基站检测中的科学抽样研究

根据计数抽样检验理论．研究并提出了基站检测中的计数抽样方法．为贯彻落实有关文件提供了一种科学的参考方案。     

计数抽样检验方案的设计与应用

介绍了计数抽样的基本知识，并分析了ＧＪＢ１７９－８６对Ｊ８０轴承体交验所制定的计数抽样检验方案。     

超严质量水平下计数抽样检验方法的改进

随着生产水平的不断提高,产品的不合格品率迅速降低.GB2828作为国内现行的计数抽样检验程序,在超严质量水平下,暴露出不能有效区分不同批次、不同厂家产品的质量水平的缺点.为此,本文由抽样方案的OC曲线入手,比较分析了GB2828与ISO14560的差异,阐述了国内引入ISO14560的可行性及施行此标准的意义.     

ISO28591(第二版)发布

对国际标准ＩＳＯ２８５９１９７４的修订工作计划分两个阶段进行。第一阶段修订工作结束后于１９８９年发布了ＩＳＯ２８５９１。第二阶段修订工作结束后发布（１９９９年１１月１５日）了该计划最终修订版本,即国际标准ＩＳＯ２８５９１：１９９９《计数抽样检验程序———第１部分：逐批检验用按合格质量界限（ＡＱＬ）检索的组合抽样检验方案》。国际标准ＩＳＯ２８５９１（第二版）采纳了中国电子技术标准化研究所周仁研制的五次抽样检验方案。国内争论长达２０余年五次抽样检验方案能否取代七次抽样检验方案的问题,现在总算…     

推行“零缺陷”管理的探索与研究

"零缺陷"管理是一种先进的质量管理方法。自从其被引入中国以来,很多企业将之推广应用,但取得成功的并不多。首先,结合"零缺陷"管理的应用实践,分析其在企业推行过程中会出现的文化理念、理解认识、执行过程方面的问题;进而,从思维方式、落地方法、文化渲染3个方面论述;最后,给出了推行"零缺陷"管理思想的方法,以及所必须具备的"归零"心态,为实际推行和应用"零缺陷"管理提供参考。     

零缺无陷

我曾在电视台作过一次"三问零缺陷"的专题演讲.开篇就是"啊!零缺陷?",后面是三个问号;最后,依然是"啊!零缺陷!",不过后面是三个惊叹号.但在现实中,却没有改变符号这么简单的事情.人们一听到"零缺陷"三个字,马上就会把它想得很复杂,而且还要伴随着一大串问号.有人甚至这样问我:杨老师,你认为零缺陷本身有没有缺陷?我回答他:当然有,这就是我为什么四处解释零缺陷没有缺陷的原因了.     

根据新版GB2828.1-2003抽样检验程序对成品进行质量控制

本文介绍了2003年发布的新版GB/T2828.1-2003<计数抽样检验程序第1部分:按接受质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划>的特点,重点介绍其优化我司成品抽样检验中的作用.     

运行电能表检验抽样方案研究

为开展电能表质量评估,满足电能计量装置技术管理过程中开展定期抽样检验的需要,本文展开了运行电能表检验抽样方案研究,研究确定了合理的抽样方法、合适的样本量、正确的分层设计;确定了阶段抽样和分层抽样相结合的抽样方法;在科学严谨的数理统计学理论的基础上提出了运行电能表抽检样本量模型,并确定了不同阶段、不同层次的样本量分配方法(等比例抽样、内曼分配),从而得出科学有效的运行电能表抽样检验方案,最后通过举例的方式来验证方案的可行性和实操性。运行电能表抽样检验方案的制定是构建电能表质量水平评价指标体系的重要部分,对供电企业的电能表选型决策并提高其经营业绩具有重要的意义。     

小数量样品的计件复式抽样

本文利用多维分布函数设计了小数量样品的复式抽样方案,并给出复式小数量(N≤100)样品的抽样表和部分工作特性曲线(OC曲线),对于这种方案的优点做了简要说明。     

干扰电平计量抽样方案及测量结果的统计评定（上）

本文在简单介绍抽样检验的一般概念和一些与计量抽样有关的数理统计学基本原理的基础上，根据小样本抽样具有非中心ｔ分布（ｎｏｎ－ｃｅｎｔｒａｌｔ－ｄｉｓ－ｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）特性，用显著性检验法系统地推导出干扰电平的一次计量抽样方案（ｎ，Ｋ）和抽样特性β（ｐ）从而论述了ＣＩＳＰＲ推荐的８０％／８０％的干扰电平计量抽样检验规则的统计意义，并以二则实例说明，如何应用制定准则＾－Ｘ＋ＫＳｎ≤Ｌ，对抽检的测量结     

In-line defect sampling methodology in yield management: anintegrated framework

In this paper we provide an integrated framework for designing the optimal defect sampling strategy for wafer inspection, which is crucial in yield management of state-of-the-art technologies. We present a comprehensive cost-based methodology which allows us to achieve the trade-off between the cost of inspection and the cost of yield impact of the undetected defects. We illustrate the effectiveness of our methodology using data from several leading fablines across the world. We demonstrate that this work has already caused a significant change in the sampling practices in these fablines especially in the area of defect data preprocessing (declustering), in-line defect based yield prediction, and optimization of wafer inspection equipment allocation     

基于导热反问题的复合材料内壁不规则缺陷Ansys二次开发红外诊断识别

针对人工编程数值建模进行缺陷识别反问题求解存在编程复杂、分析效率低的局限性,提出了采用通用有限元数值计算软件Ansys结合共轭梯度算法进行二次开发对复合材料内壁不规则缺陷进行红外诊断定量识别的方法,并引入了相对敏感系数的概念用于比较评估试件检测状态对缺陷边界形状定量识别的影响。通过相对敏感系数分析发现,不同检测状态下内壁不规则缺陷的可检测性并不相同,采用检测面达到最大温差时刻点的瞬态检测比稳态检测更具优越性。数值试验验证了Ansys二次开发红外诊断识别的可行性和相对敏感系数比较评估的有效性。     

