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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
对圆片级封装用玻璃通孔(TGV)晶片的减薄加工工艺进行了研究并最终确定出工艺路线。该减薄加工工艺主要包括机械研磨及化学机械抛光(CMP)过程。通过机械研磨,玻璃通孔晶片的残余玻璃层及硅层得到有效去除,整个晶片的平整度显著提高,用平面度测量仪测试该晶片研磨后的翘曲度与总厚度变化(TTV)值分别为7.149μm与3.706μm。CMP过程使得TGV晶片的表面粗糙度大幅度降低,经白光干涉仪测试抛光后TGV晶片的表面粗糙度为4.275 nm。通过该减薄工艺加工的TGV晶片能够较好满足圆片级封装时的气密性要求。  相似文献   

2.
3.
COG工艺的LCD模块电极腐蚀的控制   总被引:3,自引:2,他引:1  
王巍强 《液晶与显示》2006,21(6):696-699
利用显微镜对LCD模块出现显示断路的产品进行观察,多见电极腐蚀现象,研究分析认为电极腐蚀起因于电化学腐蚀。通过采取LCD外引电极印刷保护涂层,并同时加强生产净化管理等措施,控制了腐蚀的再度发生,降低了不合格产品的产生。生产实践证明,工艺条件改善后提高了LCD利用率,腐蚀不合格率下降6%,LCD模块产品合格率达到98%以上。  相似文献   

4.
3 in锑化铟晶片研磨工艺研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
程鹏  王志芳  赵超  于增辉 《红外》2013,34(5):35-38
随着现代光电器件工艺的不断改进以及焦平面器件像元数的不断增加,大尺寸晶片越来越受到工艺人员的重视,晶片研磨过程中的表面平整度或总厚度偏差(TotalThickness Variation,TTV)数值有所增加。为了满足工艺人员对大尺寸晶片的要求,降低了研磨工艺中晶片的TTV值。在对不同研磨条件下所得到的晶片的TTV进行研究后,制定了合理的研磨工序。  相似文献   

5.
《中国有线电视》2007,(5):480-480
康宁总裁兼首席执行官魏文德以及公司其他高层管理人员于2007年2月9日上午9点在纽约市文华东方酒店举行的年度投资者关系大会上对康宁所服务的市场进行了分析。  相似文献   

6.
李华南 《光电子技术》1992,12(2):170-173
日本三菱电气公司新近开发了 a-Si TFT 的新工艺,为实现高性能 TFT LCD 创造了条件。下面作一介绍。1.制作工艺(1)TFT 结构TFTs 具有反相交错结构,图1为a-Si TFT 的剖面图。TFT 的 W/L 比为12μm/12μm。TFT LCD 的象素节距是318μm(V)×106μm(H),开口率为60%。  相似文献   

7.
TFT LCD行业标准的探讨   总被引:2,自引:2,他引:0  
1 引  言在飞速发展的信息时代 ,显示技术的应用非常广泛。占平板显示器主要市场份额的液晶显示器件 ( LCD)已经成为显示领域不可缺少的产品。随着液晶显示技术的发展 ,LCD的显示质量和容量进一步改善 ,已接近阴极射线显示器 ( CRT)的水平 ,LCD以其重量轻 ,能耗低 ,厚度薄等特性在计时、通信、办公、生活等各个领域得到了广泛的应用 ,并且是便携显示器发展的主要方向。目前我国已有各种从事液晶产业的企事业单位约 1 0 0多家 ,其中包括 L CD生产厂家 ,LCD材料、设备配套厂家 ,大学、研究所和研究中心等。在市场方面 ,目前我国是…  相似文献   

8.
主要阐述了LCD玻璃划线机工作原理和装配调试中所出现的误差情况;具体分析了各种误差会对LCD显示屏造成何种缺陷.根据LCD玻璃划线机结构,制定合理的测试误差方法,依据装配过程中的大量实测数据,做图分析,从图中分析了误差如何产生,并就较大的误差进行验证计算,找到系统误差的根源,指出了具体的改进措施.该误差分析方法及注意事项对相关LCD划线机的装配及测试具有重要的指导作用.  相似文献   

9.
降低LCD厚度的玻璃上芯片(COG)技术   总被引:3,自引:0,他引:3  
电子技术的迅猛发展推动着人类社会在通向信息化的大道上疾驶,人们愈来愈渴望降低产品的外形尺寸以形成微型组件,从而能够个断满足新一代可移动产品的要求,其中包括:蜂窝移动电话、GPS和手持式测试仪器。在这类产品中几乎都离个开此小问种类的显示屏,绝大多数的情况厂是采用LCD显示屏,它可以满足这类产品对通用性和低功率消耗量的需求。在平.期的产品市场卜所采用的L(”D显示屏基本卜为了历和固定的图像.而现如今f1)未来对可移动产品中的LCD显示反,提出了需要拥有可程序化的VGA图像的要求,它可用个问的尺寸大小,来满足个…  相似文献   

