阵列感应测井仪刻度研究

根据阵列感应测井仪刻度原理,导出阵列感应测井仪电导率与刻度环串接电阻阻抗之间的关系,采用复系数电压信号刻度法,选用3种直径的刻度环在各子阵列相应的刻度点能对各子阵列进行刻度得到刻度增益值.给出了在半空间测量阵列感应测井仪线圈系误差的校正图版,介绍了仪器的刻度方法.     

阵列感应测井仪刻度系数特性研究

刻度系数是阵列感应测井仪器的关键参数.在阵列感应测井刻度理论基础上,导出刻度系数计算公式,计算分析了短、中和长3个子阵列的刻度系数随刻度环半径及其在仪器轴向上所处位置的变化特性.结果表明,不同子阵列的特性差异较大,尤其是长子阵列,并用各子阵列的二维几何因子解释了其产生的原因.讨论了刻度环大小选择、最佳刻度点和刻度电阻确定问题.这些研究结果可用于阵列感应测井仪器刻度中.     

基于COMSOL Mutiphysics的半空间阵列感应测井仪刻度校正仿真

刻度是阵列感应测井仪器投入使用之前的一项重要工作。本文以半空间水平放置阵列感应测井仪器的刻度理论和电磁场理论为基础,以试用版的COMSOL Multiphysics有限元软件为主要工具,通过建立半空间中水平放置的阵列感应测井仪器的物理模型、网格剖分等,分别求解仪器距离地面两个高度时,阵列感应测井仪器随大地电导率变化的视电导率,进而确定刻度环境下的大地电导率,以便准确刻度。计算结果表明:该结果与理论分析一致,验证了COMSOL Multiphysics软件的正确性及实用性。     

MIT5530阵列感应的刻度方法及重要性

阵列感应测井仪器测量的是地层的视电导率,但仪器测量的原始信息是物理上的每一个接收子阵列接收地层的二次场信号,不能直接代表地层视电导率,所以要进行工程值转换。将测量信号转换成地层电导率信息,称为刻度环刻度,即获取仪器K值和直耦值的过程。而保证测井曲线质量最主要的环节是测井仪器的刻度。     

高分辨率感应测井仪的刻度

根据感应测井仪的刻度原理，导出了HRI测井仪同相和正交电导率分量分别与刻度环感抗和串接电阻之间的关系表达式，得出了该仪器的最佳刻度点位置和最佳刻度环半径值，介绍了该仪器的刻度方法。     

高分辨率感应测井仪的仪器刻度

根据感应测井仪的刻度原理,导出了高分辨率感应（HRI）测井仪同相和正交电导率分量与刻度环感抗和串接电阻之间的关系表达式,得出了该仪器的最佳刻度点位置和最佳刻度环半径值,介绍了该仪器的刻度方法。     

关于双感应测井仪的刻度问题

本文对双感应测井仪器的准确度指标，目前的刻度方法及基值信号做了分析评价，指出外刻只能解决乘因子问题，内刻只能解决电子线路零值和内刻名义值问题，都不能求出线圈系残值，因而不能求准加因子。最后提出了解决问题的办法，从而进一步提高了双感应测井的准确度。     

感应测井仪器的刻度原理及方法

感应测井仪是现在使用比较频繁的一种电法仪器,刻度是一支仪器测出优等曲线的前提,文章就是以EIlog系统中使用的DIF5520感应仪器为基础,从感应仪器测井的基本原理出发,从线圈系和电子线路两个角度阐述了仪器刻度的原理和方法。     

阵列感应测井仪温度校正方法研究

温度校正是阵列感应测井仪数据处理的工程难点之一。通过阵列感应测井仪温度影响因素的分析,得到了阵列感应测井仪温度校正方法并应用于实际,进而探讨了可应用于阵列感应温度校正的新方法。     

阵列感应测井仪器MIT的标定研究

阵列感应测井仪器采用多线圈子阵列结构,在制造过程中由于电子元件、线圈系制作工艺、机械、装配等原因的影响,同一支仪器的各子阵列的测量值、不同仪器的测量值会有不同.由于刻度环境的限制,测量值与地层真值有一定的差别.针对阵列感应测井仪器MIT,文章提出了一种仪器标定方法.先选择符合感应测井的标定井,然后根据阵列感应测井多探测深度曲线建立标定井地层模型和标准测量曲线.实际仪器通过分段交会图和拟合函数计算标定校正系数.两支实际仪器标定说明了新标定方法的有效性.     

