γ谱仪效率刻度标准源的制备

介绍了１种常用的热焊封制备γ点源的方法，并制备了几种核素的γ点源。在γ谱仪上进行了检验，得到了计算值和测量值一致的结果。同时，将高纯锗γ谱仪作了更准确的效率刻度。     

井型γ谱仪土壤样品探测效率刻度方法研究

井型γ谱仪能大幅缩短测量时间和样品用量,但在实际使用前,须对其进行效率刻度.介绍了一种采用MCNP(Monte Carlo N Particle Transport Code)通用软件包模拟计算与单能量点源实测修正相结合的井型γ谱仪土壤样品效率刻度方法.基于MCNP计算了γ射线不同能量、土壤样品不同质量的井型NaI(T...     

一台HPGeγ谱仪效率刻度数据的处理与分析

采用效率比较法测定γ谱仪的端面效率曲线时,刻度数据的取舍、函数拟合方式、效率比曲线拟合核素的选取等数据处理与分析方法,都影响着谱仪刻度的准确性.本文介绍了对一台HPGeγ谱仪效率刻度数据的处理与分析.     

环境辐射监测中γ谱仪无源效率刻度方法探讨

对高纯锗探测器无源效率刻度方法的特点、建立方式、方法验证做了介绍.针对探测器进行了多点源的实测来验证无源效率拟合与标准值之间的偏差,在中高能区点源的验证结果在6%,环境介质中的土壤、动植物灰体源的验证结果表明圆柱型体源偏差在7%～10%.     

用圆柱形体源刻度Geγ谱仪效率的能量及源自吸收的数学模型

文章报导了关于圆柱体源的γ谱分析的不同密度源的自吸收校正函数模型。该模型统一反映了γ射线能量、装样密度对自吸收校正函数的影响,从而为γ谱分析的测量效率的刻度找到了一条捷径。     

用多组标准源系列刻度γ谱仪效率离散的分析

一、引言在γ谱仪的放射性核素定量分析中,影响分析结果准确度与精度的主要因素,除了测量的统计误差、解谱程序引起的误差、谱仪系统的稳定性等因素外,还有谱仪系统效率刻度的误差。     

HPGeγ谱仪效率曲线的拟合

对HPGeγ谱仪探测效率在39.52-1 408 keV能区进行分段多项式拟合及整个区域一次拟合,并对两种拟合方式进行了比较。结果表明：在实验能区内,整体一次多项式拟合的计算相对简单,但分段拟合获得数据更为准确。用两种拟合函数对标准源及样品的活度进行分析,分段拟合方式的结果优于整体一次多项式拟合。     

关于特征X射线在γ谱仪低能效率刻度应用中偏差问题的初步探讨

分析了在用天然放射性^732Th衰变系的低能X射线进行HPGe γ谱仪的效率刻度时出现系统偏差的原因，并就此对实际应用中应注意的问题进行了探讨．提出了特征X射线的符合相加等效应在低活度γ谱分析中可能会引起的一系列问题以及应采取的措施。     

2 高纯锗γ谱仪对土壤效率刻度的蒙特卡罗计算

便携式高纯锗γ谱仪用于核应急工作，为了能更充分地利用该谱仪，对其进行了实验室谱仪改装，将谱仪探头从铅室的顶端置入。改装后可使用谱仪进行实验室分析工作，在发生辐射事故时可很容易地将谱仪从铅室取下来，携带到现场进行测量。     

半导体γ谱仪对环境样品全能峰效率的半经验公式刻度方法

本文报道了用半经验公式对φ5.3×5.7cm 高纯锗γ谱仪对环境样品的全能峰效率进行刻度的方法和结果。制备了以土壤、煤、矸石为介质的不同厚度的φ7.5cm 的圆柱形~(137)Cs、Ra-系和 Th-系标准参考源,对本方法进行了验证。本方法的结果与标准参考源的参考值基本上在7.1%以内符合。     

野外γ谱仪刻度的蒙特卡罗模拟

用蒙特卡罗方法对NaI(Tl)野外γ谱仪刻度进行模拟,计算谱仪的响应系数.通过与实验的比较,研究利用蒙特卡罗方法对NaI(Tl)野外γ谱仪进行刻度的可行性.结果表明,当模拟探测器对137Cs的能量分辨率从8%～14%变化时,模拟结果与实验结果的差别在12%以内.     