C=0抽样方案在石英谐振器产品检验中的应用

基于质量管理体系的核心价值是以顾客为关注焦点,让顾客满意.只有为顾客提供满意的产品或服务,才能取得顾客长久的信任,保持对产品的忠诚.而实施“零缺陷”的管理和产品检验,就能将产品的质量风险降到最低,获得顾客满意,从而实现公司的经营目标.经对产品质量的分析,通过C=0的抽样方案、MIL-STD-1916抽样方案与GB/T2828.1-2003的抽样方案的实际使用和比较;突出C=0抽样方案在产品检验方面的优点;得出C=0抽样方案是目前在石英谐振器产品检验中值得推广采用的质量控制方案.     

Intelligent Camera for Surface Defect Inspection

An intelligent camera for surface defect inspection is presented which can pre-process the surface image of a rolled strip and pick defective areas out at a spead of 1 600 meters per minute. The camera is made up of a high speed line CCD, a 60 Mb/s CCD digitizer with correlated double sampling function, and a field programmable gate array（FPGA）, which can quickly distinguish defective areas using a perceptron embedded in FPGA thus the data to be further processed would dramatically be reduced. Some experiments show that the camera can meet high producing speed, and reduce cost and complexity of automation surface inspection systems.     

Limited yield estimation for visual defect sources

Although kill rate, kill ratio, and limited yield for visual defects are useful concepts in yield management, the formal definitions of these concepts, how to estimate them, especially in the presence of inspection error, and assumptions necessary for their application, are lacking in the literature. The concept of limited yield as the effect of a visual defect source on overall yield of a process is formally derived and the product of the individual limited yields for the visual defect sources is shown to equal the overall yield of the process. As a result of a more rigorous definition of limited yield, a major simplification in the calculation of limited yield over other methods is obtained. Basic to the notion of limited yield are the concepts of kill rate and kill ratio. The kill rate expresses how likely it is that a die with a certain visual defect will be rejected at probe. The kill ratio is shown to be the increased chance, relative to the baseline yield, of a die being rejected when a particular visual defect type is present. The limited yield concept is discussed and illustrated with a practical example using semiconductor visual defect data     

φ300mm内存制造的新芯片检查策略

在晶圆制造的良率维持、缺陷的侦测与再检查,目前的检测方法,很难提供高侦测感度,与高取样率,全芯片扫描,快速产能,并维持低成本。传统的检测方法,分别以高感度的明视场检查,与高产能的暗视场检查,无法再满足缺陷检查需求,特别是在大量晶圆产出的环境。在此,由力晶半导体提出创新的缺陷检查策略,即整合明视野暗视野检查机台,并最佳化,以使产出最大化,异常缺陷反应快速化等目标。     

船用输热管道及保温层的红外热像无损检测研究

针对红外热像仪检测船用保温层的内部和外部缺陷及管道漏泄进行了实验研究；研究了缺陷和漏泄的可检测性并对其影响因素进行了分析，并对某舰用锅炉系统的管道进行了实际的检测。结论为：保温层细微的外部缺陷都可以被检测到，而内部缺陷受距表面深度的影响较大，越深越不容易被检测；由于空气的导热系数和保温层的导热系数相差不大，一旦发现有内部缺陷应予以足够的重视；裸金属管道表面漏泄的检测主要是基于水和管道表面发射率的差异而不是温差。带有暖气管道保温层的管道的漏泄比较容易检测到。实际检测研究证明了红外热像仪应用于与船用输热管道漏泄及保温层缺陷检测的可行性。     

采用混沌-LM混合解法的材料缺陷单面红外检测定量辨识

针对缺陷定量辨识的非线性、不适定性提出了采用混沌-LM（Levenberg-Marquardt）混合解法结合单面红外检测技术对缺陷进行定量辨识的新算法,并提出了相对敏感系数分析缺陷可检测性的新概念。通过相对敏感系数分析发现,缺陷尺寸、位置的不同描述参数的可检测性并不相同,而且采用检测面达到最大温差时刻点的瞬态检测比稳态检测更具优越性。文中采用数值实验对瞬态和稳态检测均进行了检验,实验结果与相对敏感系数分析结论一致。此外,数值实验还证明了混沌-LM混合解法的有效性,表明了辨识结果的稳定性和全局最优性。     

A Cost Model for Skip-lot Destructive Sampling

This paper presents an idea concerning skip-lot inspection when sampling is destructive. A skip-lot cost model is developed by considering production costs, appraisal costs, and failure costs. The optimal inspection plan minimizing the average cost per good unit is characterized by the sample size, the acceptance number, and the inspection interval. Numerical evaluation of the model is discussed; a computer program facilitates the evaluation. When inspection is destructive, the lot-by-lot inspection procedure may not be the most economical. An optimal inspection plan can be designed by using skip-lot approach. The model also applies equally well to non skip-lot sampling except that a 100% inspection of the rejected lot is possible.     

机器视觉在PCB缺陷检测中的应用

PCB是电子产品的载体,PCB表面的缺陷是影响整个产品质量的主要因素,直接关系到产品的性能和可靠性。为了实现PCB生产过程中缺陷检测的自动化,研究了用机器视觉检测技术检测PCB表面缺陷的方法。在检测中采用了4K灰度线阵CCD和高精度光学驱动平台构建的检测系统,获得了满意的效果。