对感应仪器刻度的认识

感应仪器的刻度不同于其他电法仪器的刻度,是因为测量系统的偏移是由两部分组成的,一个是感应线圈系自身无法克服的探头误差,另一个是地面设备、电缆及仪器的偏移。文章以常规感应和向量感应为例,论述了各自的刻度原理。最后得出结论,向量感应更加注重对地层原始信息的获取,并在探头误差校正方面做了更多的努力,由此测得的地层电导率更为准确。     

基于阵列感应测井资料的油气层产能预测

在勘探阶段资料较少的情况下．应用测井资料预测产能一直是测井评价中的难题，特别是对低渗透、孔隙结构复杂的储集层产能预测更是如此．其原因主要是常规测井资抖与产能的相关性差。通过对油气层产能影响因素、阵列感应测井探测特性和钻井液滤液对油气层侵入特点的分析，研究储集层中原始流体被冲洗的程度，据此确定地层的渗流特性。由达西定律出发，建立了根据阵列感应测井资料确定储集层渗流特性参数的方法，进而预测（或估计）产能。实际资料证实，该渗流特性参数不但与储集层的孔隙直径和喉道直径关系密切，而且与油气层产能具有较高的相关性（相关系数为0．9343）。据此，可针对具体油气藏，在勘探阶段应用阵列感应测井资料预测油气层产能。     

HRAI阵列感应现场校正方法的改进

文章介绍了高分辨率阵列感应（HRAI）测井原理,对比Halliburton公司LOG-IQ系列新老两套阵列感应（高分辨率阵列感应HRAI和补偿阵列感应ACRT）的差异和曲线质量,通过分析找出了各自的优缺点,在现有的条件下对高分辨率阵列感应（HRAI）的测井工艺流程和校正做了大胆的尝试和改进,在青海油田的应用中取得了显著的效果。     

6515高分辨率阵列感应测井仪及维修方法探讨

6515高分辨率阵列感应测井仪,采用了多种先进的数字处理技术,可以采集详细的地层信息,提高了测井解释的准确性。其测井资料对于寻找薄储层和发现低阻油层有重要意义。文章介绍了6515高分辨率阵列感应测井仪,分析了该类型的阵列感应一些典型故障,总结出了一些解决思路和方法。     

一种感应测井仪器线圈系的机械结构设计

文章提出一种新型的感应类测井仪器线圈系的机械结构设计,包括锥紧式承拉结构、玻璃钢外壳承压、线圈系附近直接安装信号调理电路等。文中分析为什么采用此种结构,采用此种结构的优点,此种设计如何克服高温高压以及抗拉结构等难题,为感应类测井仪器线圈系的结构设计提供参考。     

高分辨率阵列感应测井在薄层评价中的应用

薄层由于受围岩影响较大,常规测井曲线难以有效的反映薄层的真实测井响应,进而无法有效评价储层特性和解释储层参数.随着测井新技术的发展和日趋成熟,高分辨率阵列感应测井已大批量投入到了实际生产中.根据研究表明,阵列感应测井能够准确识别薄层、划分厚度、判断油水层等,在薄层评价中具有明显的技术优势,取得了很好的应用效果.     

咸水泥浆井中的阵列感应测井井眼影响特性分析

针对滩海地区的泥浆电导率远高于地层电导率的特点,建立考虑偏心、井径、泥浆电导率和地层电导率的井眼模型,采用三维有限元法计算阵列感应测井仪器HDIL的响应误差.结果表明:随井径、泥浆电阻率和偏心增大,各个阵列受到的井眼环境的影响逐渐变大,尤其是短阵列0、1和2;在大井眼、高泥浆电导率条件下,井眼影响误差出现非线性变化.实际测井数据比较说明了计算结果的有效性.     

2228岩性密度仪刻度一次成功率的技巧

文章介绍了阿特拉斯公司的岩性密度的测量原理、组成及功能。详细描述了仪器调校方法和刻度步骤。有效提高了岩性密度刻度的一次成功率。     

基于几何因子的阵列感应测井井洞影响校正方法

井洞影响是井径变化地层致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因。在建立井洞影响计算模型基础上，利用Gianzero几何因子计算阵列感应测井井洞响应并对井洞影响进行校正。结果表明：这种方法能够有效的减小井洞影响，使得出现井洞的异常测井曲线趋于正常。应用高数中拐点与极点的知识，确定了可处理井洞的位置以及数值模拟所需的地层模型参数。地层模型井洞影响校正实例验证了井洞影响校正数值模拟结果的有效性。