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CT局部重建算法发展综述 总被引:2,自引:0,他引:2
主要研究CT图像重建领域中的局部重建算法,介绍了最近十几年来局部重建算法的发展过程、目前的发展情况,以及局部重建算法的研究方向;重点介绍了几种通用的局部重建算法并对它们的重建结果进行了对比分析,最后对局部重建算法在工业CT领域中的应用进行了分析和介绍并对局部重建的发展进行了展望。 相似文献
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在工业CT断层图像缺陷检测应用中,提出了将数字高程模型DEM与伪彩色技术一起应用于二维灰度图像缺陷检测领域的算法流程。应用该算法流程,能够充分利用CT断层灰度图像信息,获得清晰的视觉检查效果,从而大大增强了系统检测缺陷的能力。在大型工业CT图像重建与检查分系统中采用该算法流程已经取得了较为理想的效果。 相似文献
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一种快速中值滤波算法在集装箱检查系统中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
讨论了一种新的中值滤波算法,有效地降低了传统中值滤波算法的时间复杂度,提高了计算效率和运算速度。该算法在大型集装箱检查图像处理中的应用,取得了良好的效果,提高了图像处理的速度,增强了图像处理的实时性。 相似文献
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本文介绍了一个用于低水平α放射性核素能谱分析的计算机程序,包括程序的数学表达式、计算方法和算法框图,以及应用实例,初步应用表明,该程序的解谱结果与标准混合核素源的参考值在计数统计涨落范围(3%-1%)内相吻合。 相似文献
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借助计算机模拟成像,通过分析不同情况下的图像重构,研究了抽样间距和投影数、重构算法、荧光测量等若干因素对图像重构质量的影响,并得出了一些有益的结果,对实际应用具有一定的参考意义。 相似文献
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介绍了移动式大型集装箱检测系统图像的几何矫正的算法,给出了矫正前后图像的比较分析,并讨论了图像放大的算法。由于这些算法的采用,图像质量得以提高。 相似文献
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介绍了三维显示和交互检查技术在大型工业CT图像检查中的应用,总结了目前工业CT三维图像显示领域主要应用的面绘制和体绘制方法,并分别对这两类主要的绘制算法进行了评价,重点对工业CT多断层图像数据三维显示的各个技术细节进行了具体的分析,并总结了大型工业CT图像检查分系统方案设计中存在的技术难点。 相似文献
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设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际X光斑位置与理论设计的偏差,以此为依据进行多次调整可使系统光斑调节到一合理位置。 相似文献
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介绍了用放射性同位素X射线荧光分析法检查了24K金饰品质量的简便方法,该方法使用^241Am和^238Pu两种辐射源进行两次测量。 相似文献
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对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究,是无损检测技术的一个重要应用领域,提出了一种新的成像方法,在现有微焦点X辐射成像系统的基础上,采用一种特殊的摆动式扫描方式,基于非线性的重建成像算法,具有扫描速度快,算法简单,实时性高等特点,适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测。 相似文献
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X射线数字分层成像的非线性方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究,是无损检测技术的一个重要应用领域,通过实验可观察到,在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性,提出了一种新的成像方法,可以提高灵敏度,非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体,使测量进间大大减少。 相似文献
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X光机辐射能谱的调制 总被引:2,自引:0,他引:2
本文从理论上分析了X光机输出射线的特性及影响初始谱分布的因素;提出了X光机辐射能谱调制的附加过滤法,K荧光辐射法、脉冲幅度甄别法和平衡差滤法,并对这些方法的原理及具体应用进行了较详细讨论。 相似文献
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X射线荧光光谱仪的现状 总被引:4,自引:1,他引:4
杨明太 《核电子学与探测技术》2006,26(6):1025-1029
综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能. 相似文献
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