并支持原位分析和动态试验。 相似文献
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《中国材料科技与设备》2012,(6):107-114
VerSa^TM 3D DualiSm是FEI的最新DualBeam仪器Versa3D是一个高度可选配的平台,客户可根据自己的需求来选系统功能的配置。高真空版是常规导电或镀膜样品的理想之选。与之不同,高低真空版可以灵活工作于包括非镀膜、绝缘材料等众多样品。选配的环境扫描电镜ESEM模式可做非镀膜、绝缘体或自然含水样品的电子束成像,并支持原位分析和动态试验。 相似文献
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《中国材料科技与设备》2012,(3):97-104
产品名称:Versa^TM 3D DualBeamVersa^TM 3D DualBeam是FEI的最新DualBeam仪器Versa3D是一个高度可选配的平台,客户可根据自己的需求来选系统功能的配置。高真空版是常规导电或镀膜样品的理想之选。与之不同,高低真空版可以灵活工作于包括非镀膜、绝缘材料等众多样品。选配的环境扫描电镜ESEM模式可做非镀膜、绝缘体或自然含水样品的电子束成像,并支持原位分析和动态试验。 相似文献
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《中国材料科技与设备》2012,(4):99-106
Vers TM 3D DualBeam是FEI的最新DualBeam仪器Versa3D是一个高度可选配的平台,客户可根据自己的需求来选系统功能的配置。高真空版是常规导电或镀膜样品的理想之选。与之不同,高低真空版可以灵活工作于包括非镀膜、绝缘材料等众多样品。选配的环境扫描电镜ESEM模式可做非镀膜、绝缘体或自然含水样品的电子束成像,并支持原位分析和动态试验。 相似文献
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《中国材料科技与设备》2011,(6):90-98
产品名称:MagellanTM HR SEM 生产单位:FEI COMPANY 型号:MagellanTM XHR 400 SEM 产品特点:MagellanTM XHR 400 SEM是世界上第一款在1kv~30kv范围内都具有小于lnm分辨率的扫描电镜。它首创了所谓的超高分辨率扫描电镜(XHR SEM:Extreme high resolution SEM)。它在超低电压下所具有的超高分辨率这一卓越性能使它能提供其它技术所不能提供的特定的表面信息。 相似文献
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《中国材料科技与设备》2012,(1):99-108
产品名称:MagellanTM HR SEM 生产单位:FEI COMPANY 型号:MagellanTM XHR 400 SEM 产品特点:MagellanTM XHR 400 SEM是世界上第一款在1kv-30kv范围内都具有小于lnm分辨率的扫描电镜。它首创了所谓的超高分辨率扫描电镜(XHR SEM:Extreme high resolution SEM)。它在超低电压下所具有的超高分辨率这一卓越性能使它能提供其它技术所不能提供的特定的表面信息。 相似文献
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《中国材料科技与设备》2011,(5):107-114
产品名称:激光共焦显微拉曼光谱仪
生产单位:Renishawplc,雷尼绍公共有限公司,英国
型号:inVia
技术指标:
*高灵敏度:Si的三阶拉曼峰信噪比≥12:1,四阶峰可见; 相似文献
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《中国材料科技与设备》2014,(1):93-98
产品名称:Helios NanoLab^TM DualBeam^TM(FIB/SEM)生产单位:FEI COMPANY 型号:HeliosNanoLab^tm DualBeam^TM 产品特点:快速、易用、绝佳图像质量纳米级物质成像、分析和控制这些未来研发的关键因素-因HeliosNanoLab DualBeam系列仪器的诞生而变得普通平淡。 相似文献
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第八届国际振动与模态分析会议(IMAC)暨仪器展览于1990年1月29日至2月1日在美国Florida 州 Kissimmee 城举行.有22个国家600余名代表参加了会议。大会收到论文摘要409篇,最后收入8th IMAC 论文集的论文共285篇,其中美国99篇,中国49篇,英国19篇,西德10篇,比利时9篇,法国和日本分别为8和7篇以及其他国家34篇。 相似文献