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文章叙述了CMOS电路寄生可控硅现象的成因及其触发机理。针对实际测试情况,分析了测试过程中导致被测器件闩锁的原因。最后提出了相应的措施,从外部防止和克服CMOS电路闩锁的形成。 相似文献
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闩锁效应是体硅CMOS电路中最为严重的失效机理之一,而且随着器件特征尺寸越来越小,使得CMOS电路结构中的闩锁效应日益突出。以P阱CMOS反相器和CMOS集成电路的工艺结构为基础,采用可控硅等效电路模型,较为详细地分析了闩锁效应的形成机理,并利用试验证实,通过加深P阱深度,可以明显提升CMOS电路的抗闩锁性能。 相似文献
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以某整机在调试过程中发生的一只CMOS驱动门电路的闰锁失效为例,具体分析了测试仪器感应漏电引起CMOS电路闩锁的现象、机理和原因,具有一定的典型性。 相似文献
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随着位移测试系统日益复杂的发展和虚拟仪器的应用扩大化,文中以虚拟仪器作为技术平台,利用Lab-VIEW软件编写程序,设计液压系统位移测试系统。介绍测试系统的硬件组成及设计过程,给出其编写的程序框图和直观的前面板图,系统具有很强的可扩展性,该测试系统可以实现位移信号的数据采集、传送、存储、调用、分析和显示。并且通过现场试验表明此系统具有较强的实用性、可靠性和操作方便。能够满足教学、工业的需要。 相似文献
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本文首先提出,CMOS电路的最大动态功耗计算,可以通过计算在特定输入序列作用下电路中的不变门数的最小值来实现。本文提出的极性推导、赋值法可以快速求解不变门数的最小值,并生成相应的输入序列。该算法与电路的输入变量数无关。 相似文献
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本文在讨论了研究互连网测试系统结构的基础上,对测试领域的软件体系结构进行研究.介绍了VPP联盟的虚拟仪器软件结构,并总结了当前测试领域的软件体系结构.为适应网络化测试的需要,提出一种对网络化测试系统的解决方案--基于构件技术的分布式测试系统软件体系结构. 相似文献
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在高科技术的发展日新月异的今天,虚拟仪器技术的发展仍然相对缓慢,可谓是一个相关技术领域的重大难题.本文对虚拟仪器的进行了简单的介绍,并根据它目前的发展状况,解析他在实际发展中存在的一些问题,并结合研究实践提出虚拟仪器运用中的注意事项和问题的解决对策. 相似文献
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本文介绍了虚拟仪器.分布式测试系统以及分布式虚拟仪器测试系统的概念,讨论了基于以太网的分布式虚拟仪器的设计思路,从网络基础、通信结构、软件系统等方面探讨其实现方法,并预测分布式虚拟仪器的发展方向。 相似文献
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近年来,虚拟仪器在自动测试中的应用越来越广泛,基于VXI总线的虚拟仪器测试系统由于具有标准化程度高、兼容性强、可靠性好的特点,因此得到了快速发展。本文针对某型飞机电传操纵系统的测试需求,采用虚拟仪器技术,设计了一套基于VXI总线的测试系统。文章介绍了自动测试系统的总体构成、硬件实现以及软件设计,并着重考虑了系统安全性设计,保证在测试过程中,不会对飞机上被测设备产生损害。实践证明,该系统取得了测试精度高、测试速度快的良好效果。 相似文献
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阐述了在仪器领域将起重要作用的虚拟仪器VI的基本概念。由计算机和一些基本的软、硬件就可构成虚拟仪器系统。通过改变程序,可以获得测量所需的各类仪器。其优点是用户能根据不同要求自行设计仪器系统,灵活、高效。 相似文献
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