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硅橡胶合成绝缘子憎水迁移性的使用寿命 总被引:4,自引:2,他引:2
对户外运行多年的硅橡胶合成绝缘子的研究表明,硅橡胶中所含小分子在运行中未见明显减少;同时,实验室分析表明,硅橡胶中只要含有极少量的小分子,就具有较好的憎水迁移性,硅橡胶合成绝缘子在服役期内始终具有憎水迁移性。 相似文献
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复合绝缘子外绝缘材质憎水迁移性能 总被引:5,自引:0,他引:5
较为详细地分析了出外绝缘中各种填充剂对硅橡胶本身特有几种憎水迁移性能的影响程度,同时指出产品长期运行过程中,外绝缘中微酸的填充剂和外绝缘表现面沉积污秽物中偏酸无机化合物的诱导作用,促使硅橡胶硅氧烷分子发生异裂反应生成不分子,这也是和复合绝缘子外绝缘憎水迁移性能不可忽视的组成部分。 相似文献
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为了研究硅橡胶在不同环境下的憎水性变化规律,采用静态接触角法,模拟不同水珠大小、表面粗糙度、盐密灰密、污秽种类、温湿度和紫外辐照等不同环境因素,研究硅橡胶憎水性及憎水迁移性在各种环境中的变化规律。研究发现了水珠越大,表面越粗糙会影响静态接触角测量的准确度,结合变化规律给出了测试建议。环境模拟试验结果表明,灰密对硅橡胶憎水迁移性能的影响比盐密更明显,温度越高憎水迁移越快,湿度的增大对小分子迁移有抑制作用,迁移时间变长,紫外辐照中的热辐射效应是加速憎水迁移的主导因素,紫外线也起到一定的促进作用,不同的污秽种类对憎水迁移性的影响差异大,建议在人工污秽试验中对污秽的选取应结合需求进行优选。 相似文献
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复合绝缘子外绝缘材质憎水迁移性综述 总被引:1,自引:0,他引:1
复合绝缘子是一种新型结构的绝缘子,具有防污性能好,赠水迁移性能强,运行寿命长等优点。为深入了解该产品的特性,详细分析了复合绝缘子外绝缘材质的构成和加工过程,以及所形成的结构特征。 相似文献
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复合绝缘子外绝缘基材硅橡胶表面的憎水性和憎水迁移性机理分析 总被引:16,自引:0,他引:16
使用复合绝缘了可以有效地防止高压输电线路的污闪跳闸事故,保证线路的安全运行。分析了复合绝缘子基材的分子结构特点,探讨了硅橡胶绝缘子表面憎水性及憎水迁移机理,对改进材料配方,提高绝缘子性能及探讨绝缘子在运行过程中憎水性的丧失、恢复和电网安全可靠性有一定参考价值。 相似文献
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由于硅橡胶材料良好的不迁移性,使其在电力系统外绝缘外中得到了广泛的应用。但直到目前,对其憎水迁移性的机理还有较大异议。文章结构简单的实验,分析了国内外的几种观点。认为硅橡胶中自由分子的扩散作用是形成憎水性迁移性的主要原因。 相似文献
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硅橡胶中的LMW含量及其对憎水迁移性的影响 总被引:8,自引:0,他引:8
硅橡胶绝缘材料良好的憎水性,使其在电力系统中得到了广泛的应用,现已证明LMW(lowmolecularweight轻重量分子)是使硅橡胶绝缘在污秽污染下仍保持憎水性的主要原因。因此,一定量的LMW是硅橡胶绝缘在表面电晕或污秽条件下,仍能保持具有一定憎水性的关键因素,利用CH2Cl2提取LMW技术,探讨了RTV(roomtemperaturevulcanizing室温硫化)和HTV(high tem 相似文献
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为了检验复合绝缘子外绝缘材质增水迁移性能所确定的人工试验方法。应在产品表面污秽物颗粒布满增厚状态 ,所形成含有各种形式硅氧烷分子的污层基础上 ,通过分析认为 :外绝缘材质憎水迁移性能人工试验用的污秽物应按实测自然污秽物成分及其比例选取 ;污其表面的应取取筛污法进行污染 ;憎水迁移性能程度应利用静态水滴接触法进行测定。 相似文献
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憎水迁移性作为复合绝缘子状态评价和老化程度判断的关键参数,有着重要的研究意义。为此,以在我国南方地区运行多年的直流复合绝缘子为研究对象,采用静态接触角法进行了系统的憎水迁移性测试,同时应用傅里叶变换红外光谱和X射线光电子能谱分析深入探究了硅橡胶材料的微观结构变化。研究结果表明:绝缘子伞裙上表面的边沿憎水迁移性最差,根部憎水迁移性最好,绝缘子不同方位的憎水迁移性也有所差异;老化最为严重的边沿褪色位置有机官能团含量大幅下降,Si元素和C元素减少、Al元素增加,并且检测出硅橡胶体系交联度的明显上升。上述憎水迁移性以及微观分析的研究结果可为直流复合绝缘子老化机制和老化程度评估提供依据。 相似文献
