多道全聚焦X射线荧光分析仪

X射线荧光分析仪是一种快速测定样品中各种元素含量的大型仪器。这种仪器在科研各部门以及冶金、地质、化工、石油、建材和机械等生产部门,已广泛应用。为适应冶金工业迅速发展的迫切需要,和有关单位合作,研制成了多道全聚焦X射线荧光分析仪。这种仪器的特点是采用全聚焦弯曲晶体;结构简单;操作方便;分析速度快,一次可同时分析六种元素;分析范围广,可从     

野外手提式X射线荧光分析仪通过验收

不久前,野外手提式X射线荧光分析仪通过了中国地质调查局组织的专家验收,标志着我国地质调查野外现场快速分析技术取得成功,该项地质装备进入实用化阶段.来自国土资源部、中国地质调查局、中国地质大学的多名勘探地球物理专家对该成果给与高度评价,认为该仪器具有很大的推广价值.     

原煤X射线荧光分析仪探测系统的改进

介绍了X荧光分析法在煤样成分检测中的应用,并根据需要对探测系统做了改进:在原来X光管激发基础上,增加了238Pu源(7.4×108Bq),设计成双激发源。在理论分析和实验基础上,确立的最佳几何条件参数为:最佳激发角度60°,最佳源样距8mm,最佳源-探间距5mm。测量结果表明,分析Fe之前元素适合用X光管激发,分析Fe及Fe之后元素适合用238Pu源激发。     

国外放射性同位素X射线荧光分析仪及其应用

一、概述放射性同位素X射线荧光分析仪是最近发展起来的一项新技术。在国外,它正在广泛应用于地质、勘探、采矿、选矿、冶炼和金属加工等工业部门。放射性同位素X射线荧光分析仪的基本原理是用放射性同位素源激发被测元素,使之产生特征X射线,并用罗斯过滤片或脉冲高度分析器对它进行能量选择(又称非色散     

日本理学3530型多道X射线荧光光谱仪简介

X射线荧光光谱仪(XRF)是岩石矿物化学分析中常备的三大现代化仪器分析手段之一。它与原子吸收光谱(AAS),等离子光谱(ICP)配合,可完成地质样品中常量、微量和痕量元素的分析。而XRF以常量元素分析见长,可测定含量高达90％以上的成分,它最适合于岩石矿物中主成分和次要成分的测定。 XRF有单道和多道之分。我所引进日本理学3530型是一台多道的XRF仪,现备有C、     

X射线荧光分析仪在矿产品检测中的应用

通过X射线荧光分析方法与传统化学分析方法在本钢选矿及外购矿产品质量检测中的应用对比，表明前者具有检测速度快，分析精度高、操作简便的特点，投入生产以来取得了明显的效果。     

电子数字计算机在流程用多道 X-射线荧光分析仪中的应用

在流程用 X-射线荧光分析仪中,仪器的测定结果不是某一元素的含量值,而是与元素在矿浆中的含量、矿浆浓度、矿物组成、矿石粒度等因素有关的 X-射线强度值。为了得到矿浆中某元素的含量值,必须把仪器的测     

电子数字计算机在流程用多道X-射线荧光分析仪中的应用

在流程用X-射线荧光分析仪中,仪器的测定结果不是某一元素的含量值,而是与元素在矿浆中的含量、矿浆浓度、矿物组成、矿石粒度等因素有关的X-射线强度值。为了得到矿浆中某元素的含量值,必须把仪器的测定结果按照山试验找出的数学公式进行     

放射性同位素X射线荧光分析仪在有色矿山的应用

序言放射性同位素X射线荧光分析,是近十几年来迅速发展起来的一种快速元素分析技术,目前在国内外得到越来越广泛的应用。它的分析范围非常广泛,元素周期表中从13号元素(铝)到92号元素(铀)等样品,都能够进行常量元素的定量分析,而且对低含量元素和微     

能量色散X射线荧光分析仪专用分析软件的开发

选矿生产中,采用X射线荧光分析仪分析品位,一方面有助于快速监测品位变化从而指导生产,另一方面节省化验成本。研究开发X射线荧光分析仪的关键是开发具有自主知识产权的分析软件。作者在深入研究国内、外能量色散型X射线荧光分析仪的基础上,掌握了该类仪器上位机软件的特点和必备的功能,结合自行开发的实验室台式X射线荧光分析仪,在Visual C++6.0开发平台上设计与开发了荧光分析仪专用分析软件。该软件除具备基本的定性和定量分析等功能之外,还针对仪器本身X射线计数率存在漂移的问题,设计了参比校正模块,一定程度上提高了仪器精度并克服了长期漂移。     

