半导体激光超短脉冲的产生及测量

利用LiIO_3晶体的倍频效应,研制成功用于测量半导体激光超短脉冲的二次谐波(SIIG)自相关装置,并用直接调制和外腔主动锁模技术,分别产生了脉宽为19.7ps和9.0ps的半导体激光超短脉冲。     

高重复率半导体超短脉冲激光的产生和测量

本文介绍直接调制DH-AlGaAs半导体激光器产生高重复率超短脉冲激光和有关测量的实验结果。激光脉冲重复频率可在150MHz～1GHz范围内变化,脉冲宽度为30～40ps。用碘酸锂晶体进行光倍频对激光脉冲进行了二阶自相关测量,确定了脉冲宽度。     

基于灰度差异与自相关的粒子速度测量新方法

基于曝光时间差异对应不同的粒子像点灰度的原理,提出了一种基于灰度差异与自相关的粒子速度测量方法。介绍了实现测量的流程和图像处理软件的算法。通过数值模拟和测量实验,验证了所提出的图像处理过程及算法的可行性,可实现流场中多数示踪粒子各自对应速度量的测量。     

一种基于锥镜的光学非接触位移测量的新方法

介绍了一种基于锥镜(axicon)的非接触光学位移测量的新方法,可用于精密表面和超精密表面的位移测量.其特点是量程较大,分辨率高(最小可至0.1 μm).另外 ,该方法可允许被测表面有小角度的倾斜,且不受测头与被测表面之间的孔径光阑的影响, 是一种可用于在线光学测量的方法.     

用A/D变换及查表求解法提高激光脉冲测距的时间分辨率

提出一种精确测量时隙间隔的新方法．通过时序控制,在待测时隙内对给定的RC回路充电．利用高精度A/D变换器对电压采样,再根据充电电压与充电时间的关系,用查表法快速获得时隙宽度的数值．其测时隙的精度理论上可达皮秒量级．该方法比常用的模拟时间插入法有更小的测距盲区,当采用40MHz时钟,测距盲区小于18m．