机载电台二级自动测试设备研究与设计

本文讨论机载电台二级自动测试设备（ＡＴＥ）方案，实例介绍一种ＡＴＥ系统设计，提出采用专家系统实现故障诊断。     

通用自动测试设备的特点及应用

主要介绍了通用自动测试设备的组成、工作原理及自动测试的实现方法,并论述了测试设备的通用性和必要性。     

航空电子综合化设备测试性设计

本文介绍了机内自动测试（BIT）的基本概念，提出了一种解决航空电子综合化设备测试性设计的方法，并对设备中主要部分的BIT设计作了详细的阐述。     

航空电子系统基于需求的自动测试方法

提出了一种基于需求的自动测试方法.该方法针对目前航空电子系统的系统设计与验证中的V型流程进行建模,并对其进行形式化的描述,以供计算机分析、识别.设计了一套有效、完备的自动测试系统以达到对系统需求的验证,并在此基础上提出了进一步研究的方向.通过实际软件验证了所提方法的有效性.     

通用CPU模块自动测试设备的设计与实现

文章介绍了通用CPU模块自动测试设备的硬件选型和适配器电路设计,以及基于CS结构采用Lab Windows/CVI为开发工具的软件开发方法。该测试设备能够完成通用CPU模块的隔离测试和在板自测试,并将测试结果以报表形式输出。     

机载雷达自动测试系统的设计

系统地介绍了某型机载雷达自动测试系统的设计，包括硬件平台和软件平台的组成、TPS设计等。讨论了信号连接方式、微波信号测试、测试方法选择和测试安全性等与现代机载雷达自动测试有关的问题。     

通用自动测试设备的特点及应用

主要介绍了通用自动测试设备的组成、工作原理及自动测试的实现方法，并论述了测试设备的通用性和必要性。     

基于LRM的航空电子系统BIT研究

随着我国新型航空电子系统的加速发展,航空电子系统综合度和复杂度越来越高,以LRM为基础的综合航空电子系统将成为主要的发展方向,这为系统的测试和维修提出了更高的要求。而LRM的BIT技术是其中一项非常关键的技术,在研究基于LRM的航空电子结构和LRM组成的基础上提出了LRM内部3级组合BIT方法,并对该方法做了较详细的描述。该方法在LRM的设计以及功能改进过程中,可以提高LRM的自检测能力,降低BIT实现难度。     

基于IEEE1445标准的电路故障诊断技术研究

介绍了数字测试交换标准(IEEE1445)的内容，描述了基于该标准的三种诊断方式，重点介绍了利用故障字典诊断法完成电路板诊断的一种实现方案。     

电缆损耗对自动测试设备的影响

1引言 目前有许多测试公司设计、制造并销售引脚数众多的自动测试设备（ATE）。这些测试设备具有非常复杂的集成电路,用于驱动设备的每个引脚。一台测试设备的引脚数可能多达4096个。从图1可以看出：每个引脚通常都有一个相应的驱动器、比较器、负载,有时甚至需要参数测试单元。这些电路通过电缆连接到测试引脚。为了降低成本,供应商可能会选用质量比较差的电缆。而任何电缆,尤其是质量较差的电缆,都会产生损耗。从而降低测试设备的最终性能。     

无专用测试接口设备的TPS设计

针对无专用测试接口的设备进行TPS测试时单个现场可更换单元故障隔离率低的问题,采用测试信号并行引出技术,开发现场可更换单元的测试适配板等测试硬件,将现场可更换单元的测试信号并行引出到自动测试设备进行测试分析,高可靠地实现了单个现场可更换单元的故障隔离;同时对信号并行引出带来的测试信号失真问题,在测试程序中采用动态库数据解析技术,提高了测试信号参数解析的准确率。     

电流输出控制设备在ATE上的TPS开发设计

简要阐述了ATE测试平台的应用背景和在电子设备测试维修中的必要性,对ATE测试平台的功能、组成和工作原理做了概括描述。介绍了测试程序集（TPS）的组成及在ATE测试平台上的开发设计思路。并以电流输出控制设备为例进行TPS开发设计,在分析了电流输出控制设备测试需求的基础上,具体设计了电流输出控制设备在TPS开发中的测试接...     

面向TPS架构的混合电路测试系统设计

面向测试程序集（TPS）软件架构是通用自动测试系统的发展方向,而建立统一的测试系统模型是测试系统中资源管理与配置的关键。提出了一种基于TPS的自动测试系统建模方案及实现机制,利用关系型数据库建立包括仪器仪表资源自动配置、被测件管理、测试底版通信控制的自动测试系统模型。基于VC6.0平台,在测试主程序与仪器仪表控制、与测试底版之间建立引擎,实现资源的自动选择和配置,解决了测试程序对仪器仪表的依赖问题及测试底版的通用性问题。该方案已经成功应用于某出口三型雷达综合电路集成测试系统中。     

ATE测试成本优化

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。     

面向语义的解释型测试程序集

通过对国内外研究工作的分析,提出了面向语义的解释型测试程序集描述方法。该方法采用具有完备性、独立性和灵活性的语义集合对具体的测试需求进行抽象,构建通用性较强的测试程序集,并为可扩展性提供了相应的接口。     

自动检测系统原理应用和发展状况的研究

自动检测系统广泛应用于各类产品的设计、生产、使用、维护等各个阶段,对提高产品性能及生产率、降低生产成本及整个生产周期成本起着重要作用。首先介绍了检测、检验以及自动检测系统的概念,其次通过自动检测系统的各个组成部分,详述了系统的工作原理,介绍了自动检测系统组建的概念、结构以及在组建中所使用的关键技术。对早期的自动检测系统和新一代自动检测系统进行了介绍,并详述自动检测系统的3个发展阶段。     

基于混合总线的地面情报雷达自动测试设备设计

随着科学技术的不断发展,军事电子产品的生产和测试对自动测试技术提出了越来越高的要求。工作方式灵活、功能齐全的自动测试设备成为了军事电子产品生产和科研的必需设备。本文重点讨论了基于混合总线的自动测试设备架构设计,并叙述了关键技术的设计与实现。     

雷达射频集成电路的发展及应用

文中主要探讨雷达射频/微波集成电路的发展及其应用.介绍了现代雷达的发展趋势、雷达射频系统的演变历程以及目前国内外相关的射频集成电路的最新成果,讨论了射频片上系统(SoC)的未来趋势.针对现代主流的有源相控阵雷达,介绍了几种可行的系统级射频芯片的集成方向,最后强调了系统级射频集成电路测试在设计中的重要性,并给出一种基于模块化结构的自动测试设备(ATE)测试平台方案.     

Verigy 93000 SoC测试系统及测试中偏置电流的实现

Verigy 93000 SoC测试系统是一个低成本、可扩展的单一测试平台,它是满足SoC全面发展需要的芯片测试系统解决方案.概括介绍了93000自动测试系统(ATE),并讨论了其偏置电流的实现方法.     

Analysis of Test Application Time for Test Data Compression Methods Based on Compression Codes

We present an analysis of test application time for test data compression techniques that are used for reducing test data volume and testing time in system-on-a-chip (SOC) designs. These techniques are based on data compression codes and on-chip decompression. The compression/decompression scheme decreases test data volume and the amount of data that has to be transported from the tester to the SOC. We show via analysis as well as through experiments that the proposed scheme reduces testing time and allows the use of a slower tester. Results on test application time for the ISCAS'89 circuits are obtained using an ATE testbench developed in VHDL to emulate ATE functionality.