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《现代测量与实验室管理》2016,(2)
本文通过实例从一个新的角度介绍了一种测量空间异形角度的方法,该方法利用大地水平面为基准,通过测量平面(或圆柱面)对于水平面的倾斜角,从而确定两平面(或圆柱面)问的夹角,解决了工件由于形体结构巨大而无法使用常规手段、常规测量仪器和测量设备进行空间角度测量中的问题,从而为角度测量提供了一种新的手段。 相似文献
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采用光刻技术和反应离子刻蚀法(RIE)先在硅表面制备出一系列平面尺寸不同的微图形阵列,然后采用溶胶凝胶(sol-gel)浸渍提拉法在其表面制备出均匀致密、表面粗糙度一致的锐钛矿型纳米晶TiO2薄膜.利用扫描电镜(SEM)和免疫荧光标记实验研究图形尺寸对人脐静脉内皮细胞(HUVEC)附着形态的影响.实验结果发现在化学成分、细胞毒性、表面粗糙度都不对细胞附着形态产生影响的条件下,HUVEC对图形尺寸的响应为:当平面空间足够时细胞的附着伸展性能较好,而当没有足够的平面空间时细胞的附着伸展性能较差. 相似文献
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球体切平面作图方法在工程图学中较少研究,论文就单球、双球和三球体公切平面(在各种约定条件下)的形成原理,空间走向、表达形式以及数量作了详尽地分析,提出了利用圆锥面作为辅助面求作球体切平面的方法。对单球、双球和三球切平面作图方法采用了一题两解的办法,并对两种作法进行比较和分析,从而得出正确的结论。 相似文献
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目的分析机器人的连杆2(l_2)、连杆3(l_3)的长度和l_2的关节转角θ_3的角度取不同值时,机器人工作空间的变化情况。方法建立机器人的连杆坐标系,根据连杆参数表用D-H法建立机器人的运动学方程。根据运动学方程,用Matlab仿真工作空间。改变l_2和l_3的长度以及l_3的关节转角θ_3,得到连杆取不同参数时和原参数时机器人工作空间的x Oy和x Oz平面对比图,并把对比图插入AutoCAD画出对比图的边界。通过分析对比图边界的变化来研究仿真平面图形的变化。结果获得了不同参数时机器人工作空间的x Oy和x Oz仿真投影图。结论连杆参数不同时,工作空间有不同的变化,为机器人连杆参数的优化和运动控制奠定了基础。 相似文献
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工具显微镜的设计制造和检定调修中重要的一项,就是如何使立柱回摆轴线;顶尖轴线;下照明光轴轴线三者在空间正交(图1)。只要其中任一线对于另一轴线不正交,都会影响仪器的测量精度。在工具显微镜上用影象法或光波干涉法测量螺纹时,显微镜立柱将左(右)摆动一定角度ω(ω为螺旋升角)。若此时立柱回摆轴线不与顶尖轴线垂直(图2),而有夹角θ存在,那么立柱在图二中Z平面上的转角应为立柱在H平面内转角ω在Z平面上的投影ω′。 相似文献
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钟旭 《中国新技术新产品》2011,(4):326-327
在园林绿化设计中应根据不同的植物及空间环境,由此来选择不同的类型的图案进行设计。图案设计从空间角度来看,可以分为平面及立体图案;从取材方面来看,可以分为具象及抽象图案;从组织形式方面上来看,可分为自由式图案(单独图案)、规则式图案(适合图案、连续图案)和综合式图案,本文主要针对城市园林绿化中图案设计进行分析论述,仅供参考。 相似文献
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画法几何的研究对象,是用正投影理论在平面上表示空间几何元素及其相对位置的图示法以及在平面上用几何作图方法解决空间几何问题的图解法.它是一门技术基础课.由于空间几何元素相互关系的复杂性,要抽象地表达为正确平面投影图,或由抽象平面投影图, 相似文献
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引言一般的透视图是根据在D~3空间中以点(0°)为投影中心(视点),把形体投射到平面(D~2)的投影面上所得到的投影而绘制的图形。由于形体的投影都落在投影面上,所以这类透视图总是D~2图形。 相似文献
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本文分析了电磁微电机中平面微线圈产生的空间磁场,把微线圈等效几何圆电流和矩形截面电流,导出了空间磁场的计算公式,接着通过四种算法的比较,建立了平面微线圈空间磁场快速准确的数值算法,最后分析了平面微线圈空间磁场的分布特性。 相似文献
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1.引言 在空气声阵列定位技术中,有多种阵型,西方国家广泛采用的对运动目标的定位的小基阵多采用平面正三角型阵(美国HORNET)、平面正四方形阵(美国ADAS)、正四面体阵(瑞典)、五元圆阵、及不规则平面阵等.各种传声器阵列均可以看成是线阵的组合.为此,人们可以从线阵的定位原理出发分析复杂阵型的定位算法,从而建立精确的定位模型.对于固定线阵列来说,阵只能对阵列所在直线为界的半个平面进行定位,否则没有唯一解.对线阵进行组合,构成面阵,就可以对空间目标进行定位.对于低空、超低空飞行的直升机或地面行驶的坦克目标,用平面阵可定位. 相似文献
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采用溶胶-凝胶法,以三嵌段共聚物P123(EO20PO70EO20,Mw=5800)作为结构导向剂,正硅酸四乙酯(TEOS)作为硅源,硝酸银(AgNO3)作为银的前躯体,制备出掺杂有银纳米颗粒的有序介孔SiO2块体.通过小角X射线衍射(SAXRD)和高分辨透射电子显微镜(HRTEM)分析,测得掺银介孔SiO2样品在煅烧前具有平面六方结构(空间群p6mm),煅烧后样品结构发生收缩,但仍部分保持有序平面六方结构,孔径在3~7nm之间,平均孔直径为5.4nm,银纳米颗粒尺寸大约为5nm.掺银介孔氧化硅的气孔尺寸大于未掺银介孔氧化硅的气孔尺寸. 相似文献