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硅橡胶的憎水性及憎水迁移性是复合绝缘子能够防治污闪事故的主要原因,快速提高染污硅橡胶材料的表面憎水迁移速率具有重要意义。为此,采用介质阻挡放电(DBD)产生的低温等离子体射流装置对染污后的硅橡胶材料进行了处理,研究了不同等离子体射流处理参数对染污硅橡胶憎水迁移速率的影响。研究结果表明:等离子体射流放电电压、射流处理间距、射流气体体积流量、染污灰密度(NSDD)等因素对提高染污硅橡胶憎水迁移速率有较大影响;外加射流放电电压幅值越高、射流气体体积流量越大,则射流处理后初始接触角越大、憎水迁移性越好;射流处理存在有效间距,等离子体与染污硅橡胶间距超过4 cm后,处理效果将大大降低;染污灰密度增大,射流处理后憎水性改善效果变差。分析实验结论推测等离子体射流作用过程中射流能量是促使憎水迁移速率加快的主要因素。 相似文献
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空间电荷对硅橡胶憎水性的影响研究 总被引:3,自引:0,他引:3
对硅橡胶试样进行短时间(10 min)的直流加压实验后,直接测量其水珠接触角,发现硅橡胶的憎水性迅速下降。用表面润湿处理的方法将表面电荷导走,再次测量,其憎水性又立刻恢复。经长期加压的硅橡胶试样,在同样的表面润湿处理后,憎水性停留在较差的水平,憎水性恢复的速度也比短期实验要慢得多。用电声脉冲法测量硅橡胶中的空间电荷,并将界面电荷峰值的绝对值与经润湿处理后测得的憎水性进行对比,发现两者存在着相互对应的关系。硅橡胶界面电荷峰值绝对值的提高对应着硅橡胶憎水性能的下降。实验证明,空间电荷的大量积聚会导致硅橡胶憎水性一定程度上的破坏和丧失。 相似文献
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交流电晕对硅橡胶材料憎水性的影响 总被引:9,自引:0,他引:9
采用针-板电极研究交流电晕对硅橡胶材料憎水性的影响。研究发现作用电压、表面污秽状态、相对湿度等因素都会影响电晕条件下的硅橡胶材料憎水性丧失和恢复特性。交流电晕使清洁试片憎水性丧失迅速,但憎水性恢复缓慢,一般憎水性恢复需要10h以上;而染污试片憎水性丧失相对较慢,憎水性恢复较快,一般憎水性丧失需要6h以上。研究证实,IEC62217中的复合绝缘子多因素试验对硅橡胶材料憎水性丧失和恢复的过程考虑不够充分,需要进一步研究改进。 相似文献
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直流电晕对硅橡胶材料憎水性的影响 总被引:4,自引:0,他引:4
采用针-板电极研究了直流电晕对硅橡胶材料憎水性的影响。发现直流电晕对硅橡胶表面憎水性的影响较小。湿度、迁移时间、电压等因素对硅橡胶材料憎水性影响较小,特别是对憎水性充分迁移的染污硅橡胶试片的影响更小。这与交流电晕作用硅橡胶材料时有明显差异。通过分析直流电晕下硅橡胶表面放电过程、表面电荷积聚和表面结构的变化,认为在直流电晕下,硅橡胶材料表面化学反应较弱是直流电晕对硅橡胶表面憎水性影响甚微的原因。 相似文献
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高海拔地区紫外辐射对硅橡胶复合绝缘子老化的影响 总被引:4,自引:0,他引:4
随着我国西部大开发以及全国范围内特高压工程的开展,硅橡胶复合绝缘子在高海拔地区得到了越来越广泛的应用,针对高海拔地区紫外辐射环境下复合绝缘子老化问题的研究也日益迫切。针对高海拔地区目照中的紫外辐射特征,本文分别采用UV-A、UV-B和UV-C三种紫外光源模拟各种典型的大气紫外辐射环境,对硅橡胶复合绝缘子进行5000h的紫外辐射,总辐射量可达36~54kJ/Cm^2,相当于高原地区5年左右的紫外辐射量,然后采用静态接触角法测量紫外辐射对硅橡胶绝缘子表面憎水性的影响,探讨了高海拔地区复合绝缘子的紫外老化过程与特征。研究结果表明:经过UV-A、UV-B、UV-C紫外辐射后,硅橡胶绝缘子均发生了一定程度的褪色现象,但并未影响材料的绝缘性能。UV-C紫外线对硅橡胶绝缘子长时间辐射后,试样硬度变大,柔顺性降低,表面静态接触角下降,憎水性部分丧失;UV-A和UV-B紫外线对绝缘子表面的硬度和憎水性影响不大. 相似文献
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研究了硅橡胶平板模型在不同憎水性条件下的污闪特性。试品以定量涂刷的方式染污,通过控制迁移时间,使固体污层获取不同程度的憎水性能。以污层表面的液滴面积最大值来代表污层的憎水性强度,分析污层憎水性能对平板模型的污闪电压、污层电导以及电弧发展过程的影响。随着污层憎水性能的改善,试品污闪电压逐步上升。污闪电压与液滴面积最大值存在关联,但两者间的分散性随污层憎水性能的改善而增加。污层表面水珠形态对电弧发展过程有重要影响,当污层表面水珠能形成连续水膜时,电弧通道集中且污闪电压低;当污层表面水珠呈离散分布时,放电区域分散且污闪电压高。根据污闪试验结果以及不同憎水性强度污层表面的液滴形态,将亲水性表面HC7细分为HC7A、HC7B、HC7C和HC7D四种状态。HC7B状态下,污层憎水性能虽然很微弱,但相对污层完全没有憎水性的情形(HC7C和HC7D),试品的污闪电压有明显的上升。因此,依据HC7B状态下的污闪电压设计复合绝缘子结构,可以在保证绝缘子安全裕度的同时,优化绝缘子的结构高度。 相似文献