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基于X射线CCD的电缆偏心在线检测改进技术大大提高了检测装置的测量精度和响应速度.文中介绍了X射线CCD应用于电缆偏心在线检测系统的检测原理和-个检测装置的结构,该装置硬件由扫描驱动系统、X射线发生器组件、数据采集部分和高性能计算机系统组成.给出了该装置在实际运行中的效果,以及与其他电缆偏心检测技术的特点比较. 相似文献
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介绍透射式X射线胶管壁厚测量系统,并提出了一种数据处理方法,对获得的一维图像数据线性化后进行拟合,给出了实际数据和仿真数据的处理结果。 相似文献
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为了消除电缆出线速度和线芯振动等对偏心检测的影响,将X射线准直扫描方式改为扇形束非扫描曝光方式,X射线线阵CCD产生的光电信号经过低通滤波和A/D转换后,成像为一条数据曲线,通过提取其特征突变点等信息,重构出电缆检测截面的轮廓图,从而计算出电缆线芯的直径、层数、各层在任意指定方向的厚度和偏心度等;扫描模式、特征信息提取和数据处理方法的改变,使得关键性的原理误差和系统的响应时间显著减少,仪器的结构大大简化,造价大幅下降;新的监测方法不需要预置任何已知的参数,可广泛用于交联电缆绝缘层偏心度等的在线监测。 相似文献
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设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际X光斑位置与理论设计的偏差,以此为依据进行多次调整可使系统光斑调节到一合理位置。 相似文献
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针对一类特定的微小型药柱,研究了基于正弦图和经验信息,通过微焦点X射线获取三个角度下的X射线投影数据,求解出圆心坐标的方法;从而判断药柱内孔的分布是否偏心,若偏心,则给出偏移量。实验表明,与CT重建结果相比,该方法能够准确地得到圆心坐标,能够满足工业中要求的精度;与经验信息对比,可以判断是否偏心,以及偏移量,为下一步工作转台调整提供参数。 相似文献
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X射线CCD(Charge-Coupled Device)是现代观测天文学和天体物理学的重要探测器,其读出系统直接影响探测器的性能。通过对CDS(Correlated Double Sampling)等系统重要模块的分析和优化设计,提出了一款针对CCD47-10的读出系统。测试结果显示,系统读出噪声仅为8.6 e-,对55Fe的能量分辨率FWHM(Full Width Half Maximum)可达152 eV,且具有良好的线性度。 相似文献
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本文对电缆X射线辐照响应的机理和模拟方法进行了研究,分析了电缆直流和脉冲X射线辐照响应的异同。建立了带状电缆X射线辐照响应一维计算模型,该模型包含电缆屏蔽层和介质层间隙、介质层瞬态辐射感应电导率等计算模型,模拟了带状电缆直流和脉冲X射线辐照电流响应。模拟结果表明,在X射线注量相同的条件下,电缆直流和方波脉冲X射线响应具有类似的波形特征及相同的间隙电压。因此,在该计算模型描述的电缆X射线辐照响应机制下,可利用直流X射线开展相应的脉冲X射线辐照响应机制模拟。 相似文献
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介绍了实时自动测量X射线剂量分布的装置,总结了数据采集前端电路设计方法和技巧,论证了声卡用于实现模拟转换功能的可行性,介绍了在Visual C^ 环境下编写的监控软件读、写数据的方法及具体实现的功能。实验论证:整套装置可分别测得实时与累积剂量信息,监控软件的界面上可显示所测量的剂量信息并予以记录,可以通过设置相关参数控制探测器在坐标系内的位置。探测器的机械定位精度可达0.2mm。 相似文献
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针孔成像法是诊断杆箍缩二极管X射线焦斑的常用方法。本文建立基于增感屏、光锥耦合、CCD相机的X-ray CCD相机系统,取代针孔成像法中基于闪烁体、物镜、CCD相机的图像获取系统,提高了诊断系统的紧凑性。对所建立的X-ray CCD相机系统的空间分辨能力进行了测试,系统的空间分辨能力受增感屏限制,使用铅制分辨卡测得系统的空间分辨率为5lp/mm,使用刀口法测得调制传递函数为0.5时的频率为1.5lp/mm。测试结果表明,在针孔成像倍率为0.5时,可满足1.5 mm左右的X射线焦斑诊断的需要。并开展了杆箍缩二极管侧面焦斑诊断实验,获得了侧面焦斑图像,且进行了图像复原处理。 相似文献
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数字化线阵CCD扫描X射线成像系统 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了一种数字化线阵CCD扫描X射线成像系统的原理性样机,其主要特点是用窄束X射线成像,从系统结构上抑制了散射对成像的影响,在满足图像质量的情况下降低了成像所需的X射线剂量.介绍了系统设计的理论基础,讨论了系统的软、硬件组成,并测量了系统的成像性能. 相似文献
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一种复合屏蔽电缆的转移阻抗 总被引:1,自引:0,他引:1
给出一种复合屏蔽电缆转移阻抗的测试方法和结果,从测试结果可看出.在低频下.转移阻抗为电缆屏蔽的直流电阻;在高频段(大于30MHz).转移阻抗随着频率的增加而增加.其屏蔽性能优于单层屏蔽结构的电缆。 相似文献
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X射线板带材凸度检测系统采用双X射线源和双排充气电离室探测器,对热轧生产线上的钢板进行厚度和凸度等参数的检测,X射线的能量和强度是决定钢板测厚精度的重要因素。为了保证测量精度,本文依据国标GB/T15636—2008假定由统计涨落引入的测厚误差应小于±0.06%,在X光机管电压为180kV、电流为11mA的情况下,从理论上估算了满足以上精度探测器输出的最大相对标准偏差,通过实验对测厚范围内的钢板进行测量,计算出各路探测器输出在不同厚度钢板时的相对标准偏差。实验结果表明,在满足系统测量速度的情况下,通过对几个原始数据进行平均,可使统计涨落小于理论估算值。X光机设置的管电压和管电流参数满足测厚精度的要求。 相似文献
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凸度检测系统中X光机参数对厚度测量精度的影响 总被引:2,自引:2,他引:0
X射线凸度检测技术可在线获得板带材的断面轮廓并反馈到连轧系统实现实时凸度控制,在冶金工业中得到广泛应用,是冶金自动化中的关键技术。该项技术存在厚度测量范围大、测量精度要求高的特点。本文通过理论分析厚度测量精度与X光机管电压和管电流的关系,得到X光机管电流是决定系统极限测量精度的主要因素,X光机管电压是决定系统测量厚度范围的主要因素。在此基础上给出了由测量精度确定管电流的方法和由测量范围确定管电压的方法,为系统X光机的选型和测量档位设定提供指导依据。 相似文献
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介绍了10元CsI(Tl)闪烁晶体与10元硅光二极管阵列耦合而成的X射线探测器的设计制造过程。其中,二极管光敏元为0.75mm×1.25mm的窄条形,中心距为1.25mm,外观尺寸为12.5mm×1.25mm;闪烁体单元为1.0mm×1.5mm的窄条形,中心距为1.25mm,外观尺寸为12.5mm×1.9mm。对该探测器的硅光二极管进行了光谱测试和噪声测试,对射线探测器进行了串音和均匀性等性能测试。二极管的噪声为10?4V,射线探测器的非均匀性为0.08,有串音现象发生。对存在的问题进行了分析讨论并提出了改进方案。 相似文献