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第六届中国国际机床展览会(CIMT’99)量仪展品概述 总被引:1,自引:1,他引:0
1 三坐标测量机在本届展览会中,国内外许多厂家展出了三坐标测量机,各具特色。以下将展出的三坐标测量机分为五类予以介绍。1.1 气浮导轨式三坐标测量机气浮导轨的摩擦系数小,运动平稳轻快,大多数三坐标测量机均采用此类导轨,因此成为三坐标测量机的主流机型。笔者将所... 相似文献
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荣烈润 《机械工人(冷加工)》1994,(8):2-3
滚动轴承导轨 具有运动灵活、摩 擦力矩较小和承载能力比滚珠导轨大等优点,被广泛应用于超精密加工机床和精密测试仪器(如三坐标测量机等)的垂直和侧面导向系统。滚动轴承导轨的运动直线性,不但与导轨本身的直线度有关,而且与向心滚动轴承的旋转精度有关。一股外购的标准向心滚动轴承适用于高速 相似文献
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针对特定三坐标测量机所存在的"测量范围受限,无法检测超过测量范围的超长零件"的问题,提出了一种基于测量基准重定位的超长零件测试方法,设计制造了一套基于三坐标测量机的超长零件辅助测量设备,制定了辅助设备和三坐标测量机相结合的超长零件检测方法。该方法利用精密几何体作为检测基准;采用移动超长零件、刚性变换测量数据和查错优化基准精度的理论,设计了相应测量软件;分析了测量精度影响因素,优化了测量方案。研究结果表明:在三坐标测量机和辅助设备相结合下,三坐标测量机长度测量范围由原来的750 mm扩展到了1 200 mm(拓宽了60%);超长零件的测量数据精度符合测量要求,实现了超长零件形位公差的精密测量。 相似文献
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郑丽芳 《精密制造与自动化》1996,(2)
该空气轴承压力试验台,用于我厂从德国LETTZ公司引进的三坐标测量机中空气轴承的载荷试验及气浮数据的测定。 空气轴承是三坐标测量机的关键零件。其承载能力、气浮精度及平稳性直接影响到三坐标测量机导轨及工作台的运动精度及平稳性。 相似文献
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精密复杂零件数控加工产生误差的影响因素较多,难以精确找出各影响因素与加工误差之间的对应关系。从精密复杂零件数控加工精度检测数据出发,建立了基于B样条的精密复杂零件回归模型。通过对回归模型残差空间独立性进行分析,将加工误差分解为系统误差与随机误差。根据分解出的系统误差大小,修改数控代码,进行补偿加工,有效提高了精密复杂零件的数控加工精度。将试验结果与三坐标测量机检测结果进行对比,结果显示在线检测误差补偿方法行之有效。 相似文献
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通过对现有三坐标测量机的各种平衡系统的优缺点分析之后,该文论述了精密空气静压导轨组件的气动平衡系统以及平衡系统的结构和原理;对气动平衡系统中选用的气缸的静态分析和动态分析进行了推理论证,并对该次设计的精密空气静压导轨组件的工作台进行了实验。根据得出的实验数据来验证推理论证的正确性,并得出该气缸的气动压力与其摩擦力的关系。 相似文献
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静压气浮导轨采用气体润滑,具有无摩擦、热变形小、寿命长等优点,且气膜的误差均化作用显著提高了其运动精度,满足三坐标测量机高精度、高平稳运动需求。为探究三坐标测量机中静压气浮导轨滑块的承载性能,建立了矩形气浮滑块结构模型,滑块内置小孔节流型气浮垫,运用COMSOL有限元仿真软件对其气浮静态承载特性进行仿真分析,验证了结构设计的合理性。 相似文献
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介绍了测量工字钢结晶器内腔尺寸专用测量机的结构和功能,坐标系的转化与建立,分析了影响测量机精度的各种因素。与传统三坐标测量机相比,该测量机以滚珠丝杠副和滚动导轨副为主体,具有结构简单、操作和维护方便、价格低廉并便于在车间现场使用等优点。 相似文献
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目前国内外加工中心逐步向精密级方向发展,三坐标测量机精度也愈来愈高。如何保证和提高三维空间范围内进行加工和测量的精度是一项值得研究的课题,本文对此试作如下探讨: 相似文献
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狄锦如 《精密制造与自动化》1992,(2)
目前国内外加工中心逐步向精密级方向发展,三坐标测量机精度也越来越高。如何保证和提高三维空间范围内加工和测量的精度,是一项值得研究的课题,本文综述几种方法供读者参考。一、阿贝原则误差含意的新发展三维坐标定位精度其误差δ_Σ为一空间矢量,由x、y、z 三个分量组成:δ_Σ=δ_x δ_y δ_z。主要由工件沿三个坐标移动时导轨误差所造 相似文献
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为避免常规三坐标测量机(CMM)中的阿贝误差,同时降低导轨运动误差对测量机测量不确定度的影响,研制了一种在三维测量方向上同时符合阿贝原则的纳米CMM工作台.该工作台做三维运动,x导轨和y导轨采用共平面结构;工作台三维测量系统的测量线正交于一点且正交点与测头中心点重合,x向和y向测量系统的测量线与xy导轨面共面.针对本工作台的特点,在参考常规三坐标测量机误差分析的基础上,详细分析了该工作台中各项误差的影响,给出了影响测量机不确定度的主要误差源,并对这些误差提出了修正方法.在研制的工作台上对一等量块进行了实验测试.结果显示,一等量块工作面的平面度测量标准差为11 nm,台阶高度标准差为21 nm,其中台阶高度测量平均值与检定值相差1 nm.理论分析和实验结果表明,所研制的工作台从结构上避免了CMM中多项误差源的影响,尤其是避免了阿贝误差的影响,可用于高精度的三维测量. 相似文献