天线控制系统中心控制测试装置的设计

介绍天线控制系统维修测试台的设计、系统组成及原理，并着重描述了主要电路。     

一种可配置的EDA仿真验证方法

介绍了一种适用于5000逻辑单元以上规模电路的可配置EDA仿真验证方法.它由可配置的测试台生成器自动产生测试台,并管理测试向量的注入和仿真状态的存储.与以往研究采用的定时触发的激励信号注入方式不同,本方法采用事件触发,从而保持了与被测电路仿真过程的实时交互.自动生成测试台代码可避免设计人员进行重复性编码并提高了可靠性.事件触发的仿真状态保存机制大大节省了存储空间.     

某雷达发射机测试台监控电路的设计

介绍某雷达发射机测试台监控电路的设计。这一监控电路采用了模块化的设计思路,引入了可编程器件技术及光电隔离技术,从而提高了整个测试台的可靠性和可维护性。     

基于DDS Ramped FSK技术的机车信号测试系统设计

针对目前通用机车信号环线发送器系统复杂程度高、价格昂贵,同时,便携式机车信号发送器精度低、可靠性不高等问题,介绍了一种基于DDS Ramped FSK技术设计的机车信号测试系统,该测试台可模拟18信息移频轨道电路,UM71和ZPW2000轨道电路的移频信号,通过上位机控制测试系统连续输出不同的载频和低频编码Ramped FSK信号。文章给出了该测试台的部分电路原理图并对设计方法进行了详细论述, 经样机实验证明, 其各项功能完成良好。     

一种模拟开关电路测试台设计与制作

本文介绍了利用单片机来实现模拟开关电路测量的测试台设计与制作，实测结果表明，该测试台不但提高了测量精度和测量效率，而且大大提高了测量的客观性。该测试系统对于改进目前的测量手段，提高测量的客观性和精度有很大帮助。该测试台能实现单步测试和自动测试，很适合大批量单片电路的生产情况。     

ADT系列雷达录取设备维修测试台开发与应用

介绍了ADT系列雷达录取设备维修测试台的工作原理,硬件、软件的设计,以及其在生产和维修中的实际应用。     

基于CY7C68013的存储器测试台的USB通信设计

为了对飞行器存储器进行测试,需存储器测试台与飞行器存储器之间完成数据通信。由于USB总线技术具有成本低、数据传输速度快、抗干扰能力强等的优点,这里选用USB总线来完成测试台与存储器之间的通信,用CY7C68013芯片作为USB通信的控制芯片。选用Keilμvision2作为USB通信软件设计的开发环境。通过上位机软件编程来控制测试台CY7C68013与信号源模块,CY7C68013与固态存储器之间的通信。通过对USB通信硬件电路和软件程序的设计,最终完成测试台的USB通信设计。经测试,达到了设计的目的和要求。     

基于CY7C68013的存储器测试台的USB通信设计基于CY7C68013的存储器测试台的USB通信设计

为了对飞行器存储器进行测试,需存储器测试台与飞行器存储器之间完成数据通信。由于USB总线技术具有成本低、数据传输速度快、抗干扰能力强等的优点,这里选用USB总线来完成测试台与存储器之间的通信,用CY7C68013芯片作为USB通信的控制芯片。选用Keil vision2作为USB通信软件设计的开发环境。通过上位机软件编程来控制测试台CY7C68013与信号源模块,CY7C68013与固态存储器之间的通信。通过对USB通信硬件电路和软件程序的设计,最终完成测试台的USB通信设计。经测试,达到了设计的目的和要求。     

专用可编程语音编码电路的设计与实现

在人工电子耳蜗系统中，专用可编程语音编码电路实现将语音特征信息包容错编码为传输脉冲，并按要求的传输格式发送编码脉冲。电路独立的指令系统保证了电路能够灵活实现系统所需的各种数据传送格式。电路的容错编码能力保证了传输数据有较强的抗干扰能力。本文介绍了该电路的功能、电路的指令集设计、电路结构和逻辑设计方法以及电路的版图设计过程，并讨论了电路芯片的测试结果。电路版图面积为４．５ｍｍ×４．５ｍｍ，包含１０００个等效门及４３个引脚。     

一种专用电路模块测试台的设计与使用

对于技术指标不多、形状规则的电路模块,采用常规的测试夹具和测量仪器就可以达到测试要求。但对于技术指标繁多,测试过程复杂的专用电路模块,利用常规的测试方法,工作效率低下,而且会出现因电源线的极性接反而烧坏产品的现象。因此,设计制作了专用的测试台。根据专用电路模块技术指标的要求,确定了测试台的设计方案。通过测试方法的详细说明,体现了该测试台对技术指标测试的全面性,达到了测试目的,解决了专用电路模块的生产瓶颈,大大提高了工作效率。     

凸轮轴自动检测仪的研制

介绍了凸轮轴检测仪的原理，硬件电路及软件的设计。该仪器采用计算机控制技术，能够按凸轮轴任意基准进行换算，可检测凸轮轴上齿轮的螺旋角，还具有分析对称或非对称凸轮总误差，相邻差、偏心差、凸轮夹角、圆柱度及凸轮斜度等功能。     

