差值取样数对氧化层电流弛豫谱分辨率与灵敏度的影响＊

本文讨论了差值取样数对氧化层电流弛豫谱(OCRS)分辨率与灵敏度的影响,给出了差值取样数七在实际分析过程中的最佳选择原则,研究了用计算机技术改善氧化层电流弛豫谱的灵敏度问题。     

一种新的确定少子产生特性的方法--瞬态电容弛豫谱方法

本文基于差值取样谱定理,提出一种用于同时确定少子寿命及表面产生速度的新方法———瞬态电容弛豫谱方法,该方法利用谱的峰值位置和高度能同时、准确、唯一地得到少子寿命及表面产生速度．同时将该方法与Ｚｅｒｂｓｔ方法得到的结果进行了对比．     

超薄栅MOS结构恒压应力下的直接隧穿弛豫谱

随着器件尺寸的迅速减小 ,直接隧穿电流将代替 FN电流而成为影响器件可靠性的主要因素 .根据比例差值算符理论和弛豫谱技术 ,针对直接隧穿应力下超薄栅 MOS结构提出了一种新的弛豫谱——恒压应力下的直接隧穿弛豫谱 (DTRS) .该弛豫谱保持了原有弛豫谱技术直接、快速和方便的优点 ,能够分离和表征超薄栅 MOS结构不同氧化层陷阱 ,提取氧化层陷阱的产生 /俘获截面、陷阱密度等陷阱参数 .直接隧穿弛豫谱主要用于研究直接隧穿注入的情况下超薄栅 MOS结构中陷阱的产生和复合 ,为超薄栅 MOS结构的可靠性研究提供了一强有力工具 .     

超薄栅MOS结构恒压应力下的直接隧穿弛豫谱

随着器件尺寸的迅速减小,直接隧穿电流将代替FN电流而成为影响器件可靠性的主要因素.根据比例差值算符理论和弛豫谱技术,针对直接隧穿应力下超薄栅MOS结构提出了一种新的弛豫谱--恒压应力下的直接隧穿弛豫谱(DTRS).该弛豫谱保持了原有弛豫谱技术直接、快速和方便的优点,能够分离和表征超薄栅MOS结构不同氧化层陷阱,提取氧化层陷阱的产生/俘获截面、陷阱密度等陷阱参数.直接隧穿弛豫谱主要用于研究直接隧穿注入的情况下超薄栅MOS结构中陷阱的产生和复合,为超薄栅MOS结构的可靠性研究提供了一强有力工具.     

一种新的确定少子产生特性的方法：———瞬态电容驰豫普方法

本文基于差值取样谱定理，指出一种用于同时确定少子寿命及表面产生速度的新方法－－－瞬态电容驰豫谱方法，该方法利用谱的峰值位置和高度能同时、准确、唯一地得到少子寿命及表面产生速度。同时将该方法与Ｚｅｒｂｓｔ方法得到的结果进行了对比。     

0.13μm MOSFET 器件的可靠性分析技术

随着大规模集成化芯片上的器件尺寸微型化，MOSFET器件的按比例缩小的一个突出的影响是饱和区趋向消失，给器件特征参数(饱和电流，饱和电压，阈值电压，载流子迁移率)的确定和可靠性评估带来困难。为解决微小尺度的各种功能器件关键参数的直接提取及建立一种在线的综合检测与可靠性分析技术，本文运用一种新的数据处理运算概念，即比例差值算符，揭示了元器件的另一种本征特性——比例差值特性。经过严格的理论与实验证明，只要代表元器件性能的函数满足比例差值谱函数定理，那么元器件的比例差值特性具有谱峰，其谱峰的位置，谱峰的高度决定了元器件的基本性质，使得元器件特征参数的确定可以在最佳状态(准理想状态)下实现，为微尺度器件的在线质量检测与可靠性判定提供了新的依据。     

FeAg颗粒膜近红外光学性质的实验研究

研究了FeAg颗粒膜的光学性质.发现当Fe含量较低时,其介函数谱可以近似的用Drude模型描述,同时电子散射弛豫能量是Fe含量的线性函数,利用该性质经定标后可以确定贵金属中的杂质含量.这种方法具有简单易行、测量速度快,无损检测等优点.实验结果还表明,在近红外区,FeAg颗粒膜的介电函数谱并不能用有效介质模型很好的描述.     

取样光纤Bragg光栅特性的数值模拟分析

文章应用传输矩阵法对取样光纤布拉格光栅(SFBG)的反射谱进行了数值模拟,并分析了折射率调制幅度、占空比、取样周期和光栅长度等光栅参数对其反射谱的影响,在此基础上用切趾函数对其进行旁瓣干扰处理,得到了较为理想的8通道SFBG反射谱.     

多陷阱相干效应对氧化层电流弛豫谱的影响

本文用单陷阱产生一俘获模型和一级电场因子近似弛豫函数研究了“多陷阱相干效应”对簿栅氧化层电流弛豫谱(OCRS)的影响。给出了高场下、多陷阱共存时,各陷阱OCRS峰并存的条件和峰位、峰值的修正公式。     

一类部分Bent函数的判定与构造

本文给出了具有线性结构布尔函数的Walsh谱值的计算公式,证明了布尔函数的非零谱值的个数与线性结构的个数之积不大于2~n,得到了Walsh谱值为⊥2~n,0的2n-1元布尔函数是否是部分Bent函数的判定定理,最后给出了这类部分Bent函数的一个构造方法。     

电场调制效应对氧化层电流弛豫谱的影响

本文用单陷阱电荷俘获模型研究了电场调制效应对氧化层电流弛豫谱(Oxide CurtentRelaxation Spectroscopy)——简称 OCRS的影响.给出了精确的 OCRS谱函数及其各级近似表述式;给出了确定陷阱参数(俘获截面,荷心及面密度)的精确公式及各类简化式;给出了各类近似成立的直观实验判据式.对实验结果进行了电场修正,得到了更为满意的结果.     

