TZ—107型自动探针测试台在大生产中的应用及其启示

ＴＺ—１０７型自动探针测试台在大生产中的应用及其启示电子工业部第４５研究所唐德兴概述自动探针测试台是我所的一项主导产品。在国内有较大的市场覆盖面。ＴＺ—１０７型自动探针测试台是近年研制的新产品。设计时课题组对国内、外探针台的结构特点进行了较深入地剖析...     

全自动探针测试台之关键技术

根据国内外半导体产业的发展趋势,分析了φ200mm全自动探针测试台在中国的发展及所需的相关技术。     

多探针自动测试台的技术改造

介绍了将测试75 mm圆片的多探针自动测试台改造为测试100 mm圆片的多探针测试台。在原设备的基础上,重新设计加工X轴和Y轴的丝杆和导轨及承片台,控制由TP801单板机改为80C32单片机,数码管显示改为彩色液晶屏显示。改造后的探针测试台只需一次对片就能测完100 mm圆片,且控制稳定,功能更加完善,使用更为方便。     

TZ—210型自动多探针电控系统

本文简要介绍了TZ—210自动多探针电控系统的组成。重点阐述提高工作台的运行速度、增强整机性能和提高可靠性的控制技术和软件措施。     

探针测试台x-y工作台的维护与保养

对探针测试台用途及结构作一简单介绍,对x-y工作台的维护与保养提出具体措施。     

TZ-109自动探针测试台控制软件的设计与实现

主要介绍了TZ -10 9自动探针测试台控制软件的设计方法及实验途径 ,为半导体专用设备的工控机控制软件的编制探索了一种途径。     

手动探针测试台的自动化设计

介绍了一种对ST-103A型手动探针测试台进行自动化改造的设计方案。在原设备的基础上,引进步进电机代替原来的手轮控制;其次,还引进了摄像头和视频采集卡技术实现对探针台的实时监控;另外,通过VC++编写上位机友好界面既提高了控制精度,又使得控制更为方便。经测试,改造后的探针测试台能实现高精度的全自动化控制。     

探针测试设备简介

<正>1概述在集成电路产业链中,集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如果集成电路设计没有通过原型的验证测试,就不可能投     

某接收机测试台系统设计

介绍某接收机测试台设计方案、主要技术特点及实现方法。     

自动探针台的现状及发展

<正> 国内外概况 自动探针台作为对芯片电路进行参数和功能测试的中间测试设备,在国内外已有较长时间的研究和应用。随着LSI及VLSI的发展,测试点数量的增加、尺寸的缩小、密度的增大、以及规模生产和某些敏感元器件测试的需要,对自动探针台的精度(定位精度、重复精度及位置分辩率)、运行速度、使用功能、探测能力、软件接口、工作可靠     

TZ—3型自动多探针的研制

探测技术是最近几年受重视的技术课题。本文介绍了我所研制的TZ—3型自动多探针的技术性能、结构设计等,并对一些工艺要求作了探讨。     

VIGILANTE—用于自动目标识别的先进的传感／处理测试台

此文叙述VIGILANTE和它在自动目标识别(ATR)方面的典型应用(例如:飞机/导弹的探测、分类、跟踪)包括对融合于不同寻常的三维电子电路试验系统的VIGILANTE结构的讨论,专用设计和商业并行处理元件以及VIGILANTE能处理各种各样计算的能力,使其广泛的应用于卷积和神经网络。     

大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计

本文论述了大规模集成电路动态老化测试台COWWS—12000图形发生系统设计。系统采用了微机集中控制各路独立编程方式,具有结构简单、通用性强等特点。     

HQC—2型红外器件测试台的设计与调试

本文讨论了HQC—2型红外器件测试台高输入阻抗、超低噪声交流阻抗变换器的设计技术和电磁屏蔽技术。