CPLD在雷达伺服轴角编码电路中的应用

介绍一种针对正、余弦旋转变压器—数字转换器(RDC)模块，用复杂可编程逻辑器件(CPLD)技术实现伺服轴角编码电路设计的方案。分析了轴角编码器系统中14XSZ系列旋转变压器—数字转换器的原理、轴角粗精组合原理及轴角纠错原理。详细介绍了CPLD的内部功能电路、CPLD轴角粗精组合和纠错实现电路，以及CPLD的工作时序图。提出了利用CPLD实现轴角粗精组合处理的方案，并通过了实际系统运行的考验，证明该方案可行。     

基于Multisim10的步进电机数控电路的分析和设计

在智能仪器和位置控制中,步进电机是常用的运动控制设备之一,这是因为步进电机以离散的步进值运动,能提供精确的角位置信息,并且控制方便简单.为了使学生更加形象生动的了解步进电机控制系统工作原理,运用已学习的数字逻辑电路相关知识设计步进电机控制系统电路,并采用Multisim10仿真软件进行了电路仿真.其目的在于培养学生分析设计电路能力,并通过运用仿真软件验证电路设计的可行性,使电路设计效果更加直观.     

片上栅氧经时击穿失效监测电路与方法

 栅氧经时击穿(Time Dependent Dielectric Breakdown(TDDB))等失效机理引起的失效是电路失效的主要原因之一,而这些电路的失效可能会造成灾难性的后果.本文提出了一种片上、能对栅氧经时击穿引起的失效进行实时预报的电路及方法.当栅氧经时击穿引发电路或系统失效时,本监测电路会发出报警信号.本监测电路采用标准的CMOS工艺,只占用很小的芯片面积,同时它只与宿主电路共用电源信号,从而不会给宿主电路带来任何干扰.本监测电路采用0.18μm CMOS工艺实现了投片验证.     

ANALYSIS AND DESIGN OF A NEURAL CHIP USED FOR BINARY IMAGE PROCESSING

Based on the model of a formal neuron proposed by McCulloch and Pitts,a kind ofneural circuit,which is a CMOS Variable Threshold Logic(VTL)circuit,is given in this paperconsidering the features of the binary image processing system.The theoretical analysis,andthe simulations for the building block circuits such as D/A converters,comparator and so on aregiven.The layout design of the whole circuit are also given.The binary image processing can berealized by using the VTL circuit combined with its external auxiliary circuits.     

Testability and test generation for majority voting fault-tolerant circuits

The testability of majority voting based fault-tolerant circuits is investigated and sufficient conditions for constructing circuits that are testable for all single and multiple stuck-at faults are established. The testability conditions apply to both combinational and sequential logic circuits and result in testable majority voting based fault-tolerant circuits without additional testability circuitry. Alternatively, the testability conditions facilitate the application of structured design for testability and Built-In Self-Test techniques to fault-tolerant circuits in a systematic manner. The complexity of the fault-tolerant circuit, when compared to the original circuit can significantly increase test pattern generation time when using traditional automatic test pattern generation software. Therefore, two test pattern generation algorithms are developed for detecting all single and multiple stuck-at faults in majority voting based circuits designed to satisfy the testability conditions. The algorithms are based on hierarchical test pattern generation using test patterns for the original, non-fault-tolerant circuit and structural knowledge of the majority voting based design. Efficiency is demonstrated in terms of test pattern generation time and cardinality of the resulting set of test patterns when compared to traditional automatic test pattern generation software.     

用流水线技术实现STM-16帧定位电路设计

在高阶宽带电路交换专用集成电路(ASIC)芯片设计中,输入数据的帧定位和数据重排操作需要占用大量的逻辑电路.文章提出了一种流水线结构的帧定位电路设计方式,给出了STM 16码流的帧定位和数据重排的两种不同电路设计实现方案.试验结果表明,采用流水线结构设计实现的STM-16帧定位电路,可明显减小电路规模,降低芯片功耗,提高芯片的可靠性和整体性能.     

基于小波高频系数统计特征的电路故障诊断

对故障电路进行特征提取与分类是模拟电路诊断的两个重要环节。现有方法多对时域响应信号进行小波变换以提取故障特征,并用神经网络或支持向量机方法实现对故障进行分类。为提高模拟电路故障诊断率,提出一种新的特征选取方法:在模拟电路的时域响应中对其进行小波变换,并对变换得到的高频细节系数统计平均值、标准偏差、峭度、熵和偏斜度等统计特征,并建立以支持向量机为分类器的故障诊断系统。以两种常见电路为例,实验结果表明,提出方法对常见电路进行故障诊断,准确率得到提升,精度达到99%以上,优于传统单纯小波系数分析方法,适用于模拟电路的故障诊断。     

The virtual IC factory ... can it be achieved?

Technology computer-aided design (TCAD) is the software tool set that allows integrated circuit (IC) technologists to develop new processes and devices without having to build costly test lots. TCAD can potentially provide process engineers the same benefits that electronic circuit CAD (ECAD) has provided to circuit designers. Circuit designers can design, lay out, and test new circuits without fabricating them, and still largely be assured that the circuit will work when manufactured. Will the day come when an engineer can use software to develop a new manufacturing process and predict its performance and yield accurately?     

抗辐照SOI256kB只读存储器的ESD设计

ESD设计技术已成为业界提升SOI电路可靠性的一个瓶颈技术。文章介绍了一款具有抗辐照能力、基于SOI／CMOS工艺技术研制的容量为256kB只读存储器电路的ESD设计方案。结合电路特点详细分析了其ESD设计的难点,阐述了从工艺、器件和电路三个方面如何密切配合,进行SOI电路ESD设计的分析思路和解决方法。电路基于0．8...