中国实验快堆C31系统HPGe γ谱仪效率刻度的点源模拟

中国实验快堆燃料破损覆盖气体监测系统γ谱仪采用的是ORTEC公司的HPGe γ谱仪,监测对象是覆盖气体(氩气)。由于很难找到谱仪效率刻度相对应的标准气体体源,对谱仪的效率刻度带来了困难。本文在参考大量文献的基础上利用点源模拟的方法来进行HPGe γ谱仪的全能峰效率刻度,解决了中国实验快堆燃料破损覆盖气体监测系统(C31系统)谱仪效率刻度的困难。     

无源效率刻度在活度测量中的应用研究

利用几种典型的实验室标准源,对无源效率刻度软件LabSOCS效率模拟的准确性和可靠性进行了检验;从射线级联符合相加效应原理出发,探讨了利用具有级联关系的X射线进行效率刻度的可能性,扩展了效率刻度的能区范围;利用该软件模拟计算了一定体积的圆柱形气体体源效率随几何尺寸的变化关系,优化了圆柱形气体源盒的几何尺寸。     

高纯锗γ谱仪对放射性标准土壤的探测效率刻度

通过测量放在样品盒内压实后8个不同高度的土壤标准物质，得到HGPe γ 谱仪的γ射线能量-效率曲线，并用蒙特卡罗程序MCNP进行相应计算，结果表明，实际测量值与蒙特卡罗方法计算值符合得较好。     

HPGe γ谱仪对环境样品的探测效率刻度

利用混合单能γ核素体标准源和＾１５２Ｅｕ体标准源对ＨＰＧｅγ谱仪作效率刻度，取得两条效率刻度曲线，用这两工线对国家环保局１９９５年组织的比对样品作活度测量，取得了很好的结果。     

激光三维扫描γ谱仪无源效率刻度

为解决非规则几何体样品的γ放射性活度测量的效率刻度问题,探讨了一种无源效率刻度新方法。该方法通过激光三维扫描建立测量对象的几何模型,利用点源对HPGe探测器进行表征获得探测器的关键参数如晶体尺寸。将几何模型离散成许多立方网格体,利用数值积分方法计算效率刻度因子。测试结果表明,该方法能够适用于不规则几何体样品的效率刻度因子计算。     

蒙特卡罗法模拟γ谱仪无源效率刻度

介绍了蒙特卡罗模拟和分析计算相结合对γ谱仪进行无源效率刻度的方法。针对点源情况下不同探测器厚度、半径及源探距等几何条件,以及不同面源半径的面源,以蒙特卡罗模拟获得γ谱仪无源效率刻度效率数据作为基准,结合插值法和积分计算,从而实现无源效率刻度。并初步编写了一套与该方法配套无源效率刻度软件。将软件计算结果与蒙特卡罗模拟结果比较,最大相对误差为9.1%。     

一台HPGe谱仪的效率刻度和符合因子测定

采用远近效率比较法在59.5 kdV～3253 keV的能量范围内刻度了一台HPGe γ谱仪.选用137Cs、113Sn、109Cd三个核素拟合远近效率比曲线,给出了谱仪远位和端面的效率能量函数,计算了端面测量状态时符合相加修正因子.     

使用准直器后HPGe反康普顿γ谱仪的效率刻度

本文讨论了反康普顿γ谱仪在应用中所显示出的局限性以及这种谱仪在正常运行时做效率刻度所遇到的问题。采用具有圆锥形开口的准直器限定源的γ射线只能入射到主探测器上,从而可以刻度出实用的效率曲线。