10.
本文的贴合工艺改变了原来的一款产品在五大工序统一Recipe的方式,创新性的通过产品参数组合设计的方式,在每一个独立的工序对具有相同工艺条件的产品进行Recipe的组合,分工序各自汇总成产品参数组,并进行Recipe NO.的统一命名,MES系统自动进行切换,提升生产连续性,各工序J/C次数平均降低20%。  相似文献   

11.
我国LCD贴片设备的发展历程与展望   总被引:3,自引:0,他引:3  
吉慧元 《电子工艺技术》2009,30(5):261-263,266
介绍了我国LCD及其装备业的发展现状和市场情况,同时也对LCD贴片工艺和相关设备的工作原理做了介绍.随后对我国LCD贴片机的发展历程做了详细的阐述,包括最初的手动贴片机、自动化程度更高的TP-120 LCD贴片机、TFT-LCD液晶贴片机、触摸屏贴附机的工作原理和关键技术,对国产中大尺寸的贴片机的工作原理和关键技术进行了分析,最后对我国贴片机的发展提出了展望和发展思路.  相似文献   

12.
LCD屏幕在生活中运用广泛,人们都青睐于它体积小、功耗低、质量轻的特点。LCD1602能够显示16×02个字符,所以命名为1602。通过编写汉字字库,甚至还能显示结构简单的汉字。在使用Arduino制作硬件系统,显示简单数据的时候,它无疑是Arduino的好搭档。文章将简单地介绍LCD1602在Arduino上的使用方法。  相似文献   

13.
机器视觉系统在LCD行业中的应用   总被引:2,自引:1,他引:1  
贺智 《电子工艺技术》2007,28(3):153-156
介绍了机器视觉系统的概念、组成、基本原理,从光学系统、相机、光源、图像采集卡及图像处理软件等方面详细阐述了机器视觉系统的设计要点,并结合LCD行业中的全自动玻璃分断机,分析了机器视觉系统的典型应用.  相似文献   

14.
介绍了液晶灌注的工艺,工作原理,并详细阐述了液晶灌注设备的技术特性,机械结构,电器控制等部分,其中分段抽真空以及消除液晶里的气泡是本设备的特点。  相似文献   

15.
LCD模块老化试验台的研制   总被引:1,自引:1,他引:0  
王宪伟 《液晶与显示》2005,20(4):350-354
研究了LCD模块老化试验台的工作原理及设计过程,采用主从式工作模式,利用多CPU结构特点,可对200块液晶屏同时进行老化试验。上位机管理20台下位机。针对不同类型的液晶屏。可以设置老化温度、时间、三路可调电源等。每台下位机由双CPU单片机系统组成,分别对10块液晶屏供电电源进行电流巡回检测、过流保护和驱动液晶屏显示。为适应未来产品改型要求.对老化台的线路和结构做了多方面的探讨.并提出一些提高老化台可靠性的方法。  相似文献   

16.
本文介绍了液晶电视作为显示设备,也就是彩色成像设备,必须实现独立的彩色再现。主要介绍修正的方法,以及其涉及到的相关标准,并且对液晶电视在彩色显示调整上的特点也即是灰度系数曲线校正进行重点的讨论。  相似文献   

17.
随着近几年液晶显示技术在诸多领域的广泛应用和新技术的推出,对液晶生产工艺的要求也越来越高。在液晶显示器的后工序生产制造中,裂片不良会造成产品直接报废,所以裂片是影响产品质量和生产效率的主要关键工序之一。现代化流水生产线对裂片工艺设备有高精度、高效率及高可靠性的要求。文章主要介绍了LCD玻璃后工序制程中的裂片工艺,针对现有裂片工艺设备所存在的缺陷,就所开发研制的裂片设备的关键技术和如何提高裂片的良品率做了分析。  相似文献   

18.
介绍液晶显示器模拟软件Visual LCD专业版及其应用,并举例计算了具有抗反射膜的反射式器件和采用负性薄膜补偿的超扭曲向列相液晶器件。  相似文献   

19.
磨抛工艺中HgCdTe晶片的表面损伤   总被引:5,自引:3,他引:2  
用X射线反射形貌术研究了磨抛工艺在用Te溶剂法和布里奇曼法生长的碲镉汞晶片表面引入的损伤,发现精磨精抛的HgCdTe晶片表面的损伤结构与切割、粗磨造成的损伤结构明显不同。根据实验结果分析,认为机械划痕是精磨精抛过程中的主要损伤结构,并提出一个新的表面损伤模型──表面不完全损伤模型。用X射线形貌相测出了精磨精抛HgCdTe晶片表面的平均损伤和最大损伤深度。结合压痕实验,确定了机械划痕周围的晶格应变区是高密度位错增殖区;在特定条件下,测出两者之间的比值约为5。最后讨论了最大损伤深度和平均损伤深度对探测器性能的影响。  相似文献   

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