电子产品加速寿命试验研究

电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理...     

浅谈电子产品的可靠性试验

本文根据电子产品的可靠性特点，介绍了电子产品可靠性试验的几个技术性能指标，详细讨论了可靠性试验的分类原则、试验内容以及试验方法，说明了可靠性试验是提高产品可靠性的有效措施。     

二极管的加速寿命试验

加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。     

步进应力加速寿命试验数据处理方法研究

本文用ＤＢＡＳＥ语言编制了特征值时序处理程序，提出了用时序处理步进应力加速寿命试验数据的新方法。     

FBT的可靠性和加速寿命试验

一、FBT可靠性的改进回扫变压器（简称FBT）作为彩色电视机的三大件之一，是影响彩色电视机可靠性的重要部件。在对彩电失效模式分析和统计之后，因FBT的失效而导致彩电故障的比例几乎占一半。图1即为一年中彩电各种失效模式分布比例。图1彩电失效模式分布经过近十来年技术的发展，平统型基本上完全代替了以前槽绕型，产品的可靠性大大提高，其寿命大约提高45％。表1为平绕与槽绕方式优缺点的比较。与槽绕产品相比较，其可靠性提高主要通过以下几个途径。1．高压线圈采用完全平绕的绕线方式高压线圈采用分层平绕绕线方式，各层线圈之间…     

加速寿命试验参数估计的改进

本文对加速寿命试验中参数的估计，提出了一种新的改进方法，模拟结果说明改进方法优于国要示ＧＢ２６８９－８１提出的线性估计方法，一个实例说明了方法可行性。     

电子元器件加速寿命试验方法的比较

加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。     

基于加速寿命试验的磁耦隔离器耐压寿命评价方法

为解决磁耦隔离器耐压寿命评估的实际需求,开展了适用于磁耦隔离器的加速寿命试验与寿命评价。研究了影响磁耦隔离器耐压寿命的关键因素,分析了加速寿命试验的可行性与加速模型的选取。合理设计加速寿命试验方案中的应力类型、应力水平、截尾时间等,并按照设计的试验电路方案进行试验。利用采集到的试验数据,结合加速模型推导出电压-寿命之间的关系,实现磁耦隔离器耐压寿命的评估和可靠性评价。     

产品全寿命周期管理中的加速环境试验技术

加速环境试验技术已应用于电子、军工、航空、航天等领域内的可靠性工程中。将加速环境试验融入产品的设计、研制和生产中,对于提高产品的可靠性水平,增强其市场竞争能力具有现实意义。     

可靠性寿命试验的动态截尾方法

为节省试验时间和资源，可靠性寿命试验通常采用定数截尾和定时截尾两种方法。但是它们有相同的不足，就是在试验结束后才进行数据分析，无法进行实时的动态控制。为解决这一问题．提出了寿命试验的动态截尾方法，利用该方法研究寿命服从指数型分布产品的可靠性试验．提出了试验动态截尾的数据处理模型及判据。该方法的思想可以推广应用于其它产品的可靠性试验与分析中。     

循环序进应力加速寿命试验的统计分析

讨论了在产品寿命服从指数分布的情况下,循环序进应力加速寿命的分布函数及试验的数学模型．并给出了相应参数的估计。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

指数分布步加试验的贝叶斯估计

给出了一种基于Gibbs抽样、CE模型下指数分布场合步进应力加速寿命试验的贝叶斯估计.通过模拟例子表明贝叶斯估计比极大似然估计更加有效.     

电子产品加速寿命试验的一种优化设计

在两个未知参数的加速方程中,设定一个约束条件,以MLE渐进方差最小为准则。给出了指数分布（电子产品寿命数据）下k≥3个应力情况失效数据分配的最优设计。     

温度步进应力加速寿命试验研究

提出了一种温度步进威力加速寿命试验的方法,并分别基于阿伦尼斯模型、基本GM（1,1）模型、残差修正GM（1,1）模型对温度步进应力条件下特征寿命的点估计进行了讨论,最后用3种不同的方法对给出的实例进行了求解,说明了该方法在工程应用上的可行性和有效性。     

加速可靠性试验技术及其应用

加速可靠性试验是一项新兴的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比.从全寿命周期管理的需求出发,对加速可靠性试验技术进行了简要的介绍,讨论了加速可靠性试验对于加强军品质量控制的作用,介绍其研究现状,并对如何深入开展加速可靠性试验的研究与应用工作提出建议.     

Thermal Testing of Analogue Integrated Circuits: A Case Study

This paper discusses the use of temperature as a test observable for analogue circuits, presenting a generic configuration for analogue circuit thermal testing. As a case study, static temperature analysis is performed over a two-stage operational amplifier in view of extracting temperature waveforms at different locations on the circuit under test, both under fault-free conditions as well as in the presence of bridging faults. Exhaustive thermal analysis of all the likely bridging faults is presented, establishing the detectability ratio of this fault set using temperature under different sensing scenarios.