丹佛公司X射线分析仪

丹佛公司Ｘ射线分析仪是一种采用能量色散法的近流程分析系统，其主要部件的特点是：多流道矿浆切换器、低功率、Ｘ射线管、本征锗固态探测器、及可作为选件的中心站。     

多流道X荧光分析仪在选矿厂的应用

选矿的复杂性导致金属回收率和精矿品位控制 难度大,如何实时显示选矿过程中金属品位的过程数据,为操作人员配置选矿药剂提供依据,提高选矿回收率,逐渐建立和完善药剂添加量和金属回收率的数据库,实现选矿过程自动化控制,降低人为操作的主观性影响,减少化验室采样制样化验工序,降低劳动强度和药剂成本.     

多道X射线荧光光谱仪在建材非金属矿产地质样品分析中的应用

本文提出了用多道X射线荧光光谱仪分析建材非金属矿产地质样品的方法。该法采用熔融法制样,将NBSGSC程序计算出的理论α系数,用于熔融片体系中元素问吸收—增强效应的基体校正,分析结果令人满意。     

X射线荧光分析仪在东鞍山铁选厂的应用

多年来,国内各铁选厂测铁方法一直延用化学分析方法。这种方法虽具有一定的优越性,但由于操作程序复杂,分析速度较慢,从样品取出到报出结果约需一个小时以上,远远不能满足指导选矿生产的需要。为此我们经过反复试验于1982年12月,将X射线荧光分析仪用在铁矿浮选产品分析上,取得了良好效果。1983年6月开始,由鞍钢矿山公司批准在东鞍山选厂推广应用。实践表明,应用效果良好。     

X荧光分析仪数学模型的研究

本文叙述了实验室型X荧光分析数学模型和载流X荧光分析仪数学模型的研究方法,介绍了国外某些作者对这些数学模型的研究情况和结果,同时提出了适用于国产G4—1K型载流X荧光分析仪的数学模型。作者和他的同事们在这个动态模型中引入了具有回归显著性的待测元素与共存元素荧光效应的交叉乘积项,提高了模型的精度,减少了回归方程的剩余标准差。     

X射线荧光-铁品位在流分析仪的原理与应用

介绍了X射线荧光－铁品位在流分析仪的工作原理及其选矿厂的应用情况。体现了简捷实用的设计思想，为今后的推广应用提供了参考。     

在线X射线荧光分析仪建模及模型校正方法的研究

BOXA型载流X荧光品位分析仪采用X射线荧光技术对选矿流程中矿浆内金属元素品位值做在线实时检测。目前常用最小二乘法进行线性拟合建模,但是此方法在各个通道存在线性相关性时会失效,同时BOXA分析仪配置波长+能量双通道,当测量通道发生故障或者测量通道升级更换之后,原模型不再适用,重新标定时间过长。本文提出使用Bisquare建模的方法,模型精度以及对异常点的敏感性均优于最小二乘法,同时提出一种模型校正的方法,将模型校正到与原模型相近的精度,可以大大地节约时间,尽快恢复使用。通过原矿和锌尾矿进行实验验证,结果表明校正模型的精度与原模型基本相当,对指导选矿厂工艺流程有着重要的作用。     

能量色散X射线荧光分析软件开发

介绍了能量色散X射线荧光光谱分析原理和定性、定量分析方法。定性分析通过谱处理实现,涉及谱平滑、背景扣除、寻峰、能量刻度和特征谱的拟合。基体效应的校正通过基本参数法实现。基于此方法采用Delphi开发了EDXRF分析程序,通过实验验证,分析程序基本实现了预期的功能,分析结果达到了精度要求。     

TW系列X射线荧光光谱仪

TW系列X射线荧光光谱仪是天津市技术物理研究所2006年研制开发成功的最新型X射线荧光元素分析仪器。 TW系列X射线荧光光谱仪采用波长色散X荧光分析方法,该方法比传统的能量色散X荧光分析法的精确度要提高1—2个数量级。特别是对于轻元素（硅、镁、铝、硫、磷）提高的更为明显。     

新型便携式X荧光分析仪通过技术鉴定

七十年代初期,我国已研制生产出了便携式X荧光分析仪。马鞍山矿山研究院与南通电子仪器厂等单位合作研制、生产的YF-1型便携式荧光分析仪,已在一些矿山生产中使用多年。但是,这类仪器的共同弱点是可靠性、稳定性均存在一定的问题,使用过程中需根据仪器计数、人工查表换算得出分析数据,