脉冲MOS结构少子产生寿命的统一表征

本文提出了一种采用脉冲ＭＯＳ结构测量少子产生寿命的统一表征谱方法，此方法基于任何一种收敛弛豫过程均可以转换成一种衰减的指数函数的思想，应用关以样原理获得脉冲ＭＯＳ结构瞬态电容差值谱，从谱图中我们可以直接得到关于少子产生寿命信息。本文综合了众多脉冲ＭＯＳ结构测量少子产生寿命的物理模型，分析了不同模型之间的精细差别。     

向列型液晶的Raman光谱研究

报道了国产向列型液晶MBBA和EBBA的Raman谱与温度的关系。提出了一种适用于取向的向列型液晶分子振动相关函数和转动相关函数的分离理论。此理论应用于MBBA液晶相和液相的分子振动和转动弛豫的实验研究表明这种分离方法是可行的。     

数字信号处理中的滑窗表示

离散时间信号的短时付里叶变换解释为滑窗谱,它是信号加窗后的付氏变换。这种滑窗谱是两个变量的函数:一是离散时间指数,它表示窗口的位置;二是连续频率变量.文章证明了信号可以由取样了的滑窗谱重建,也就是由滑窗谱在特定的时间频率域中点阵上各点的值来重建。取样点阵是矩形的,矩形元素在时间频率域上的面积为2π。本文证明,一种直接根据滑窗谱的取样值来表示信号的精微方法是Gabor 信号表示法。为此引入了互易窗的概念,并且阐明了窗和互易窗是怎样联系在一起的,Gabor 信号表示法将信号表示成由互易窗经适当移位和调制以后的展开式,展开系数就是取样了的滑窗谱的值。     

微分中值定理中辅助函数的类型及应用

拉格朗日中值定理是微分学中重要的基本定理。在这个定理的证明过程中,基本思路是构造一个满足罗尔定理的辅助函数,利用罗尔定理结论来证明。但如何构造辅助函数是一个值得深入讨论和研究的问题。本文从距离、面积、旋转变换、积分、待定系数法、微分方程几个不同角度探讨了如何构造辅助函数,以帮助初学者开阔视野,加深对这两个定理证明的理解。     

伪码-载波调频侦察信号识别的谱相关方法(Ⅰ)伪码-载波调频信号的谱相关函数

研究了伪码-载波调频信号的谱相关函数（SCF）,具体针对伪随机二相编码（PRBC）信号及其与正弦调频和线性调频复合信号进行了研究。从谱相关函数和模糊函数（AF）的关系出发,利用平稳随机过程的线性周期时变变换定理,详细推导了3种复合信号的谱相关函数表达式,分析了其特性。通过对频率f截面和循环频率截面谱相关特征分析表明,谱相关函数不仅能体现载波调制信息和与伪码有关的各项参数,而且对于高斯白噪声有很好的抑制作用,这为进一步通过谱相关方法对伪码-载波调频信号的调制分类和参数识别奠定了理论基础。     

宽谱光源自相干函数测试系统光路设计仿真

基于双光束干涉理论和维纳辛钦定理,推导出宽谱光源干涉特性的表达式并进行了分析.提出了基于迈克尔逊干涉仪光路测量光源自相干函数的方法.在光学设计软件Zemax的混合序列模式下建立了宽谱光源自相干函数测试系统的光路模型,通过多重结构编辑器对参考光路和测量光路进行了仿真.单独对准直系统进行了仿真,通过优化使系统的光线准直效果达到最佳.并根据仿真建立的理论模型,从光纤纤芯大小和对准误差这两个角度分析了它们对光线准直系统准直度和整个系统耦合效率的影响,得到对应的变化规律,最后通过Origin软件绘制出了相应的变化曲线,为搭建宽谱光源自相干函数测试系统提供了基础.     

取样光栅的特性仿真及其在光纤系统中的应用

基于耦合模理论,运用传输矩阵法对取样光栅的反射谱进行了数值计算,着重分析了光栅长度、占空比及光栅取样周期对取样光栅反射谱的影响规律,基于特性分析讨论了取样光栅在光纤系统中的应用,为以后具体应用提供了理论指导和参考.     

基于固定实镜像平面波展开的快速多极子方法计算微带结构问题

将快速多极子算法应用于微带结构的一个关键技术是将矩量法中描述远区单元相互作用的Green函数用加法定理进行平面波展开.本文提出用固定实镜像方法拟合微带结构谱域Green函数进行平面波展开,对比目前常用的复镜像闭式平面波展开方法,该方法具有展开收敛性好,物理概念清晰,Green函数宽频插值方便等特点.计算实例表明了该方法的有效性和可靠性.     

工程数学

0174.5 95010025复变函数分解定理的改进/朱如曾,朱颖(中国科学院力学所)11非京工业大学学报一1994,20(3).一119~120 文献〔1,2]给出了复变函数用半解析函数来表示的分解定理。该文放宽了复变函数分解定理的条件,给出了纯复分析的证法.参4(北)Caylcy图的自同构群.图10参7(木)0159,TM938 95010031利用模糊性理论寻求最佳测最方法/钱博森(天津大学)11电测与仪表一1994,(9).一9~11 叙述了用现代科学即用“现代模糊理论’来分析“最佳测量方案的选择.这个事实.“意见集中法’为实例.集中介绍本理论的优越性.(北)0174.2,TN911.7 95010026提高快…