光学测量技术的新突破

哥伦比亚大学和IBM研究中心,在共同研究以微微秒(Picosecond)为单位的高速电子脉冲测量方式的过程中成功地提出了一种以产生光学第二谐波(SHG)为基础的测量方式。这种测量方式的技术原理在于:依靠矽晶片的非线性光学响应,利用其对电场第二谐波响应的敏感性,在小于微微秒的时间区段内,     

几何量测量在光学参数测量中的应用

讨论了几何量测量在光学参数测量中的几种典型应用,说明了其在光学参数测量中的普遍性及重要性,阐述了光学参数的某些测量可以转化为几何量测量,使问题得到方便的解决,同时还给出了利用几何量测量在光学参数测量中几种先进的测量方法,以期广大光学检测人员得到一些启示。     

探讨基于光学色散的测量技术

微波频谱检测与分析在军事、民用领域均具有重要的战略意义和应用价值。电子对抗工作中的频度、跳频率的持续上升是一项空前的挑战。当前,跳频通信的跳频速率和跳频技术都得到了极大的发展,为实现信号的同步,提出了实时测频技术。由于光子技术本身具有快速、宽等优点,因此采用傅里叶转换技术进行频谱测量是一种新的技术发展趋势。文中综述了光纤色散傅里叶变换的发展状况,并对FFT频率测量的发展作了简单的讨论与展望,希望能给有关人员提供帮助和参考。     

光学影像测量系统在PCB中的应用

随着PCB产业的突飞猛进、特种元器件的不断推出，表面封装元器件趋向小型化和多功能化，这就促使印制电路板的设计和印制电路板制造技术更趋向高密度、高可靠和高精密度方向发展，以适应电子产品小型化和多功能化的发展和需要。而且PCB产品也向着超薄型、小组件、高密度、细间距方向快速发展。线路板上元器件组装密度提高，PCB的线宽、间距、焊盘越来越细小，已到微米级，复合层数越来越多。传统的人工目测（MVI）和针床在线测试（ICT）检测因“接触受限”（电气接触受限和视觉接触受限）所制，已不能完全适应当今制造技术发展的需要。     

光学形貌测量技术综述

三维物体表面轮廓测量是获取物体形态特征的一种重要手段，分类讨论了光学三维轮廓测量中所用的技术，介绍了各种技术的基本原理及其特点，重点介绍了以相位测量方法为基础的几种典型光学轮廓测量方法．     

光学测量技术在生物学,显微术,生产和通信中的现状与前景

1997年斯图加特光学学术讨论会于2月19日在斯图加特大学召开。邀请了280名国内外高校、科学界、工业界的专业人员参加。Tiziani教授作了关于光学测量技术现代化方法概况的报告。他讲述了显微测量技术的各种本同方法和多波长的绝对测量法。在3λ干涉仪中采用3支激光二极管，就可自动、绝对绘出高差为2mm、精度为20μm的地形图。该法也可用于租糙反射表面，测量时间为1s。作为测量技术中图像定位的例子，这里采用了衍射微透镜列阵的所谓共焦测量原理。这种列阵各透镜的直径为200μm、焦距为300μm。在光学技术研究所衍射透镜列阵用激光书写法…     

光学形貌测量技术综述

三维物体表面轮廓测量是获取物体形态特征的一种重要手段,分类讨论了光学三维轮廓测量中所用的技术,介绍了各种技术的基本原理及其特点,重点介绍了以相位测量方法为基础的几种典型光学轮廓测量方法。     

光学莫尔技术测量溶解浓度新方法研究

提出一种利用变位产生莫尔偏析来测量溶液浓度的新方法，设计了一套光电探测系统，给出了测量蔗糖溶液的初步结果。     

几何量测量在光学车间现场检验中的应用

光学生产过程中大量涉及零件的几何量测量问题,特别是在光学车间现场,从某种意义上说,测量检验的水平实际上代表了零件的制造水平。同制造技术的现状一样,现代高效、高精度的测量手段同传统经典的测量手段同时应用在车间生产现场。在生产实践中,针对不同被测量值,以及其精度,根据生产方式的不同选择适当的测量方法,才能最大限度的发挥加工的效率。     

全息光学元件的光学传递函数测量

本文讨论了用He-Ne激光器作光源,在光学传递函数仪上测量全息光学元件的单色光学传递函数的理论,指出激光强度(振幅)高斯分布的影响相当于在被测件出瞳上附加了一个掩模,只要在测量中采取适当的措施,就可大大减小掩模的影响,从而克服了全息光学元件色差大,衍射效率低,不能用普通光源测量其光学传递函数的困难。同时,通过对普通标准物镜的对比测量,说明用相干点光源在传函仪上测量光学传递函数也是可行的。这一结论为一些特殊光学系统的光学传递函数测量提供了一个有效方法。     

动态散射光测量在全场光学相干层析技术中的应用

全场光学相干层析术(FF-OCT)探测生物组织亚细胞水平折射率扰动的本征信号,为无标记成像提供了丰富的显微结构信息。动态全场光学相干层析技术(D-FFOCT)结合全场OCT低相干层析成像与动态散射光测量原理,可为细胞或组织提供亚细胞动态对比度。介绍了近年来D-FFOCT技术的发展,讨论了基于D-FFOCT的多模态成像技术,分析了成像系统的空间分辨率、信噪比和成像深度。针对目前D-FFOCT干涉信号易受扰动而产生图像伪影缺陷的问题,分析比较了运用高速相机、瞬时移相法、基于希尔伯特变换的算法和基于奇异值分解的图像滤波算法等消除伪影的方法,概述了D-FFOCT在基础生物学、精准医疗领域和药物研究方面的研究,并展望该技术在这些领域的发展前景和未来研究方向。     

光学三维轮廓测量技术综述

三维物体表面轮廓测量是获取物体形态特征的一种重要手段。本文分类讨论了光学三维轮廓测量中所采用的技术，介绍了各种技术的基本原理及特点，并重点描述了以相位测量方法为基础的几种典型光学轮廓测量方法，为今后正确和广泛应用三维传感技术提供了参考。     

含相位物体的光学非线性测量技术研究进展

光学非线性的研究离不开对材料光学非线性系数的测量,快捷可靠的测量技术一直是非线性光学研究领域的热点之一。4f相位相干成像技术因其独特的优势受到了人们的重视,其中相位物体的应用引起了广泛的关注。简述了4f相位相干成像技术的基本原理及特点,然后重点介绍了含相位物体的非线性测量技术的研究进展。综述了反射4f探测技术、含相位物体透过率的测量方法、相位物体Z扫描技术、基于相位物体的时间分辨泵浦探测技术和4f泵浦探测技术,并比较了这些方法的特点和应用。     

半导体器件热特性的光学测量技术及其研究进展

热失效是影响半导体器件的性能和可靠性的主要原因,热特性和温度测量是整个电子系统热设计过程中的关键环节.光学测量方法具有非接触、无损伤的优势,在半导体及电子系统研究领域应用日益广泛.评述了各种半导体器件热特性光学测量技术的工作原理、实验装置、技术指标、应用现状,总结了现有方法中的关键问题和发展方向.